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전자 장치용 디스플레이 장치 및 인증 방법

  • 기술번호 : KST2018012385
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 전자 장치용 디스플레이 장치는 유기발광소자 및 백플레인을 포함하며, 상기 백플레인은 상기 유기발광소자를 구동하는 구동 박막트랜지스터(Thin Film Transistor); 상기 구동 박막트랜지스터와 상기 유기발광소자 사이에 위치하는 커패시터; 제1 상부전극, 제1 하부전극 및 상기 제1 상부전극과 상기 제1 하부전극 사이에 위치된 광 흡수층을 포함하는 포토 디텍터를 포함하며, 상기 커패시터와 상기 포토 디텍터는 동일한 층에 형성된다.
Int. CL H01L 27/32 (2006.01.01) H01L 27/12 (2006.01.01) G06F 21/32 (2013.01.01) G06K 9/00 (2006.01.01)
CPC H01L 27/3227(2013.01) H01L 27/3227(2013.01) H01L 27/3227(2013.01) H01L 27/3227(2013.01) H01L 27/3227(2013.01) H01L 27/3227(2013.01)
출원번호/일자 1020170027484 (2017.03.03)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0100941 (2018.09.12) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.03.03)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유승협 대한민국 대전광역시 유성구
2 이현우 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김성호 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로 *** (역삼동,미진빌딩 *층)(KNP 특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2017.03.03 수리 (Accepted) 1-1-2017-0214787-01
2 보정요구서
Request for Amendment		 2017.03.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2017-0034039-94
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2017.03.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-0249752-12
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2018.04.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2018.06.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2018-0084124-49
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2018.07.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0444076-11
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2018.08.29 수리 (Accepted) 1-1-2018-0856244-46
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2018.08.29 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0856243-01
9 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal		 2018.12.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0894065-07
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2019.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2019-0209797-19
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2019.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2019-0311391-02
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2019.03.27 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-0311390-56
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
14 등록결정서
Decision to grant		 2019.07.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0538897-40
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
디스플레이 장치를 포함하는 전자 장치에 있어서, 상기 디스플레이 장치는,유기발광소자 및 백플레인을 포함하며,상기 백플레인은상기 유기발광소자를 구동하는 구동 박막트랜지스터(Thin Film Transistor);상기 구동 박막트랜지스터와 상기 유기발광소자 사이에 위치하는 커패시터; 및제1 상부전극, 제1 하부전극 및 상기 제1 상부전극과 상기 제1 하부전극 사이에 위치된 광 흡수층을 포함하는 포토 디텍터를 포함하며, 상기 커패시터와 상기 포토 디텍터는 동일한 층에 형성된 것을 특징으로 하고,상기 전자 장치는,사용자의 인증요청이 있으면, 상기 사용자의 지문의 이미지를 추출하고, 상기 사용자의 지문이 유효한 지문인 지를 판단하는 프로세서; 및상기 사용자의 지문이 유효한 지문이면 상기 사용자의 손가락으로부터 반사된 광 반사율을 추출하는 포토 디텍터를 포함하고,상기 프로세서는 상기 추출된 광 반사율이 미리 결정된 광 반사율의 범위를 벗어났는지 여부를 판단하고, 상기 추출된 광 반사율이 상기 미리 결정된 광 반사율의 범위 이내이면, 인증 성공에 따른 처리를 수행하는,전자 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 커패시터는 제2 상부전극, 제2 하부전극, 및 상기 제2 상부전극과 상기 제2 하부전극 사이에 위치한 절연층을 포함하는 전자 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 포토 디텍터의 제1 상부전극과 제1 하부전극은 상기 커패시터의 제2 상부전극과 제2 하부전극과 동일한 재료로 형성된 전자 장치
4 4
제 2항에 있어서,상기 커패시터의 제2 하부전극은 상기 구동 박막트랜지스터의 소스 또는 드레인 전극과 동일한 층에 위치하는 전자 장치
5 5
전자 장치에서의 인증 방법에 있어서,사용자의 인증요청이 있으면, 상기 사용자의 지문의 이미지를 추출하는 단계;상기 사용자의 지문이 유효한 지문인 지를 판단하는 단계;상기 사용자의 지문이 유효한 지문이면 상기 사용자의 손가락으로부터 반사된 광 반사율을 포토 디텍터를 통해 추출하는 단계;상기 추출된 광 반사율이 미리 결정된 광 반사율의 범위를 벗어났는지 여부를 판단하는 단계; 및상기 추출된 광 반사율이 상기 미리 결정된 광 반사율의 범위 이내이면, 인증 성공에 따른 처리를 수행하는 단계를 포함하는 인증 방법
6 6
제 5항에 있어서,상기 추출된 광 반사율이 미리 결정된 광 반사율의 범위를 벗어나면, 인증 실패에 따른 처리를 수행하는 단계를 포함하는 인증 방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 나노종합기술원 한국과학기술원부설나노종합기술원지원 나노 Open Innovation Lab 협력사업