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비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2014011555
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법에 관한 것이다. 이러한 본 발명에 따른 비휘발성 메모리 셀은 기판, 기판의 활성영역 상에 형성된 제1산화막, 활성영역 내에 형성된 소오스와 드레인, 제1산화막 상에 형성된 전하저장부, 전하저장부를 포위하고, 제1산화막 상에 형성된 제2산화막 및 제2산화막을 포위하도록 형성된 게이트를 포함한다. 이러한 본 발명에 따른 비휘발성 메모리 셀, 이를 포함하는 셀 어레이는 전하저장부가 게이트 또는 게이트라인에 의해 완전히 포위됨으로써, 인접한 다른 게이트 또는 게이트라인 내부에 형성된 셀에 의한 메모리 동작으로 발생할 수 있는 셀간 간섭현상을 최소화 할 수 있다. 게이트 라인, 탄소나노튜브(carbon nanotube), 플러린(fullerene), 나노결정
Int. CL H01L 27/115 (2011.01) H01L 21/8247 (2011.01) B82Y 10/00 (2011.01)
CPC H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01)
출원번호/일자 1020070024835 (2007.03.14)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-0897515-0000 (2009.05.07)
공개번호/일자 10-2008-0083945 (2008.09.19) 문서열기
공고번호/일자 (20090515) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.03.14)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최양규 대한민국 대전 유성구
2 김국환 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김성호 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로 *** (역삼동,미진빌딩 *층)(KNP 특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.03.14 수리 (Accepted) 1-1-2007-0204570-76
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.01.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0040309-55
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2008-0125387-75
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.02.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0125407-01
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0390550-17
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.09.24 수리 (Accepted) 1-1-2008-0671344-29
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2009.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0043153-89
8 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2009.03.31 보정승인 (Acceptance of amendment) 7-1-2009-0015191-51
9 등록결정서
Decision to grant
2009.05.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0191243-72
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판; 상기 기판의 활성영역 상에 형성된 제1 산화막; 상기 활성영역 내에 형성된 소오스와 드레인; 상기 제1 산화막상에 형성된 전하저장부; 상기 전하저장부를 포위하고, 상기 제1 산화막상에 형성된 제2 산화막; 및 상기 제2 산화막을 포위하도록 형성된 게이트를 포함하고, 상기 게이트는 4
2 2
제1항에 있어서, 상기 전하저장부는, 탄소나노튜브(Carbon Nano Tube, CNT), 플러린(fullerene), 질화물 또는 나노결정물질로 이루어진, 비휘발성 메모리 셀
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
기판; 상기 기판에 복수의 활성영역을 한정하는 소자분리부; 상기 복수의 활성영역 내에 형성된 소오스와 드레인; 상기 복수의 활성영역상에 형성된 제1 산화막; 상기 제1 산화막상에 형성된 전하저장부; 상기 전하저장부를 포위하고, 상기 제1 산화막상에 형성된 제2 산화막; 및 동일한 신호처리 라인에 위치한 복수의 상기 제2 산화막을 포위하고, 서로 전기적으로 연결시키는 게이트라인을 포함하고, 상기 게이트라인은 4
6 6
제5항에 있어서, 상기 전하저장부는, 탄소나노튜브(Carbon Nano Tube, CNT), 플러린(fullerene), 질화물 또는 나노결정물질로 이루어진, 비휘발성 메모리 셀 어레이
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
(a) 기판 상에 순차적으로 제1산화막, 전하저장부 및 상기 전하저장부를 포위하는 제2산화막을 형성하는 단계; (b) 상기 제2산화막 상에 제1게이트물질을 형성하는 단계; (c) 상기 제1게이트물질 상에 식각마스크막을 형성하고, 상기 식각마스크막을 패터닝하는 단계; (d) 상기 식각마스크막을 마스크로 하여 상기 기판에 트렌치(trench)가 형성되도록 식각하는 단계; (e) 상기 트렌치 상에 활성영역을 한정하는 소자분리부를 형성하는 단계; (f) 상기 식각마스크막을 제거하는 단계; (g) 동일한 신호처리 라인에 형성된 상기 제1게이트물질이 전기적으로 연결되도록 제2게이트물질을 형성하는 단계; 및 (h) 상기 기판의 활성영역들 내에 소오스와 드레인을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제1 게이트물질 또는 상기 제2 게이트물질은, 4
10 10
제9항에 있어서, 상기 (e)단계는, 상기 트렌치와 상기 식각마스크막 상에 트렌치매립절연물질을 형성하는 단계; 및 상기 트렌치매립절연물질을 평탄화 또는 식각하여 상기 소자분리부를 형성하는 단계 를 포함하는, 비휘발성 메모리 어레이의 제조방법
11 11
제9항에 있어서, 상기 전하저장부는, 탄소나노튜브, 플러린, 질화물 또는 나노결정인, 비휘발성 메모리 셀 어레이의 제조방법
12 12
삭제
13 13
삭제
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP20227509 JP 일본 FAMILY
2 US08008706 US 미국 FAMILY
3 US20080277719 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN101267002 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN101267002 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 JP2008227509 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 US2008277719 US 미국 DOCDBFAMILY
5 US8008706 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.