요약 | 반도체 칩 패키지는 제1 반도체 칩, 제2 반도체 칩 및 적어도 하나의 사이드 범프를 포함한다. 제1 반도체 칩은 제1 기판 및 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아를 포함한다. 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아는 제1 기판의 제1 면과 제1 면과 제2 면을 관통하여 형성된다. 제2 반도체 칩은 제2 기판 및 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 포함한다. 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아는 제2 기판의 제3 면과 제3 면과 제4 면을 관통하여 형성된다. 적어도 하나의 사이드 범프는 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 서로 전기적으로 연결한다. 제2 면은 제1 면과 인접하는 제1 기판의 측면이고, 제4 면은 제3 면과 인접하는 제2 기판의 측면이다. 제1 반도체 칩 및 제2 반도체 칩은 제2 면과 제4 면이 서로 마주 보도록 배열된다. 따라서 적층된 반도체 칩 사이의 배선 길이를 감소시킬 수 있다 |
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Int. CL | H01L 23/48 (2006.01) H01L 23/12 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020100134138 (2010.12.24) |
출원인 | 한국과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-1147081-0000 (2012.05.10) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20120517) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2010.12.24) |
심사청구항수 | 15 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김정호 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
2 | 김주희 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
3 | 박준서 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 박영우 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2010.12.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0854433-35 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2012.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2012.04.19 | 수리 (Accepted) | 9-1-2012-0031448-16 |
4 | 등록결정서 Decision to grant |
2012.05.09 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0271530-18 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 제1 기판 및 상기 제1 기판의 제1 면과 제2 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아(through silicon via)를 포함하는 제1 반도체 칩;제2 기판 및 상기 제2 기판의 제3 면과 제4 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 포함하는 제2 반도체 칩; 및상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 상기 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 서로 전기적으로 연결하는 적어도 하나의 사이드 범프를 포함하고, 상기 제2 면은 상기 제1 면과 인접하는 상기 제1 기판의 측면이고, 상기 제4 면은 상기 제3 면과 인접하는 상기 제2 기판의 측면이며, 상기 제1 반도체 칩 및 상기 제2 반도체 칩은 상기 제2 면과 상기 제4 면이 서로 마주 보도록 배열되는 반도체 칩 패키지 |
2 |
2 제1항에 있어서, 상기 제1 기판의 상기 제1 면 및 상기 제2 기판의 상기 제3면은 각각 상기 제1 기판 및 상기 제2 기판에 패터닝 공정이 이루어지는 면인 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
3 |
3 제2항에 있어서, 상기 적어도 하나의 사이드 범프는, 상기 제1 기판의 상기 제2 면을 통하여 상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 전기적으로 연결되고, 상기 제2 기판의 상기 제4 면을 통하여 상기 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
4 |
4 제2항에 있어서, 상기 적어도 하나의 사이드 범프는, 인터포저 칩 또는 다른 반도체 칩을 통하지 않고 상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 상기 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아가 서로 전기적으로 연결될 수 있도록, 상기 제1 기판의 상기 제2 면과 상기 제2 기판의 상기 제4 면 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
5 |
5 제1항에 있어서,상기 제1 반도체 칩 및 상기 제2 반도체 칩 각각은 재배선층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
6 |
6 제1항에 있어서, 상기 제1 반도체 칩은 상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 상기 제1 기판 사이에 형성되는 제1 절연막을 더 포함하고,상기 제2 반도체 칩은 상기 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아와 상기 제2 기판 사이에 형성되는 제2 절연막을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
7 |
7 제6항에 있어서, 상기 제1 반도체 칩은 상기 적어도 하나의 사이드 범프와 상기 제1 기판 사이에 형성되는 제3 절연막을 더 포함하고,상기 제2 반도체 칩은 상기 적어도 하나의 사이드 범프와 상기 제2 기판 사이에 형성되는 제4 절연막을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
8 |
8 제1항에 있어서, 상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아는 상기 제1 기판의 상기 제1 면과 대향하는 면을 더 관통하여 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
9 |
9 제1항에 있어서, 상기 제1 반도체 칩은, 상기 제1 기판에 형성된 소자들; 및상기 소자들과 상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아를 전기적으로 연결하기 위한 적어도 하나의 금속층을 포함하는 재배선층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
10 |
10 제1항에 있어서,상기 제1 반도체 칩과 상기 제2 반도체 칩은 서로 다른 종류의 반도체 칩인 것을 특징으로 하는 반도체 칩 패키지 |
11 |
11 복수의 반도체 칩들; 및상기 복수의 반도체 칩들을 전기적으로 연결하는 복수의 사이드 범프를 포함하고,상기 복수의 반도체 칩들 각각은,기판; 및상기 기판의 제1 면과 상기 제1 면과 및 상기 제1 면과 인접하는 제2 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 관통 실리콘 비아를 포함하고,상기 제 2 면은 반도체 패터닝 공정이 수행되는 상기 제1 면과 인접하는 상기 기판의 측면에 해당하고, 상기 복수의 사이드 범프는 상기 복수의 반도체 칩들 중 어느 하나의 반도체 칩의 관통 실리콘 비아와 상기 복수의 반도체 칩들 중 다른 어느 하나의 반도체 칩의 관통 실리콘 비아를 상기 제2 면을 통하여 서로 전기적으로 연결하는 반도체 칩 패키지 |
12 |
12 복수의 제1 반도체 칩들;복수의 제2 반도체 칩들;상기 복수의 제1 반도체 칩들과 이에 상응하는 상기 제2 반도체 칩들을 각각 전기적으로 연결하는 복수의 사이드 범프들을 포함하고,상기 복수의 제1 반도체 칩들 각각은, 제1 기판; 및 상기 제1 기판의 제1 면 및 상기 제1 면과 인접하는 제2 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아를 포함하고, 상기 복수의 제2 반도체 칩들 각각은, 제2 기판; 및 상기 제2 기판의 제3 면 및 상기 제3 면과 인접하는 제4 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 포함하고,상기 복수의 사이드 범프는 상기 복수의 제1 반도체 칩들의 상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 상기 복수의 제2 반도체 칩들의 상기 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 서로 전기적으로 연결하는 반도체 칩 패키지 |
13 |
13 베이스 기판;상기 베이스 기판 위에 장착되는 반도체 칩 패키지를 포함하고,상기 반도체 칩 패키지는,제1 기판 및 상기 제1 기판의 제1 면과 상기 제1 면과 제2 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아(through silicon via)를 포함하는 제1 반도체 칩;제2 기판 및 상기 제2 기판의 제3 면과 제4 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 포함하는 제2 반도체 칩; 및상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 상기 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 서로 전기적으로 연결하는 적어도 하나의 사이드 범프를 포함하고,상기 제2 면은 상기 제1 면과 인접하는 상기 제1 기판의 측면이고, 상기 제4 면은 상기 제3 면과 인접하는 상기 제2 기판의 측면이며, 상기 제1 반도체 칩 및 상기 제2 반도체 칩은 상기 제2 면과 상기 제4 면이 서로 마주 보도록 배열되는 반도체 모듈 |
14 |
14 베이스 기판;상기 베이스 기판 위에 장착되는 반도체 칩 패키지를 포함하고,상기 반도체 칩 패키지는,복수의 제1 반도체 칩들;복수의 제2 반도체 칩들; 및상기 복수의 제1 반도체 칩들과 이에 상응하는 상기 제2 반도체 칩들을 각각 전기적으로 연결하는 복수의 사이드 범프를 포함하고,상기 복수의 제1 반도체 칩들 각각은, 제1 기판; 및 상기 제1 기판의 제1 면 및 상기 제1 면과 인접하는 제2 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아를 포함하고, 상기 복수의 제2 반도체 칩들 각각은, 제2 기판; 및 상기 제2 기판의 제3 면 및 상기 제3 면과 인접하는 제4 면을 관통하여 형성되는 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 포함하고,상기 복수의 사이드 범프는 상기 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 상기 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 서로 전기적으로 연결하는 반도체 모듈 |
15 |
15 제14항에 있어서,상기 베이스 기판과 상기 복수의 제1 반도체 칩들 및 상기 복수의 제2 반도체 칩들 사이에 배치되어, 상기 복수의 제1 반도체 칩들 및 상기 복수의 제2 반도체 칩들 사이의 입출력 배선을 연결하는 인터포저를 더 포함하는 반도체 모듈 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 지식경제부 | 한국과학기술원 | 산업원천기술개발사업 | 웨이퍼레벨 3차원 IC 설계 및 집적기술 |
공개전문 정보가 없습니다 |
---|
특허 등록번호 | 10-1147081-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20101224 출원 번호 : 1020100134138 공고 연월일 : 20120517 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20120509 청구범위의 항수 : 15 유별 : H01L 23/48 발명의 명칭 : 반도체 칩 패키지 및 이를 포함하는 반도체 모듈 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국과학기술원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 315,000 원 | 2012년 05월 11일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 259,000 원 | 2015년 04월 29일 | 납입 |
제 5 - 7 년분 | 금 액 | 1,128,600 원 | 2016년 04월 27일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 670,000 원 | 2019년 12월 30일 | 납입 |
제 9 년분 | 금 액 | 395,300 원 | 2020년 10월 15일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2010.12.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0854433-35 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2012.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2012.04.19 | 수리 (Accepted) | 9-1-2012-0031448-16 |
4 | 등록결정서 | 2012.05.09 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0271530-18 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
기술번호 | KST2014047104 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 한국과학기술원 |
기술명 | 반도체 칩 패키지 및 이를 포함하는 반도체 모듈 |
기술개요 |
반도체 칩 패키지는 제1 반도체 칩, 제2 반도체 칩 및 적어도 하나의 사이드 범프를 포함한다. 제1 반도체 칩은 제1 기판 및 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아를 포함한다. 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아는 제1 기판의 제1 면과 제1 면과 제2 면을 관통하여 형성된다. 제2 반도체 칩은 제2 기판 및 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 포함한다. 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아는 제2 기판의 제3 면과 제3 면과 제4 면을 관통하여 형성된다. 적어도 하나의 사이드 범프는 적어도 하나의 제1 관통 실리콘 비아와 적어도 하나의 제2 관통 실리콘 비아를 서로 전기적으로 연결한다. 제2 면은 제1 면과 인접하는 제1 기판의 측면이고, 제4 면은 제3 면과 인접하는 제2 기판의 측면이다. 제1 반도체 칩 및 제2 반도체 칩은 제2 면과 제4 면이 서로 마주 보도록 배열된다. 따라서 적층된 반도체 칩 사이의 배선 길이를 감소시킬 수 있다 |
개발상태 | 기술개발완료 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 기타 반도체 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매,라이센스, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1415107582 |
---|---|
세부과제번호 | KI002134 |
연구과제명 | 웨이퍼레벨 3차원 IC 설계 및 집적기술 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 한국과학기술원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200903~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1415122249 |
---|---|
세부과제번호 | KI002134 |
연구과제명 | 웨이퍼레벨 3차원 IC 설계 및 집적기술 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 한국과학기술원 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 200903~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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[KST2015118203][한국과학기술원] | 측면을 이용한 칩 적층방법, 이에 의하여 적층된 칩 어셈블리 및 이를 위한 칩 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015115145][한국과학기술원] | 반도체소자의 범프 전극 구조 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015114027][한국과학기술원] | 3차원 적층 패키지 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015112842][한국과학기술원] | 패드가 구비된 반도체 패키지 | 새창보기 |
[KST2015115247][한국과학기술원] | 단차를 가진 중공 구조가 형성된 전도성 범프 수용 구조체 제조 방법과 전도성 범프 구조체 제조 방법, 이에 의하여 제조된 전도성 범프 수용 구조체 및 이를 이용한 칩간 접속 방법 | 새창보기 |
[KST2014046850][한국과학기술원] | 플립칩 본딩을 통한 3차원 적층 패키지 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2014047103][한국과학기술원] | 반도체 칩, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 반도체 모듈 | 새창보기 |
[KST2015114741][한국과학기술원] | 3차원 적층 집적 회로 | 새창보기 |
[KST2015115749][한국과학기술원] | 임베디드 토로이드 및 그 제조방법과 적층 집적회로소자 | 새창보기 |
[KST2015116333][한국과학기술원] | 주파수 혼합기로 동작하는 관통 실리콘 비아, 이를 포함하는 3차원 집적 회로 및 이의 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2015115248][한국과학기술원] | 칩간 접속을 위한 전도성 범프, 그 제조방법 및 이에 의한 칩간 접속방법 | 새창보기 |
[KST2014047102][한국과학기술원] | 적층 칩 패키지, 이를 포함하는 반도체 모듈 및 적층 칩 패키지의 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2014011684][한국과학기술원] | 직물형 반도체 소자 패키지와 그 설치 방법 및 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2015115275][한국과학기술원] | 반도체칩의 삼차원 적층 방법 | 새창보기 |
[KST2015116387][한국과학기술원] | 인터포저 기판 상의 나선 형태 이퀄라이저, 이를 포함하는 2.5차원 집적 회로 및 이의 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2014011489][한국과학기술원] | 기계적 특성이 개선된 전자부품, 전자부품간 접합구조체 및 이의 접합 방법 | 새창보기 |
[KST2015117176][한국과학기술원] | 인터포저 및 이의 제조 방법, 3차원 집적 회로 및 3차원 집적 회로 칩 패키지 | 새창보기 |
[KST2015119499][한국과학기술원] | 칩 적층용 절연필름, 그 제조방법 및 이를 이용한 칩 적층방법 | 새창보기 |
[KST2015115277][한국과학기술원] | 절연필름을 이용한 칩 적층방법, 이에 의하여 적층된 칩, 이를 위한 절연필름 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015118537][한국과학기술원] | 전기력을 이용한 균일한 미세 솔더볼 제조 방법 및 장치 | 새창보기 |
[KST2015113550][한국과학기술원] | 전도성 폴리머 범프를 갖는 칩 및 그 제조방법과, 칩을 구비한 전자부품 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015115308][한국과학기술원] | 내부결선을 통한 반도체 적층 패키지 | 새창보기 |
[KST2015117978][한국과학기술원] | ACF/NCF 용액을 이용한 웨이퍼 레벨의 플립칩패키지 제조방법 | 새창보기 |
[KST2015118894][한국과학기술원] | 전도성 패턴 필름의 접합 방법 | 새창보기 |
[KST2015114248][한국과학기술원] | 전자기 밴드갭 패턴을 구비하는 적층 칩 패키지, 그 제조 방법 및 적층 칩 패키지를 포함하는 반도체 모듈 | 새창보기 |
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