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위상 검출기(Phase Detector)

  • 기술번호 : KST2017013714
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 위상 검출기를 개시한다.본 실시예에 의하면, 레퍼런스 클럭 신호와 피드백 클럭 신호의 위상차를 검출함에 있어서, 데드존에 의한 에러 발생을 감소시킬 수 있는 위상 검출기를 제공하는 데 주된 목적이 있다.
Int. CL H03L 7/085 (2017.02.28) H03L 7/081 (2017.02.28) G11C 7/22 (2017.02.28) G11C 11/4076 (2017.02.28)
CPC
출원번호/일자 1020170021833 (2017.02.17)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0096976 (2017.08.25) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020160018500   |   2016.02.17
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2017.02.17)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 류승탁 대한민국 대전광역시 유성구
2 조동신 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이철희 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로**길 **(역삼동) 베리타스빌딩, *-*층(베리타스국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2017-0168088-81
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.10.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.12.08 수리 (Accepted) 9-1-2017-0041470-84
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2018.03.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0192373-88
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.05.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0433946-24
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2018-0433918-56
7 등록결정서
Decision to grant
2018.08.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0554690-37
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기준 클럭신호와 입력 클럭신호의 하강 에지 구간 또는 상승 에지 구간 중 어느 하나의 에지 구간에서 샘플링 클럭신호에 응답하여 동일한 특정 시점에 상기 기준 클럭신호 및 상기 입력 클럭신호를 샘플링하는 샘플링부; 및상기 샘플링 클럭신호를 지연시킨 비교 클럭신호에 응답하여 상기 샘플링부에 의해 샘플링된 상기 기준 클럭신호 및 상기 입력 클럭신호의 크기를 비교하여 위상차 신호를 출력하는 비교기를 포함하는 위상 검출기
2 2
제1항에 있어서,상기 샘플링부는,상기 기준 클럭신호의 입력단자와 상기 비교기의 비반전 단자 사이에 연결되는 제1 트랜지스터;상기 비교기의 비반전 단자와 접지단자 사이에 연결되는 제1 캐패시터;상기 입력 클럭신호의 입력단자와 상기 비교기의 반전 단자 사이에 연결되는 제2 트랜지스터; 및상기 비교기의 반전 단자와 접지단자 사이에 연결되는 제2 캐패시터를 포함하는 위상 검출기
3 3
제2항에 있어서,상기 제1 트랜지스터는, 상기 기준 클럭신호의 입력단자에 연결되는 제1 전극, 상기 비교기의 비반전 단자에 연결되는 제2 전극 및 상기 샘플링 클럭신호가 인가되는 게이트 전극을 포함하고,상기 제2 트랜지스터는, 상기 입력 클럭신호의 입력단자에 연결되는 제1 전극, 상기 비교기의 반전 단자에 연결되는 제2 전극 및 상기 샘플링 클럭신호가 인가되는 게이트 전극을 포함하는 위상 검출기
4 4
제3항에 있어서,상기 제1 캐패시터는, 상기 제1 트랜지스터의 제2 전극과 상기 접지단자 사이에 연결되고, 상기 제2 캐패시터는, 상기 제2 트랜지스터의 제2 전극과 상기 접지단자 사이에 연결되는 위상 검출기
5 5
제2항에 있어서,상기 샘플링 클럭신호가 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터를 턴온시킴에 따라 상기 제1 캐패시터는 상기 특정 시점의 기준 클럭신호에 대응되는 전압값인 기준 전압신호를 생성하여 상기 비교기의 비반전 단자로 출력하고, 상기 제2 캐패시터는 상기 특정 시점의 입력 클럭신호에 대응되는 전압값인 입력 전압신호를 생성하여 상기 비교기의 반전 단자로 출력하는 위상 검출기
6 6
제2항에 있어서,직렬 연결된 복수개의 인버터 소자를 구비하여 상기 입력 클럭신호를 지연하여 상기 샘플링 클럭신호 및 상기 비교 클럭신호를 생성하는 인버터부를 더 포함하는 위상 검출기
7 7
제6항에 있어서,상기 인버터부는, 상기 입력 클럭신호의 입력단자와 상기 비교기 사이에 상기 입력 클럭신호의 입력단자로부터 순차로 직렬 연결된 제1 인버터, 제2 인버터 및 제3 인버터를 포함하고,상기 제1 인버터는 상기 입력 클럭신호를 입력받아 상기 샘플링 클럭신호를 출력하고, 상기 제3 인버터는 상기 비교 클럭신호를 출력하는 위상 검출기
8 8
기준 클럭신호 및 입력 클럭신호를 각각 분주하여 기준 클럭 분주신호, 제1 입력 클럭 분주신호 및 제2 입력 클럭 분주신호를 생성하는 분주부;상기 기준 클럭 분주신호와 상기 제1 입력 클럭 분주신호의 하강 에지 구간 또는 상승 에지 구간 중 어느 하나의 에지 구간에서 샘플링 클럭신호에 응답하여 동일한 특정 시점에 상기 기준 클럭 분주신호 및 상기 제1 입력 클럭 분주신호를 샘플링하는 샘플링부; 및상기 샘플링 클럭신호를 지연시킨 비교 클럭신호에 응답하여 상기 샘플링부에 의해 샘플링된 상기 기준 클럭 분주신호 및 상기 제1 입력 클럭 분주신호의 크기를 비교하여 위상차 신호를 출력하는 비교기를 포함하는 위상 검출기
9 9
제8항에 있어서,상기 샘플링부는,상기 기준 클럭 분주신호의 출력단자와 상기 비교기의 비반전 단자 사이에 연결되는 제1 트랜지스터;상기 비교기의 비반전 단자와 접지단자 사이에 연결되는 제1 캐패시터;상기 제1 입력 클럭 분주신호의 출력단자와 상기 비교기의 반전 단자 사이에 연결되는 제2 트랜지스터; 및상기 비교기의 반전 단자와 접지단자 사이에 연결되는 제2 캐패시터를 포함하는 위상 검출기
10 10
제9항에 있어서,상기 제1 트랜지스터는, 상기 기준 클럭 분주신호의 출력단자에 연결되는 제1 전극, 상기 비교기의 비반전 단자에 연결되는 제2 전극 및 상기 샘플링 클럭신호가 인가되는 게이트 전극을 포함하고,상기 제2 트랜지스터는, 상기 제1 입력 클럭 분주신호의 출력단자에 연결되는 제1 전극, 상기 비교기의 반전 단자에 연결되는 제2 전극 및 상기 샘플링 클럭신호가 인가되는 게이트 전극을 포함하는 위상 검출기
11 11
제10항에 있어서,상기 제1 캐패시터는, 상기 제1 트랜지스터의 제2 전극과 상기 접지단자 사이에 연결되고, 상기 제2 캐패시터는, 상기 제2 트랜지스터의 제2 전극과 상기 접지단자 사이에 연결되는 위상 검출기
12 12
제9항에 있어서,상기 샘플링 클럭신호가 상기 제1 트랜지스터 및 상기 제2 트랜지스터를 턴온시킴에 따라 상기 제1 캐패시터는 상기 특정 시점의 기준 클럭 분주신호에 대응되는 전압값인 기준 전압신호를 생성하여 상기 비교기의 비반전 단자로 출력하고, 상기 제2 캐패시터는 상기 특정 시점의 제1 입력 클럭 분주신호에 대응되는 전압값인 입력 전압신호를 생성하여 상기 비교기의 반전 단자로 출력하는 위상 검출기
13 13
제9항에 있어서,직렬 연결된 복수개의 인버터 소자를 구비하여 상기 제2 입력 클럭 분주신호를 지연하여 상기 비교 클럭신호를 생성하는 인버터부를 더 포함하는 위상 검출기
14 14
제13항에 있어서,상기 인버터부는, 상기 제2 입력 클럭 분주신호의 출력단자와 상기 비교기 사이에 상기 제2 입력 클럭 분주신호의 출력단자로부터 순차로 직렬 연결된 제1 인버터 및 제2 인버터를 포함하고, 상기 제2 인버터는, 상기 비교 클럭신호를 출력하는 위상 검출기
15 15
제8항에 있어서,상기 샘플링 클럭신호는 상기 제2 입력 클럭 분주신호인 위상 검출기
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 정보통신산업진흥원 정보통신산업진흥원 방송통신산업기술개발사업 초 광대역 기반 100Gbps급 칩 간 무선통신 시스템