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절연 나노입자를 이용한 상변화 메모리 소자, 플렉서블 상변화 메모리 소자 및 그 제조방법(phase-change memory device, flexible phase-change memory device using insulating nano-dot and manufacturing method for the same)

  • 기술번호 : KST2016021263
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 절연 나노입자를 이용한 상변화 메모리 소자, 플렉서블 상변화 메모리 소자 및 그 제조방법이 제공된다. 본 발명에 따른 절연 나노입자를 이용한 상변화 메모리 소자는 전극 및 상기 전극과 접촉하며, 상기 전극으로부터 발생한 열에 따라 상변화가 발생하는 상변화층을 포함하는 상변화 메모리 소자에 있어서, 상기 전극과 결정화 및 비정질화가 일어나는 상변화층 사이에는 자기조립 블록공중합체로부터 형성된 절연 나노입자가 구비되는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 45/00 (2006.01) B82Y 10/00 (2011.01)
CPC
출원번호/일자 1020160172759 (2016.12.16)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2016-0150282 (2016.12.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2012-0010649 (2012.02.02)
관련 출원번호 1020120010649
심사청구여부/일자 Y (2016.12.16)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이건재 대한민국 대전광역시 유성구
2 유병국 대한민국 대전광역시 유성구
3 문범호 대한민국 대전광역시 유성구
4 황건태 대한민국 대전광역시 유성구
5 정재원 대한민국 대전광역시 유성구
6 최재석 대한민국 대전광역시 유성구
7 정연식 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 다해 대한민국 서울시 서초구 서운로**, ***호(서초동, 중앙로얄오피스텔)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2016.12.16 수리 (Accepted) 1-1-2016-1238202-65
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0073708-32
3 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.03.30 수리 (Accepted) 1-1-2017-0310813-20
4 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2017-0428515-18
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2017.05.31 수리 (Accepted) 1-1-2017-0521664-17
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.10.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0721571-41
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전극 및 상기 전극과 접촉하며, 상기 전극으로부터 발생한 열에 따라 상변화가 발생하는 상변화층을 포함하는 상변화 메모리 소자에 있어서,상기 전극과 결정화 및 비정질화가 일어나는 상변화층 사이에는 자기조립 블록공중합체로부터 형성된 절연 나노입자가 구비되며,액상으로 도포되는 블록공중합체는 실리콘과 같은 무기물질을 함유함으로써 산소 플라즈마 식각 공정에 의하여 무기산화물의 절연 나노입자를 형성하고,상기 액상의 블록공중합체는 소정 형태로 정렬되어, 소정의 크기와 형태를 가지는 블록 영역을 가지며, 상기 블록공중합체는 상기 산소 플라즈마 식각 공정에 의하여 패터닝되어 실리콘 함유 중합체 블록이 나노입자 형태의 실리콘 산화물로 산화되며,상기 블록공중합체를 패터닝하는 공정에서, 상기 전극 상에 남게 되는 중합체 블록은 상기 상변화층과 전극 사이의 접촉면적을 감소시켜 리셋 전류를 줄임에 따라 메모리의 소모전력을 감소시키는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
2 2
제 1항에 있어서, 상기 전극은 상기 상변화층 아래의 하부전극인 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
3 3
제 1항에 있어서, 상기 패터닝은 자기조립된 상기 블록공중합체의 특정 중합체 블록을 제거하는 방식으로 수행되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
4 4
제 3항에 있어서, 상기 제거된 중합체 블록 영역에서 상기 상변화층과 전극은 접촉하며, 상기 전극에서 발생한 열에 따라 상기 상변화층의 결정형이 변화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
5 5
제 1항에 있어서, 상기 액상으로 도포되는 블록공중합체는 균일한 간격과 크기의 일정한 형태로 패터닝된 블록공중합체 기반 절연 나노입자로 상기 전극 상에 구비되는, 상변화 메모리 소자
6 6
제 1항에 있어서, 상기 블록공중합체는 실리콘 함유 블록공중합체이며, 상기 절연 나노입자는 실리콘 산화물을 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
7 7
제 6항에 있어서, 상기 블록공중합체는 폴리스티렌-폴리디메틸실록산 또는 폴리스티렌- 폴리페로세이닐실란인 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자
8 8
제 1항 내지 제 7항 중 어느 한 항에 따른 상변화 메모리 소자가 플렉서블 기판 상에 구비된 플렉서블 상변화 메모리 소자
9 9
상변화층 및 상기 상변화층에 열을 인가하여 상기 상변화층 물질의 결정화 또는 비정질화를 발생시키는 전극을 포함하는 상변화 메모리 소자의 제조방법에 있어서, 전극 상에 액상의 블록공중합체를 도포한 후, 어닐링하여 자기조립시키는 단계;자기조립된 상기 블록공중합체의 일부 중합체 블록을 제거하여 절연 나노입자를 형성하는 단계; 및상기 전극 및 절연 나노입자 상에 상변화층을 적층하는 단계;를 포함하며, 상기 블록공중합체는 실리콘과 같은 무기물질을 함유함으로써 산소 플라즈마 식각 공정에 의하여 무기산화물의 절연 나노입자를 형성하며,상기 어닐링을 통하여 상기 액상의 블록공중합체는 소정 형태로 정렬되어, 소정의 크기와 형태를 가지는 블록 영역을 가지며,상기 블록공중합체를 패터닝하는 공정은 상기 산소 플라즈마 식각에 의하여 실리콘 함유 중합체 블록이 나노입자 형태의 실리콘 산화물로 산화되며,상기 블록공중합체를 패터닝하는 공정에서, 상기 전극 상에 남게 되는 중합체 블록은 상기 상변화층과 전극 사이의 접촉면적을 감소시켜 리셋 전류를 줄임에 따라 메모리의 소모전력을 감소시키고,여기에서 상기 제거된 블록 영역에서 상기 상변화층과 전극은 서로 접촉하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
10 10
제 9항에 있어서, 상기 방법은상기 전극 상에 브러쉬층을 적층하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
11 11
제 9항에 있어서, 상기 전극은 질화티타늄(TiN), 상기 상변화층은 칼코게나이드 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
12 12
제 9항에 있어서, 상기 블록공중합체는 폴리스티렌-폴리디메틸실록산 공중합체, 폴리(2-비닐피리딘)-폴리디메틸실록산, 폴리스티렌- 폴리페로세이닐실란으로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법
13 13
제 9항 내지 제 12항 중 어느 한 항에 따른 방법에 의하여 제조된 상변화 메모리 소자
14 14
플렉서블 상변화 메모리 소자로서, 상기 소자는 플렉서블 기판; 및상기 플렉서블 기판에 구비되며, 상변화층 및 하부전극을 포함하는 상변화 메모리 소자를 포함하며, 여기에서 상기 상변화층 및 하부전극 사이에는 블록공중합체로부터 형성된 절연 나노입자가 구비되며,액상으로 도포되는 블록공중합체는 실리콘과 같은 무기물질을 함유함으로써 산소 플라즈마 식각 공정에 의하여 무기산화물의 절연 나노입자를 형성하고,상기 액상의 블록공중합체는 소정 형태로 정렬되어, 소정의 크기와 형태를 가지는 블록 영역을 가지며, 상기 블록공중합체는 상기 산소 플라즈마 식각에 의하여 실리콘 함유 중합체 블록이 나노입자 형태의 실리콘 산화물로 산화되며,상기 블록공중합체를 패터닝하는 공정에서, 상기 하부전극 상에 남게 되는 중합체 블록은 상기 상변화층과 하부전극 사이의 접촉면적을 감소시켜 리셋 전류를 줄임에 따라 메모리의 소모전력을 감소시키는 것을 특징으로 하는 플렉서블 상변화 메모리 소자
15 15
제 14항에 있어서, 상기 상변화 메모리 소자는 유연한 실리콘 반도체; 상기 실리콘 반도체 상에 형성된 소스/드레인 도핑층;상기 소스/드레인 도핑층의 도핑영역에 각각 연결된 워드라인 전극 및 비트라인 전극; 및상기 비트라인 전극 상에 순차적으로 적층된 하부전극과 상변화층을 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉서블 상변화 메모리 소자
16 16
제 15항에 있어서, 상기 실리콘 반도체는 단결정 실리콘인 것을 특징으로 하는 플렉서블 상변화 메모리 소자
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR101202506 KR 대한민국 FAMILY
2 KR101290003 KR 대한민국 FAMILY
3 KR1020120095782 KR 대한민국 FAMILY
4 US08822970 US 미국 FAMILY
5 US20130001502 US 미국 FAMILY

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