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집적회로 장치에 흐르는 전류를 테스트하기 위한 내장형전류 검사 회로

  • 기술번호 : KST2015131044
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 집적회로 장치에 흐르는 전류를 테스트하기 위한 내장형 전류 검사 회로에 관한 것이다. 본 발명은 검사 대상 회로로부터 출력되는 검사 대상 전류 및 외부의 테스트 제어 신호를 입력하고, 상기 테스트 제어 신호에 응답하여 상기 검사 대상 전류를 출력하는 동작 모드 설정부; 및 외부의 기준 전류 및 상기 동작 모드 설정부로부터 출력되는 검사 대상 전류를 입력하고, 상기 검사 대상 전류의 크기를 상기 기준 전류의 크기와 비교하고, 상기 비교 결과에 따라 상기 검사 대상 전류의 양,불량을 판단하는 전류 판단부를 구비함으로써, 검사 대상 회로의 성능 저하가 최소화되며, 검사 대상 전류를 측정하는 시간이 빠르다.
Int. CL G01R 31/28 (2000.01)
CPC G01R 31/3012(2013.01) G01R 31/3012(2013.01)
출원번호/일자 1020050096380 (2005.10.13)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0791623-0000 (2007.12.27)
공개번호/일자 10-2007-0040875 (2007.04.18) 문서열기
공고번호/일자 (20080104) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.10.13)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 성만영 대한민국 서울 중랑구
2 유장우 대한민국 서울 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 현종철 대한민국 서울특별시 중구 다산로 **, *층 특허법인충현 (신당동, 두지빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 성만영 서울시 중랑구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2005.10.13 수리 (Accepted) 1-1-2005-0578092-00
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2006.10.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0641626-29
3 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 2007.01.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0003284-19
4 의견서
Written Opinion		 2007.01.02 수리 (Accepted) 1-1-2007-0003285-54
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.03.22 수리 (Accepted) 4-1-2007-5043540-16
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2007.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0279327-70
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2007.07.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0526497-04
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2007.07.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0526496-58
9 등록결정서
Decision to grant		 2007.11.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0638471-13
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.03.05 수리 (Accepted) 4-1-2008-5034712-96
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.06.09 수리 (Accepted) 4-1-2009-5111177-32
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
검사 대상 회로로부터 출력되는 검사 대상 전류 및 외부의 테스트 제어 신호를 입력하고, 상기 테스트 제어 신호에 응답하여 상기 검사 대상 전류를 출력하는 동작 모드 제어부;기준 전류 및 상기 동작 모드 제어부로부터 출력되는 검사 대상 전류를 입력하고, 상기 검사 대상 전류의 크기를 상기 기준 전류의 크기와 비교하고, 상기 비교 결과에 따라 상기 검사 대상 전류의 양,불량을 판단하는 전류 판단부;기준 전압을 발생하고, 복수의 퓨즈들을 구비하며, 상기 퓨즈들의 연결 상태에 따라 상기 기준 전압의 크기를 변경하여 출력할 수 있는 기준 전압 발생부; 및 상기 기준 전압을 받아서 상기 기준 전류를 발생하는 기준 전류 발생부를 구비하는 것을 특징으로 하는 내장형 전류 검사 회로
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서, 상기 전류 판단부로부터 출력되는 전류를 버퍼링하는 버퍼를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 내장형 전류 검사 회로
5 5
제1항에 있어서, 상기 동작 모드 제어부는상기 검사 대상 회로로부터 과도 전류가 출력될 경우에는 비활성화되어 상기 검사 대상 전류를 출력하지 않는 것을 특징으로 하는 내장형 전류 검사 회로
6 6
제1항에 있어서, 상기 전류 판단부는상기 검사 대상 전류를 입력하는 제1 전류 미러; 및상기 제1 전류 미러의 출력단에 연결되며, 상기 기준 전류를 입력하고 상기 기준 전류와 상기 검사 대상 전류의 차를 출력하는 제2 전류 미러를 구비하는 것을 특징으로 하는 내장형 전류 검사 회로
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.