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관통 실리콘 비아 커패시터, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 3차원 집적 회로

  • 기술번호 : KST2015115057
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 관통 실리콘 비아 커패시터는 제1 컨덕터, 제1 절연층 및 제2 컨덕터를 포함한다. 상기 제1 컨덕터는 3차원 집적 회로가 형성되는 적어도 하나의 회로 기판을 관통한다. 상기 제1 절연층은 상기 제1 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통한다. 상기 제2 컨덕터는 상기 제1 절연층의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통한다.
Int. CL H05K 1/18 (2006.01) H01L 27/04 (2006.01)
CPC H05K 1/162(2013.01) H05K 1/162(2013.01) H05K 1/162(2013.01) H05K 1/162(2013.01)
출원번호/일자 1020100131097 (2010.12.21)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0069797 (2012.06.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.12.21)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김정호 대한민국 대전광역시 유성구
2 조종현 대한민국 대전광역시 유성구
3 박준서 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박영우 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2010-0841831-00
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.12.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0747470-18
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2012.02.01 수리 (Accepted) 1-1-2012-0085085-92
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.02.01 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0085084-46
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2012.07.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0418141-19
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
3차원 집적 회로가 형성되는 적어도 하나의 회로 기판을 관통하고 전원 단자에 연결되는 제1 컨덕터;상기 제1 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제1 절연층; 및상기 제1 절연층의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하고 접지 단자에 연결되는 제2 컨덕터를 포함하는 관통 실리콘 비아(TSV) 커패시터
2 2
제1 항에 있어서, 상기 제2 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제2 절연층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
3 3
제1 항에 있어서, 상기 TSV 커패시터의 단면은 원형인 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
4 4
제1 항에 있어서, 상기 TSV 커패시터의 단면은 장방형인 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
5 5
제1 항에 있어서, 상기 제1 컨덕터 및 제2 컨덕터를 구성하는 물질은 각각 구리, 알루미늄, 텅스텐 및 폴리 실리콘 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
6 6
3차원 집적 회로가 형성되는 적어도 하나의 회로 기판을 관통하고 접지 단자에 연결되는 제1 컨덕터;상기 제1 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제1 절연층; 및상기 제1 절연층의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하고 전원 단자에 연결되는 제2 컨덕터를 포함하는 관통 실리콘 비아(TSV) 커패시터
7 7
제6 항에 있어서, 상기 제2 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제2 절연층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
8 8
3차원 집적 회로가 형성되는 적어도 하나의 회로 기판의 일면에 형성되는 액티브 영역과 중첩되지 않도록 상기 일면에 형성되는 상부 단면 및 상기 회로 기판의 타면에 형성되는, 상기 상부 단면 보다 넓은 면적의 하부 단면을 구비하고 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제1 컨덕터;상기 제1 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제1 절연층; 및상기 제1 절연층의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제2 컨덕터를 포함하는 관통 실리콘 비아(TSV) 커패시터
9 9
제8 항에 있어서, 상기 제2 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제2 절연층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
10 10
제8 항에 있어서, 상기 제1 컨덕터 및 제2 컨덕터를 구성하는 물질은 각각 구리, 알루미늄, 텅스텐 및 폴리 실리콘 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
11 11
적어도 하나의 회로 기판을 포함하는 3차원 집적 회로에 있어서, 상기 회로 기판은 적어도 하나 이상의 관통 실리콘 비아(TSV) 커패시터를 포함하고, 상기 TSV 커패시터는,상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제1 컨덕터;상기 제1 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제1 절연층; 및상기 제1 절연층 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제2 컨덕터를 포함하는 3차원 집적 회로
12 12
제11 항에 있어서, 상기 TSV 커패시터는 상기 제2 컨덕터의 외측면에 위치하여 상기 적어도 하나의 회로 기판을 관통하는 제2 절연층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 집적 회로
13 13
3차원 집적 회로가 형성되는 회로 기판에 비아 홀(via hole)을 형성하는 단계;상기 비아 홀의 내측면에 제1 컨덕터를 증착하는 단계;상기 제2 컨덕터의 내측면에 제1 절연층을 증착하는 단계; 및상기 제1 절연층의 내부에 제2 컨덕터를 충전하는 단계를 포함하는 TSV 커패시터 형성 방법
14 14
제13 항에 있어서, 상기 제1 컨덕터 및 제2 컨덕터를 구성하는 물질은 각각 구리, 알루미늄, 텅스텐 및 폴리 실리콘 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 TSV 커패시터
15 15
3차원 집적 회로가 형성되는 회로 기판에 비아 홀을 형성하는 단계;상기 비아 홀의 내측면에 제1 절연층을 증착하는 단계;상기 제1 절연층의 내측면에 제1 컨덕터를 증착하는 단계;상기 제1 컨덕터의 내측면에 제2 절연층을 증착하는 단계; 및상기 제2 절연층의 내부에 제2 컨덕터를 충전하는 단계를 포함하는 TSV 커패시터 형성 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 한국과학기술원 산업원천기술개발사업 웨이퍼레벨 3차원 IC 설계 및 집적기술