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상변화층 스페이서를 갖는 상변화 메모리 소자 및 그제조방법

  • 기술번호 : KST2015098304
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 상변화층 스페이서를 갖는 상변화 메모리 소자를 제공한다. 본 발명은 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분으로 한정된 반도체 기판을 포함한다. 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분에는 제1 하부 전극 및 제1 발열 전극이 순차적으로 형성되어 있고, 상기 제1 발열 전극 상에는 외측으로 기울기를 갖게 제1 상변화층 스페이서가 형성되어 있다. 상기 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분에는 제2 하부 전극 및 제2 발열 전극이 순차적으로 형성되어 있고, 상기 제2 발열 전극 상에는 외측으로 기울기를 갖고 상기 제1 상변화층 스페이서와 대향하게 제2 상변화층 스페이서가 형성되어 있다. 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자는 매몰 절연층으로 절연된다. 상기 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서 상에는 상부 전극이 형성되어 있다. 이에 따라, 본 발명은 외측으로 기울기를 갖는 스페이서 형태로 상변화층 스페이서를 구비하여 단위 상변화 메모리 소자들 간에 미스 얼라인을 방지하고, 디자인 룰이 감소하더라도 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서간의 전기적 연결에 의한 쇼트를 방지할 수 있다.
Int. CL H01L 27/115 (2006.01)
CPC H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01)
출원번호/일자 1020050118054 (2005.12.06)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0651756-0000 (2006.11.23)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20061201) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.12.06)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박영삼 대한민국 대전 서구
2 윤성민 대한민국 대전 서구
3 류상욱 대한민국 대전 유성구
4 이남열 대한민국 대전 유성구
5 최규정 대한민국 대전 유성구
6 이승윤 대한민국 대전 유성구
7 유병곤 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.12.06 수리 (Accepted) 1-1-2005-0711565-26
2 등록결정서
Decision to grant
2006.10.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0633227-83
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
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제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분으로 한정된 반도체 기판;상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분에 순차적으로 형성된 제1 하부 전극 및 제1 발열 전극, 상기 제1 발열 전극 상에 외측으로 기울기를 갖게 형성된 제1 상변화층 스페이서;상기 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분에 순차적으로 형성된 제2 하부 전극 및 제2 발열 전극; 상기 제2 발열 전극 상에 외측으로 기울기를 갖게 형성되고 상기 제1 상변화층 스페이서와 대향하게 형성된 제2 상변화층 스페이서;상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분의 제1 하부 전극, 제1 발열전극 및 제1 상변화층 스페이서와, 상기 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 제2 하부 전극, 제2 발열전극 및 제2 상변화층 스페이서를 절연하는 매몰 절연층; 및 상기 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서 상에 형성된 상부 전극을 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 상부 전극은 상기 제1 상변화층 스페이서 및 상기 제2 상변화층 스페이서 상에서 연결되어 형성되어 있고, 상기 연결되어 형성된 상부 전극에 의해 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 비트 동작이 모두 제어되는 멀티 비트 동작이 가능한 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
3 3
제1항에 있어서, 상기 상부 전극은 상기 제1 상변화층 스페이서 및 상기 제2 상변화층 스페이서 상에서 분리되어 형성되어 있고, 상기 분리되어 형성된 상부 전극에 의해 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 비트 동작이 각각 제어되는 싱글 비트 동작이 가능한 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
4 4
제1항에 있어서, 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 제1 발열 전극 및 제2 발열 전극 상에 상기 매몰 절연층의 양측에 접하여 절연층 패턴들이 더 형성되어 있고, 상기 절연층 패턴들의 일측벽에 외측으로 각각 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
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제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분으로 한정된 반도체 기판 상에 하부 전극용 제1 도전막 및 발열 전극용 제2 도전막을 순차적으로 형성하는 단계;상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 경계 부분의 상기 제2 도전막 상에 제1 절연층 패턴을 형성하는 단계;상기 제1 절연층 패턴의 외측벽에, 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분의 제1 상변화층 스페이서 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 제2 상변화층 스페이서를 형성하는 단계;상기 제2 도전막 및 제1 도전막을 패터닝하여 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분에 제1 하부 전극 및 제1 발열전극을 형성하고, 상기 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분에 제2 하부 전극 및 제2 발열 전극을 형성하고, 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분 사이에는 홀을 형성하는 단계;상기 홀에 절연 물질층을 매립하여 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분을 절연하는 매몰 절연층을 형성하는 단계; 및 상기 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서 상에 상부 전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
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제5항에 있어서, 상기 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서는 상기 제1 절연층 패턴이 형성된 반도체 기판의 전면에 상변화층을 형성하고, 상기 상변화층을 스페이서 식각하여 형성함으로써 상기 단위 상변화 메모리 소자 부분들 간의 미스얼라인을 방지하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
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제5항에 있어서, 상기 매몰 절연층은 상기 홀을 매립함과 아울러 상기 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서 상부로 절연층을 형성하는 단계와, 상기 절연층을 평탄화하여 형성하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
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제5항에 있어서, 상기 상부 전극은 상기 제1 상변화층 스페이서 및 상기 제2 상변화층 스페이서 상에서 연결되어 형성함으로써 상기 연결되어 형성된 상부 전극에 의해 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 비트 동작이 모두 제어되는 멀티 비트 동작이 가능한 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
9 9
제5항에 있어서, 상기 상부 전극은 상기 제1 상변화층 스페이서 및 상기 제2 상변화층 스페이서 상에서 분리되어 형성함으로써 상기 분리되어 형성된 상부 전극에 의해 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분의 비트 동작이 각각 제어되는 싱글 비트 동작이 가능한 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
10 10
제5항에 있어서, 상기 제2 도전막 및 제1 도전막을 패터닝시 상기 제1 상변화층 스페이서 및 제2 상변화층 스페이서를 식각 마스크로 상기 제2 도전막 및 제1 도전막을 식각함과 아울러 상기 제1 절연층 패턴을 제거하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
11 11
제5항에 있어서, 상기 제2 도전막 및 제1 도전막을 패터닝시 상기 제1 절연층 패턴을 일부 남김으로써 상기 제1 단위 상변화 메모리 소자 부분 및 제2 단위 상변화 메모리 소자 부분에 각각 제2 절연층 패턴 및 제3 절연층 패턴을 형성하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.