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인듐 질산화물 박막 및 그 제조 방법, 그리고 이를 포함하는 트랜지스터

  • 기술번호 : KST2022019712
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 인듐 질산화물 박막의 제조 방법이 제공된다. 상기 인듐 질산화물 박막의 제조 방법은, 기판을 준비하는 단계, 상기 기판 상에, 인듐(In)을 포함하는 전구체와 질소(N)를 포함하는 제1 반응물질 및 산소(O)를 포함하는 제2 반응물질을 반응시켜, 인듐 질산화물(InON) 박막을 형성하는 단계, 및 상기 인듐 질산화물 박막에 자외선(UV)과 오존(O3)을 제공하며 열처리하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL H01L 29/66 (2006.01.01) H01L 29/24 (2006.01.01) H01L 29/786 (2006.01.01) H01L 21/02 (2006.01.01) C23C 16/30 (2006.01.01) C23C 16/455 (2006.01.01)
CPC H01L 29/66969(2013.01) H01L 29/24(2013.01) H01L 29/7869(2013.01) H01L 21/02565(2013.01) H01L 21/0262(2013.01) C23C 16/308(2013.01) C23C 16/4554(2013.01)
출원번호/일자 1020210166621 (2021.11.29)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2022-0136065 (2022.10.07) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020210041196   |   2021.03.30
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2021.11.29)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박진성 경기도 성남시 분당구
2 이현모 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박상열 대한민국 서울 금천구 가산디지털*로 *** **층 ****호(나눔국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2021.11.29 수리 (Accepted) 1-1-2021-1376245-83
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2021.12.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
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번호 청구항
1 1
기판을 준비하는 단계; 상기 기판 상에, 인듐(In)을 포함하는 전구체와 질소(N)를 포함하는 제1 반응물질 및 산소(O)를 포함하는 제2 반응물질을 반응시켜, 인듐 질산화물(InON) 박막을 형성하는 단계; 및상기 인듐 질산화물 박막에 자외선(UV)과 오존(O3)을 제공하며 열처리하는 단계를 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
2 2
제1 항에 있어서, 상기 인듐 질산화물 박막을 형성하는 단계는, 상기 기판 상에 인듐(In)을 포함하는 제1 전구체를 제공하는 단계; 상기 기판 상에 질소(N)를 포함하는 상기 제1 반응물질을 제공하여, 상기 제1 전구체와 상기 제1 반응물질을 반응시키는 단계; 상기 제1 전구체와 상기 제1 반응물질이 반응된 상기 기판 상에 인듐(In)을 포함하는 제2 전구체를 제공하는 단계; 및 상기 기판 상에 산소(O)를 포함하는 상기 제2 반응물질을 제공하여, 상기 제2 전구체와 상기 제2 반응물질을 반응시키는 단계를 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
3 3
제2 항에 있어서, 상기 기판 상에 상기 제1 전구체를 제공하는 단계, 및 상기 제1 전구체와 상기 제1 반응물질을 반응시키는 단계는 제1 유닛 공정으로 정의되고, 상기 기판 상에 상기 제2 전구체를 제공하는 단계, 및 상기 제2 전구체와 상기 제2 반응물질을 반응시키는 단계는 제2 유닛 공정으로 정의되되, 상기 제1 유닛 공정 및 상기 제2 유닛 공정은 각각 복수회 반복 수행되는 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
4 4
제3 항에 있어서, 상기 제1 유닛 공정 및 상기 제2 유닛 공정의 반복 수행 횟수를 제어함에 따라, 상기 인듐 질산화물 박막 내 질소(N) 및 산소(O)의 함량이 제어되는 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
5 5
제3 항에 있어서, 상기 제1 유닛 공정 및 상기 제2 유닛 공정의 반복 수행 횟수를 제어함에 따라, 상기 인듐 질산화물 박막의 광학적 특성, 전기적 특성, 및 결정성이 제어되는 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
6 6
제3 항에 있어서, 상기 제1 유닛 공정의 반복 수행 횟수가 상기 제2 유닛 공정의 반복 수행 횟수보다 더 많은 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
7 7
제2 항에 있어서, 상기 제1 전구체 및 상기 제2 전구체는 같은 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
8 8
제1 항에 있어서, 상기 제1 반응물질은, 질소(N2) 플라즈마 또는 암모니아(NH3) 플라즈마를 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
9 9
제1 항에 있어서, 상기 인듐 질산화물 박막에 자외선(UV)과 오존(O3)을 제공하며 열처리하는 단계에서, 상기 인듐 질산화물 박막은 350℃ 미만의 온도에서 열처리되는 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
10 10
기판을 준비하는 단계; 상기 기판 상에, 인듐(In)을 포함하는 전구체와 암모니아(NH3)를 포함하는 반응물질을 반응시켜, 인듐 질산화물(InON) 박막을 형성하는 단계; 및 상기 인듐 질산화물 박막에 자외선(UV)과 오존(O3)을 제공하며 열처리하는 단계를 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
11 11
제10 항에 있어서, 상기 인듐 질산화물 박막을 형성하는 단계는, 상기 기판 상에 인듐(In)을 포함하는 상기 전구체를 제공하는 단계; 및상기 기판 상에 암모니아(NH3)를 포함하는 상기 반응물질을 제공하는 단계를 포함하고, 상기 전구체를 제공하는 단계, 및 상기 반응물질을 제공하는 단계는 유닛 공정으로 정의되되, 상기 유닛 공정은 복수회 반복 수행되는 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막의 제조 방법
12 12
인듐(In), 산소(O), 및 질소(N)를 포함하는 인듐 질산화물(InON) 박막에 있어서,상기 인듐 질산화물 박막의 표면에는 인듐-질소 결합(In-N)의 비율보다 인듐-산소 결합(In-O)의 비율이 높고, 인듐(In)의 함량보다 산소(O)의 함량이 높은 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막
13 13
제12 항에 있어서, 상기 인듐 질산화물 박막의 표면에 함유된 산소(O)의 함량은, 상기 인듐 질산화물 박막의 중심부에 함유된 산소(O)의 함량보다 높은 것을 포함하는 인듐 질산화물 박막
14 14
기판; 상기 기판 상에 배치된 절연막; 상기 절연막 상에 배치되는 제12 항에 따른 인듐 질산화물 박막; 및 상기 인듐 질산화물 박막 상에 배치되는 소스 전극과 드레인 전극을 포함하는 트랜지스터
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.