요약 | 본 발명은 비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법에 관한 것이다. 이러한 본 발명에 따른 비휘발성 메모리 셀은 기판, 기판의 활성영역 상에 형성된 제1산화막, 활성영역 내에 형성된 소오스와 드레인, 제1산화막 상에 형성된 전하저장부, 전하저장부를 포위하고, 제1산화막 상에 형성된 제2산화막 및 제2산화막을 포위하도록 형성된 게이트를 포함한다. 이러한 본 발명에 따른 비휘발성 메모리 셀, 이를 포함하는 셀 어레이는 전하저장부가 게이트 또는 게이트라인에 의해 완전히 포위됨으로써, 인접한 다른 게이트 또는 게이트라인 내부에 형성된 셀에 의한 메모리 동작으로 발생할 수 있는 셀간 간섭현상을 최소화 할 수 있다. 게이트 라인, 탄소나노튜브(carbon nanotube), 플러린(fullerene), 나노결정 |
---|---|
Int. CL | H01L 27/115 (2011.01) H01L 21/8247 (2011.01) B82Y 10/00 (2011.01) |
CPC | H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) H01L 27/11517(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020070024835 (2007.03.14) |
출원인 | 한국과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-0897515-0000 (2009.05.07) |
공개번호/일자 | 10-2008-0083945 (2008.09.19) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20090515) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | 심판사항 |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2007.03.14) |
심사청구항수 | 7 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 최양규 | 대한민국 | 대전 유성구 |
2 | 김국환 | 대한민국 | 대전 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김성호 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 도곡로 *** (역삼동,미진빌딩 *층)(KNP 특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | 특허출원서 Patent Application |
2007.03.14 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0204570-76 |
2 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2008.01.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2008-0040309-55 |
3 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2008.02.20 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0125387-75 |
4 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2008.02.20 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2008-0125407-01 |
5 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2008.07.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2008-0390550-17 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2008.09.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0671344-29 |
7 | 거절결정서 Decision to Refuse a Patent |
2009.01.30 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0043153-89 |
8 | 명세서 등 보정서(심사전치) Amendment to Description, etc(Reexamination) |
2009.03.31 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 7-1-2009-0015191-51 |
9 | 등록결정서 Decision to grant |
2009.05.06 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0191243-72 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 기판; 상기 기판의 활성영역 상에 형성된 제1 산화막; 상기 활성영역 내에 형성된 소오스와 드레인; 상기 제1 산화막상에 형성된 전하저장부; 상기 전하저장부를 포위하고, 상기 제1 산화막상에 형성된 제2 산화막; 및 상기 제2 산화막을 포위하도록 형성된 게이트를 포함하고, 상기 게이트는 4 |
2 |
2 제1항에 있어서, 상기 전하저장부는, 탄소나노튜브(Carbon Nano Tube, CNT), 플러린(fullerene), 질화물 또는 나노결정물질로 이루어진, 비휘발성 메모리 셀 |
3 |
3 삭제 |
4 |
4 삭제 |
5 |
5 기판; 상기 기판에 복수의 활성영역을 한정하는 소자분리부; 상기 복수의 활성영역 내에 형성된 소오스와 드레인; 상기 복수의 활성영역상에 형성된 제1 산화막; 상기 제1 산화막상에 형성된 전하저장부; 상기 전하저장부를 포위하고, 상기 제1 산화막상에 형성된 제2 산화막; 및 동일한 신호처리 라인에 위치한 복수의 상기 제2 산화막을 포위하고, 서로 전기적으로 연결시키는 게이트라인을 포함하고, 상기 게이트라인은 4 |
6 |
6 제5항에 있어서, 상기 전하저장부는, 탄소나노튜브(Carbon Nano Tube, CNT), 플러린(fullerene), 질화물 또는 나노결정물질로 이루어진, 비휘발성 메모리 셀 어레이 |
7 |
7 삭제 |
8 |
8 삭제 |
9 |
9 (a) 기판 상에 순차적으로 제1산화막, 전하저장부 및 상기 전하저장부를 포위하는 제2산화막을 형성하는 단계; (b) 상기 제2산화막 상에 제1게이트물질을 형성하는 단계; (c) 상기 제1게이트물질 상에 식각마스크막을 형성하고, 상기 식각마스크막을 패터닝하는 단계; (d) 상기 식각마스크막을 마스크로 하여 상기 기판에 트렌치(trench)가 형성되도록 식각하는 단계; (e) 상기 트렌치 상에 활성영역을 한정하는 소자분리부를 형성하는 단계; (f) 상기 식각마스크막을 제거하는 단계; (g) 동일한 신호처리 라인에 형성된 상기 제1게이트물질이 전기적으로 연결되도록 제2게이트물질을 형성하는 단계; 및 (h) 상기 기판의 활성영역들 내에 소오스와 드레인을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제1 게이트물질 또는 상기 제2 게이트물질은, 4 |
10 |
10 제9항에 있어서, 상기 (e)단계는, 상기 트렌치와 상기 식각마스크막 상에 트렌치매립절연물질을 형성하는 단계; 및 상기 트렌치매립절연물질을 평탄화 또는 식각하여 상기 소자분리부를 형성하는 단계 를 포함하는, 비휘발성 메모리 어레이의 제조방법 |
11 |
11 제9항에 있어서, 상기 전하저장부는, 탄소나노튜브, 플러린, 질화물 또는 나노결정인, 비휘발성 메모리 셀 어레이의 제조방법 |
12 |
12 삭제 |
13 |
13 삭제 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | JP20227509 | JP | 일본 | FAMILY |
2 | US08008706 | US | 미국 | FAMILY |
3 | US20080277719 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | CN101267002 | CN | 중국 | DOCDBFAMILY |
2 | CN101267002 | CN | 중국 | DOCDBFAMILY |
3 | JP2008227509 | JP | 일본 | DOCDBFAMILY |
4 | US2008277719 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
5 | US8008706 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
특허 등록번호 | 10-0897515-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20070314 출원 번호 : 1020070024835 공고 연월일 : 20090515 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20090506 청구범위의 항수 : 7 유별 : H01L 27/115 발명의 명칭 : 비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법. 존속기간(예정)만료일 : 20140508 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국과학기술원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 159,000 원 | 2009년 05월 08일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 194,000 원 | 2012년 04월 30일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 194,000 원 | 2013년 04월 29일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | 특허출원서 | 2007.03.14 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0204570-76 |
2 | 의견제출통지서 | 2008.01.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2008-0040309-55 |
3 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2008.02.20 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0125387-75 |
4 | [명세서등 보정]보정서 | 2008.02.20 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2008-0125407-01 |
5 | 의견제출통지서 | 2008.07.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2008-0390550-17 |
6 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2008.09.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0671344-29 |
7 | 거절결정서 | 2009.01.30 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0043153-89 |
8 | 명세서 등 보정서(심사전치) | 2009.03.31 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 7-1-2009-0015191-51 |
9 | 등록결정서 | 2009.05.06 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0191243-72 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
기술번호 | KST2014011555 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 한국과학기술원 |
기술명 | 비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법 |
기술개요 |
본 발명은 비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법에 관한 것이다. 이러한 본 발명에 따른 비휘발성 메모리 셀은 기판, 기판의 활성영역 상에 형성된 제1산화막, 활성영역 내에 형성된 소오스와 드레인, 제1산화막 상에 형성된 전하저장부, 전하저장부를 포위하고, 제1산화막 상에 형성된 제2산화막 및 제2산화막을 포위하도록 형성된 게이트를 포함한다. 이러한 본 발명에 따른 비휘발성 메모리 셀, 이를 포함하는 셀 어레이는 전하저장부가 게이트 또는 게이트라인에 의해 완전히 포위됨으로써, 인접한 다른 게이트 또는 게이트라인 내부에 형성된 셀에 의한 메모리 동작으로 발생할 수 있는 셀간 간섭현상을 최소화 할 수 있다. 게이트 라인, 탄소나노튜브(carbon nanotube), 플러린(fullerene), 나노결정 |
개발상태 | 기술개발완료 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 비휘발성 메모리 셀 제조 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매,라이센스, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1415077324 |
---|---|
세부과제번호 | 10029907 |
연구과제명 | 차세대비휘발성메모리(테라비트급NFGM,PoRAM,ReRAM)개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가원 |
연구주관기관명 | 한양대학교 |
성과제출연도 | 2007 |
연구기간 | 200708~200907 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
[1020070128250] | 비휘발성 기억 장치 및 그 쓰기 방법 | 새창보기 |
---|---|---|
[1020070126862] | 유기 메모리 소자 및 그의 제조방법 | 새창보기 |
[1020070125918] | 비휘발성 기억 장치 및 그 읽기 방법 | 새창보기 |
[1020070119250] | 실리콘 카바이드 나노입자를 이용한 비휘발성 메모리 소자 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
[1020070107464] | 상온 공정에 의한 저항 변화 기억 소자용 박막 구조물의제조 방법 | 새창보기 |
[1020070107462] | 높은 소자 수율을 갖는 저항 변화 기억 소자용 박막 구조물 | 새창보기 |
[1020070104819] | 나노도트층을 이용한 반도체소자 및 그의 제조방법 | 새창보기 |
[1020070098626] | 금속 산화막 증착 방법 | 새창보기 |
[1020070084717] | 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070069919] | 유기 소자의 보호막 제조방법 | 새창보기 |
[1020070047670] | 에칭 알루미늄 하부기판을 사용하는P(VDF-TrFE) 기반 커패시터 및P(VDF-TrFE)기반 커패시터에서의 고온 안정성향상 방법 | 새창보기 |
[1020070036124] | [비휘발성 메모리 기반 저장장치]3차원 전면 게이트 구조를 갖는 비휘발성 디램 소자 기술 | 새창보기 |
[1020070024835] | 비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070019281] | 비휘발성 메모리 전자소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070018271] | 나노선나노입자 이종결합의 비휘발성 메모리 전자소자 및그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070018259] | 나노선나노입자 이종결합의 비휘발성 메모리 전자소자 제조방법 | 새창보기 |
[1020070009087] | 비휘발성 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020060112409] | 유기 쌍안정성 기억 소자 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020060092300] | 노이즈에 둔감한 디코딩 신호를 출력하는 디코더 및 이를포함하는 반도체 메모리 장치 | 새창보기 |
[1020060086577] | 메모리 셀 선택 회로를 포함하는 반도체 메모리 장치와그것의 동작 방법 | 새창보기 |
[1020060071746] | 전하 전송 스위치 및 전압 발전기 | 새창보기 |
[1020060054986] | ReRAM 소자 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020060053107] | 에피택시 버퍼층을 이용한 비휘발성 기억소자 및 그제조방법 | 새창보기 |
[1020060044063] | 유전체 박막을 포함하는 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020060035654] | 유기 반도체 소자 및 그 제작 방법 | 새창보기 |
[1020050104301] | 플래시 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020050092063] | 플라즈마 가스처리를 이용한 산화박막의 안정성이 우수한ReRAM 소자의 제조방법 | 새창보기 |
[1020050077057] | 웰 구조를 갖는 CM OS소자 | 새창보기 |
[1020050054341] | 절연막의 적층증착에 의한 저항 메모리 소자의 제조방법 | 새창보기 |
[1020050033631] | 플래시 메모리 소자 | 새창보기 |
[1020050028225] | 저항변화 기억소자용 박막 구조물 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020050003886] | 산화막의 저항변화를 이용한 비휘발성 기억소자 및 그제조방법 | 새창보기 |
[KST2015118268][한국과학기술원] | 그래핀을 이용한 수직 나노선 구조의 나노 소자 및 그 형성 방법 | 새창보기 |
---|---|---|
[KST2015116558][한국과학기술원] | 멀티비트 메모리 소자 | 새창보기 |
[KST2015119196][한국과학기술원] | 다결정 실리콘 박막을 이용한 EEPROM 및 플래시메모리와 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015118480][한국과학기술원] | 충돌 이온화 금속산화반도체를 이용한 플래시 메모리 | 새창보기 |
[KST2018011208][한국과학기술원] | 비휘발성 메모리 소자, 이의 데이터 소거 방법 및 이를 포함하는 전자 시스템 | 새창보기 |
[KST2014067199][한국과학기술원] | [비휘발성 메모리 기반 저장장치]3차원 전면 게이트 구조를 갖는 비휘발성 디램 소자 기술 | 새창보기 |
[KST2015111345][한국과학기술원] | 절연체로 N2O 플라즈마 산화막을 이용한 EEPROM 및 플래시 메모리와 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015113382][한국과학기술원] | 이중블록공중합체를 기반으로 한 마이셀 템플릿으로 합성된 금속 나노크리스탈이 삽입된 3차원 구조의 비휘발성 메모리의 제조방법 | 새창보기 |
[KST2021009452][한국과학기술원] | 양자회로 에러 보정 방법 및 그 장치 | 새창보기 |
[KST2015112955][한국과학기술원] | 탄소나노튜브 수직성장법을 통한 COB타입 슈퍼 캐패시터형성 방법 | 새창보기 |
[KST2019024102][한국과학기술원] | 수직 집적 다층 전면-게이트 나노선 채널 기반의 디램 및 플래쉬 메모리의 선택적 동작이 가능한 융합 메모리 및 그 제작 방법 | 새창보기 |
[KST2015112748][한국과학기술원] | 기계적인 스위치를 이용한 비휘발성 메모리 셀 및 그동작방법 | 새창보기 |
[KST2015119316][한국과학기술원] | 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015117293][한국과학기술원] | 3차원 구조의 비휘발성 메모리 소자를 초고층으로 확장하는 방법 | 새창보기 |
[KST2021008896][한국과학기술원] | 오류가 있는 고전적 학습 표본에 대한 패리티 학습 양자 알고리즘, 양자 회로 및 이를 이용한 시스템 | 새창보기 |
[KST2015111973][한국과학기술원] | 이중-게이트 플래쉬 메모리소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015119416][한국과학기술원] | 저항 변화 메모리 | 새창보기 |
[KST2015114190][한국과학기술원] | 3차원 구조의 비휘발성 메모리 소자, 그 제조 방법 및 메모리 칩 | 새창보기 |
[KST2023003291][한국과학기술원] | 자발적 카이랄 대칭파괴를 이용한 물리적 복제방지용 구조체 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015117798][한국과학기술원] | 비휘발성 반도체 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015115518][한국과학기술원] | 광유기 플래시 메모리 소자 및 그 제조방법, 광 검출기 | 새창보기 |
[KST2015112331][한국과학기술원] | 백―바이어스를 이용하여 SOI 기판에 형성된 플래시 블록을 소거하기 위한 플래시 메모리 소자의 제조 방법, 그 소거 방법 및 그 구조 | 새창보기 |
[KST2015113017][한국과학기술원] | 비휘발성 반도체 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015113209][한국과학기술원] | 융합 메모리 소자, 융합 메모리 소자의 제조방법 및 동작방법 | 새창보기 |
[KST2015116039][한국과학기술원] | 쌍극자를 가진 자기조립 단분자막을 포함하는 비휘발성 메모리 소자 | 새창보기 |
[KST2016007850][한국과학기술원] | 혼합 블록공중합체를 이용한 링 형태 전자소자 제조방법 및 이에 의하여 제조된 링 형태 전자소자(Method for patterning block copolymer using mixed solvent and mixed block copolymer and method for manufacturing nanostructures using the same) | 새창보기 |
[KST2015112743][한국과학기술원] | 기계적인 스위치를 이용한 비휘발성 메모리 셀 및 그어레이 | 새창보기 |
[KST2015118493][한국과학기술원] | 비휘발성 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015115772][한국과학기술원] | 절연 나노입자를 이용한 상변화 메모리 소자, 플렉서블 상변화 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015117042][한국과학기술원] | 그래핀 게이트 전극을 이용한 비휘발성 메모리 소자 | 새창보기 |
번호 | 심판번호(숫자) | 심판번호(문자) | 사건의표시 | 청구일 | 심결일자 |
---|---|---|---|---|---|
1 | 2009101001901 | 2009원1901 | 2007년 특허출원 제0024835호 거절결정불복심판 | 2009.03.03 | 2009.05.06 |