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수직 집적 다층 전면-게이트 나노선 구조 기반의 커패시터리스 디램 및 그 제작 방법

  • 기술번호 : KST2018007103
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 일실시예에 따르면, 수직 집적 다층 전면-게이트 나노선 구조(Vertically integrated multiple gate-all-around nanowire structure) 기반의 커패시터리스 디램 제작 방법은 기판에 복수의 나노선들이 수직으로 집적된 수직 집적 다층 나노선 채널을 형성하는 단계; 상기 수직 집적 다층 나노선 채널에 층간 절연막(Interlayer dielectric; ILD)을 형성하는 단계; 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 적어도 일부가 노출되도록 상기 층간 절연막에 홀을 생성하는 단계; 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 노출된 적어도 일부를 감싸며 상기 홀이 채워지도록 상기 층간 절연막 상에 게이트 유전막을 형성하는 단계; 및 상기 기판에 이온 주입을 통하여 소스-드레인을 형성하는 단계를 포함한다.
Int. CL H01L 27/108 (2006.01.01) H01L 27/088 (2006.01.01) H01L 29/06 (2006.01.01) H01L 29/423 (2006.01.01) H01L 21/265 (2006.01.01) H01L 21/3065 (2006.01.01) H01L 21/304 (2006.01.01) H01L 21/306 (2006.01.01) H01L 21/8234 (2006.01.01)
CPC H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01) H01L 27/108(2013.01)
출원번호/일자 1020160157998 (2016.11.25)
출원인 한국과학기술원, 재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0058976 (2018.06.04) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.11.25)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
2 재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최양규 대한민국 대전광역시 유성구
2 서명수 대한민국 대전광역시 유성구
3 이병현 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
2 재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2016-1154786-58
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2017-0007193-44
4 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2017.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2017-1183185-32
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.12.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0901555-98
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2018.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2018-0197623-12
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2018-0296263-23
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.03.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0296264-79
9 등록결정서
Decision to grant
2018.07.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0510118-23
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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수직 집적 다층 전면 게이트 나노선 구조(Vertically integrated multiple gate-all-around nanowire structure) 기반의 커패시터리스 디램 제작 방법에 있어서,기판에 복수의 나노선들이 수직으로 집적된 수직 집적 다층 나노선 채널을 형성하는 단계; 상기 수직 집적 다층 나노선 채널에 층간 절연막(Interlayer dielectric; ILD)을 형성하는 단계; 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 적어도 일부가 노출되도록 상기 층간 절연막에 홀을 생성하는 단계; 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 노출된 적어도 일부를 감싸며 상기 홀이 채워지도록 상기 층간 절연막 상에 게이트 유전막을 형성하는 단계; 및 상기 기판에 이온 주입을 통하여 소스 및 드레인을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 적어도 일부가 노출되도록 상기 층간 절연막에 홀을 생성하는 단계는 상기 수직 집적 다층 나노선 채널을 중심으로 양쪽 영역에 미리 설정된 깊이의 패턴들이 형성되도록 상기 층간 절연막 상에 노광 공정 및 건식 식각 공정을 수행하는 단계; 및 상기 미리 설정된 깊이의 패턴들이 병합되어 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 적어도 일부가 노출되는 상기 홀이 생성되도록 상기 미리 설정된 깊이의 패턴들 사이에 위치하는 층간 절연막에 습식 식각 공정을 수행하는 단계를 포함하며, 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 적어도 일부가 노출되도록 상기 층간 절연막에 홀을 생성하는 단계는 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 아래 원치 않는 누설 전류의 통로를 차단하기 위해, 상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 상기 기판에 인접한 나노선 채널 및 상기 기판 사이의 상기 층간 절연막을 잔류시키는 단계를 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
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제1항에 있어서,상기 기판에 이온 주입을 통하여 소스 및 드레인을 형성하는 단계는 상기 수직 집적 다층 나노선 채널에 이온 주입되는 것을 보호하기 위하여, 상기 게이트 유전막 상에 질화막 및 산화막을 증착하는 단계를 더 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
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제2항에 있어서,상기 기판에 이온 주입을 통하여 소스 및 드레인을 형성하는 단계는 상기 게이트 유전막 및 상기 소스 및 드레인에 열 공정을 진행하는 단계를 더 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
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제1항에 있어서,상기 기판에 복수의 나노선들이 수직으로 집적된 수직 집적 다층 나노선 채널을 형성하는 단계는 상기 기판 상에 활성층의 형태에 따라 산화막을 증착하는 단계; 및 상기 산화막을 마스크로 이용하여 상기 기판에 일괄 플라즈마 건식 식각 공정(Plasma-based one-route all-dry etching process)을 진행하는 단계를 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 산화막을 마스크로 이용하여 상기 기판에 상기 일괄 플라즈마 건식 식각 공정을 진행하는 단계는 상기 기판에 고분자중합체를 이용하여 비등방성(Anisotropic) 식각 공정을 수행하여 보호막을 형성하는 단계; 및 육불화황(Sulfur hexafluoride; SF6) 가스를 이용하여 상기 기판에 등방성(Isotropic) 식각 공정을 수행하는 단계를 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
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제5항에 있어서,상기 육불화황 가스를 이용하여 상기 기판에 등방성 식각 공정을 수행하는 단계는 상기 기판의 상면 중 상기 산화막이 증착된 영역을 제외한 나머지 영역 및 상기 기판의 측면 사이의 식각율 차이를 이용하여, 상기 기판의 양끝단에 의해 지탱된 채 공중에 떠있는 나노선을 형성하는 단계를 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
7 7
제5항에 있어서,상기 산화막을 마스크로 이용하여 상기 기판에 상기 일괄 플라즈마 건식 식각 공정을 진행하는 단계는 상기 복수의 나노선들이 수직으로 집적된 상기 수직 집적 다층 나노선 채널이 형성되도록 상기 기판에 상기 일괄 플라즈마 건식 식각 공정을 반복적으로 진행하는 단계를 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
8 8
제4항에 있어서,상기 기판 상에 활성층의 형태에 따라 산화막을 증착하는 단계는 상기 산화막을 마스크로 이용하여, 상기 산화막이 증착된 기판에 포지티브 감광성 수지(Positive photoresist)를 기반으로 하는 노광 공정을 수행하는 단계를 더 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
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제1항에 있어서,상기 수직 집적 다층 나노선 채널에 층간 절연막을 형성하는 단계는 활성층의 형태를 갖는 마스크를 이용하여, 상기 층간 절연막에 네거티브 감광성 수지(Negative photoresist)를 기반으로 하는 노광 공정을 수행하는 단계; 상기 활성층 및 비활성층 사이의 단차를 감소시키기 위하여 상기 층간 절연막에 건식 식각 공정을 진행하는 단계; 및 화학적 기계적 연마(Chemical mechanical polishing; CMP) 공정을 통하여 상기 층간 절연막을 평탄화시키는 단계를 더 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
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제1항에 있어서,상기 수직 집적 다층 나노선 채널 중 노출된 적어도 일부를 감싸며 상기 홀이 채워지도록 상기 층간 절연막 상에 게이트 유전막을 형성하는 단계는 화학적 기계적 연마 공정을 통하여 상기 게이트 유전막을 평탄화 시키는 단계; 및 게이트 전극을 형성하도록 상기 게이트 유전막 상에 노광 공정 및 건식 식각 공정을 수행하는 단계를 더 포함하는 커패시터리스 디램 제작 방법
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국가 R&D 정보가 없습니다.