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다중 주파수 플라즈마 장치에서 기상 미립자 발생 및 제어를 위한 반도체 공정 제어 방법

  • 기술번호 : KST2019011557
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 다중 주파수 플라즈마 장치에서 기상 미립자 발생 및 제어를 위한 반도체 공정 제어 방법으로서, 다중 주파수 플라즈마 장치를 이용한 반도체 공정에 있어서, 반도체 공정 중 인가된 복수의 RF에 대한 파워를 변화시키는 RF 변화 구간을 파악하는 RF 변화 구간 파악 단계; 및 상기 RF 변화 구간에서 상기 복수의 RF에 대한 순서를 설정하고 상기 순서에 따라 상기 복수의 RF의 파워를 개별적으로 조절하여 플라즈마 내의 이온 유인력을 조절함으로써 미립자 구름의 쉬쓰(Sheath) 경계면의 침투를 제어하는 RF 파워 조절 단계를 포함하며, 이와 같은 본 발명에 의하면 다중 주파수 플라즈마 장치를 이용한 공정에서 RF가 급격히 변화하는 순간에 RF 제어를 통한 주파수와 파워의 변화에 따른 미립자의 행동 양식 특성을 활용하여 기상 미립자 구름의 위치를 기판으로부터 멀리 이동시키도록 제어할 수 있으며, 이를 통해 공정 중 발생되는 기상 미립자로 인한 기판 오염과 공정의 악영향을 제거 또는 최소화시킬 수 있게 된다.
Int. CL H01L 21/02 (2006.01.01)
CPC H01L 21/02252(2013.01) H01L 21/02252(2013.01)
출원번호/일자 1020150001765 (2015.01.07)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1601676-0000 (2016.03.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20160311) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2015.01.07)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 황기웅 대한민국 서울특별시 서초구
2 김문수 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2015-0012773-11
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.09.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.11.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2015-0099004-16
6 등록결정서
Decision to grant
2015.12.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0847370-12
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
다중 주파수 플라즈마 장치를 이용한 반도체 공정에 있어서,반도체 공정 중 인가된 복수의 RF에 대한 파워를 변화시키는 RF 변화 구간을 파악하는 RF 변화 구간 파악 단계; 및상기 RF 변화 구간에서 상기 복수의 RF에 대한 순서를 설정하고 상기 순서에 따라 상기 복수의 RF의 파워를 개별적으로 조절하여 플라즈마 내의 이온 유인력을 조절함으로써 미립자 구름의 쉬쓰(Sheath) 경계면의 침투를 제어하는 RF 파워 조절 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 다중 주파수 플라즈마 장치는 용량 결합형 플라즈마 장치로서, 상부 전극과 하부 전극 각각에 하나 이상의 RF가 인가되며,상기 반도체 공정 제어 방법은,주파수 크기에 따라 내림차순으로 상기 복수의 RF에 대한 순차적인 순번을 설정하는 순번 설정 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 다중 주파수 플라즈마 장치는 유도 결합형 플라즈마 장치로서, 소스 RF와 바이어스 RF를 포함하는 복수의 RF가 인가되며,상기 반도체 공정 제어 방법은,상기 소스 RF 다음으로 상기 바이어스 RF의 순서로 순번을 설정하는 순번 설정 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
4 4
제 3 항에 있어서,상기 바이어스 RF는 두개 이상의 RF를 포함하며,상기 순번 설정 단계는,상기 소스 RF의 다음 순번부터 주파수 크기에 따라 내림차순으로 상기 바이어스 RF에 포함된 두개 이상의 RF에 대한 순차적인 순번을 설정하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
5 5
제 2 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 RF 변화 구간 파악 단계는,공정 종료에 따라 복수의 RF에 대한 파워를 오프시키는 공정 종료 구간을 파악하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
6 6
제 5 항에 있어서,상기 RF 파워 조절 단계는,완충 구간을 설정하고 상기 완충 구간의 시간을 고려하여 상기 순번 중 하나의 순번을 선택하는 단계;선택된 순번까지의 RF의 파워를 오프시키고, 나머지 순번의 RF의 파워를 상기 완충 구간 동안 유지시키는 완충 구간 제어 단계; 및상기 완충 구간 이후 상기 나머지 순번의 RF 파워를 오프시키는 파워 오프 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 완충 구간 제어 단계는,상기 완충 구간 동안 유지시키는 RF의 파워를 낮추어 유지시키는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
8 8
제 6 항에 있어서,상기 파워 오프 단계는,제2 완충 구간을 설정하고, 상기 완충 구간 이후 상기 완충 구간 동안 유지시키던 RF의 파워를 낮추어 제2 완충 구간 동안 유지시키는 단계; 및상기 제2 완충 구간 이후 유지시키던 RF의 파워를 오프시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
9 9
제 5 항에 있어서,상기 RF 파워 조절 단계는,완충 구간을 설정하고, 가장 높은 순번 이전까지의 RF의 파워를 오프시키고, 가장 높은 순번의 RF 파워를 상기 완충 구간 동안 유지시키는 완충 구간 제어 단계; 및상기 완충 구간 이후 상기 가장 높은 순번의 RF 파워를 오프시키는 파워 오프 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
10 10
제 9 항에 있어서,상기 완충 구간 제어 단계는,상기 완충 구간 동안 상기 가장 높은 순번의 RF의 파워를 낮추어 유지시키는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
11 11
제 9 항에 있어서,상기 파워 오프 단계는,제2 완충 구간을 설정하고, 상기 완충 구간 이후 상기 완충 구간 동안 유지시키던 상기 가장 높은 순번의 RF의 파워를 낮추어 제2 완충 구간 동안 유지시키는 단계; 및상기 제2 완충 구간 이후 상기 가장 높은 순번의 RF의 파워를 오프시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
12 12
제 2 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 RF 변화 구간 파악 단계는,복수의 RF 중 적어도 하나 이상의 RF에 대한 파워를 변화시키는 전환 구간(Transition step)을 파악하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
13 13
제 12 항에 있어서,상기 RF 파워 조절 단계는,전환 구간의 시간을 고려하여 상기 순번 중 하나의 순번을 선택하는 제어 RF 선택 단계;선택된 순번까지의 RF의 파워를 오프시키고, 나머지 순번의 RF의 파워를 상기 전환 구간 동안 유지시키는 전환 구간 제어 단계; 및상기 전환 구간 이후 오프된 RF의 파워를 다시 온시키는 RF 재가동 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
14 14
제 13 항에 있어서,상기 전환 구간 제어 단계는,상기 전환 구간 동안 유지시키는 RF의 파워를 낮추어 유지시키는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
15 15
제 12 항에 있어서,상기 RF 파워 조절 단계는,가장 높은 순번 이전까지의 RF의 파워를 오프시키고, 가장 높은 순번의 RF의 파워를 상기 전환 구간 동안 유지시키는 전환 구간 제어 단계; 및상기 전환 구간 이후 오프된 RF의 파워를 다시 온시키는 RF 재가동 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
16 16
제 15 항에 있어서,상기 전환 구간 제어 단계는,상기 전환 구간 동안 가장 높은 순번의 RF의 파워를 낮추어 유지시키는 것을 특징으로 하는 반도체 공정 제어 방법
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패밀리정보가 없습니다
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