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다층 반도체 소자 및 그의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014044832
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요약 다층 반도체 소자의 제조 방법은 하부 기판에 금속 핀을 형성하고, 상부 기판에 금속 핀의 위치에 대응하여 구멍을 형성한 후에 상부 기판에 형성된 구멍에 하부 기판에 형성된 금속 핀을 삽입함으로써 하부 기판 위에 상부 기판을 적층한다. 다음, 상부 기판과 금속 핀 사이의 공간을 유기 물질로 채워 절연층을 형성한 후에 금속 핀과 상부 기판에 형성된 소자의 적어도 일부의 절연층을 제거하여 연결 부재를 형성한다.
Int. CL H01L 23/48 (2006.01) H01L 23/12 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100134210 (2010.12.24)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-1210616-0000 (2012.12.04)
공개번호/일자 10-2012-0072451 (2012.07.04) 문서열기
공고번호/일자 (20121211) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.24)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박종철 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 김준철 대한민국 경기도 성남시 분당구
3 박세훈 대한민국 경기도 성남시 분당구
4 육종민 대한민국 경기 성남시 중원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (유)도건테크 전라북도 군산시 대학로 ***, **** (
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.24 수리 (Accepted) 1-1-2010-0854870-74
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.02.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.03.23 수리 (Accepted) 9-1-2012-0023877-57
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.05.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0271531-64
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.07.05 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0539613-71
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.07.05 수리 (Accepted) 1-1-2012-0539615-62
7 등록결정서
Decision to grant
2012.11.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0695290-88
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 기판, 상기 제1 기판의 상부에 형성되는 제1 소자, 상기 제1 소자의 상부에 형성되는 제1 금속 핀, 상기 제1 기판 위에 적층되며, 상기 제1 기판의 제2 금속 핀이 삽입되는 위치에 대응하여 제1 구멍이 형성된 제2 기판, 상기 제2 기판의 상부에 형성되는 제2 소자, 상기 제1 금속 핀이 상기 제2 기판에 형성된 제1 구멍에 삽입된 후 상기 제1 금속 핀과 상기 제2 기판 사이의 공간을 유기 물질로 채워 형성된 절연층, 그리고 상기 제1 금속핀과 상기 제2 소자에 형성된 적어도 일부의 절연층을 제거하여 형성된 연결 부재를 포함하는 다층 반도체 소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 연결 부재는 금속으로 형성되는 다층 반도체 소자
3 3
제1항에 있어서, 상기 제2 소자의 상부에 형성된 전극 패드를 더 포함하고, 상기 제1 금속 핀은 상기 제2 기판의 두께보다 높은 높이를 가지는 다층 반도체 소자
4 4
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 기판의 상부에 상기 제1 금속 핀과 동시에 형성되는 제2 금속 핀, 그리고 상기 제2 금속 핀이 삽입되는 위치에 대응하여 제2 기판에 형성된 제2 구멍을 더 포함하고, 상기 제2 금속 핀 및 상기 제2 구멍은 상기 제1 기판과 상기 제2 기판을 정렬하는 데 사용되는 다층 반도체 소자
5 5
제1 기판에 형성된 제1 소자 위에 제1 금속 핀을 형성하는 단계, 제2 소자가 형성된 제2 기판에 상기 제1 금속 핀이 삽입될 위치에 대응하여 제1 구멍을 형성하는 단계, 상기 제1 기판의 제1 금속 핀을 상기 제2 기판의 제1 구멍에 삽입하여 상기 제1 기판에 상기 제2 기판을 적층하는 단계, 상기 제1 금속 핀과 상기 제2 기판 사이의 공간을 유기 물질로 채워 절연층을 형성하는 단계, 상기 제1 금속핀과 상기 제2 소자에 형성된 적어도 일부의 절연층을 제거하는 단계, 그리고 상기 제2 금속핀과 상기 제2 소자를 전기적으로 연결하는 연결 부재를 형성하는 단계를 포함하는 다층 반도체 소자의 제조 방법
6 6
제5항에 있어서, 상기 제1 금속 핀을 형성하는 단계는, 상기 제1 기판 위에 제2 금속 핀을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 제1 구멍을 형성하는 단계는, 상기 제2 기판에 상기 제2 금속 핀이 삽입될 위치에 대응하여 제2 구멍을 형성하는 단계를 포함하는 다층 반도체 소자의 제조 방법
7 7
제6항에 있어서, 상기 적층하는 단계 전에 상기 제2 금속 핀과 상기 제2 구멍을 이용하여 상기 제1 기판과 상기 제2 기판을 정렬하는 단계를 더 포함하는 다층 반도체 소자의 제조 방법
8 8
제5항에 있어서, 상기 제2 소자 위에 전극 패드를 형성하는 단계를 더 포함하고, 상기 제1 금속 핀을 형성하는 단계는,상기 제2 기판의 두께보다 높게 형성하는 단계를 포함하며, 상기 제거하는 단계는, 상기 제2 기판의 절연층을 갈아내어 상기 제1 금속 핀과 상기 전극 패드를 노출시키는 단계를 포함하는 다층 반도체 소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국과학기술원 산업원천기술개발사업 웨이퍼레벨 3차원 IC 설계 및 집적기술