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스트링선택트랜지스터들의 문턱전압을 모니터링하는 SSL 상태 확인 빌딩을 구비한 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이, 그 모니터링 및 구동방법

  • 기술번호 : KST2015135702
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 스트링선택트랜지스터들의 문턱전압을 모니터링하는 SSL 상태 확인 빌딩을 구비한 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이와 상기 SSL 상태 확인 빌딩을 통하여 스트링선택트랜지스터들의 문턱전압을 모니터링하는 방법, 그리고 상기 SSL 상태 확인 빌딩을 구비한 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이의 구동방법에 관한 것이다.
Int. CL G11C 5/02 (2006.01.01) G11C 16/08 (2006.01.01) G11C 16/34 (2006.01.01) H01L 27/115 (2017.01.01)
CPC H01L 27/2463(2013.01) H01L 27/2463(2013.01) H01L 27/2463(2013.01)
출원번호/일자 1020130018146 (2013.02.20)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1415744-0000 (2014.06.30)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140709) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.02.20)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박병국 대한민국 서울특별시 서초구
2 김완동 대한민국 서울특별시 관악구
3 김필종 대한민국 서울특별시 구로구
4 손선익 대한민국 경기도 용인시 수지구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 권오준 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠*차 ****호 (역삼동)(소중한특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.02.20 수리 (Accepted) 1-1-2013-0153751-55
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.10.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2013-0096944-42
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.02.18 수리 (Accepted) 1-1-2014-0155367-17
5 등록결정서
Decision to grant
2014.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0226918-54
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 복수개의 반도체층들이 수직으로 적층되어 일단에 각 비트라인이 연결된 복수개의 액티브라인들과, 상기 복수개의 액티브라인들을 수직으로 교차하며 일정 간격으로 이격되어 형성된 복수개의 스트링선택라인들, 복수개의 워드라인들 및 접지선택라인을 포함하는 단위 빌딩이 하나 이상 배열되어 메모리 빌딩 블록을 구성하되,상기 기판 상에 상기 메모리 빌딩 블록의 일측으로 상기 단위 빌딩과 동일한 구조로 형성되어 상기 복수개의 스트링선택라인들에 의하여 형성된 스트링선택트랜지스터들의 문턱전압을 확인하기 위한 SSL 상태 확인 빌딩이 더 형성된 것을 특징으로 하는 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이
2 2
제 1 항에 있어서,상기 스트링선택트랜지스터들은 상기 각 스트링선택라인에 의하여 수직으로 복수개 적층되되, 하층으로 가며 2 이상의 문턱전압 크기로 증가하거나 감소하는 분포를 갖도록 프로그램된 것을 특징으로 하는 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이
3 3
제 2 항에 있어서,상기 스트링선택트랜지스터들 중 이웃한 스트링선택라인을 따라 수직 적층된 스트링선택트랜지스터들 사이에는 상기 2 이상의 문턱전압 크기가 하층으로 가며 서로 역순으로 증가하거나 감소하는 분포를 갖도록 프로그램된 것을 특징으로 하는 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이
4 4
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 단위 빌딩은 상기 각 액티브라인의 타단이 상기 접지선택라인 하부에서 상기 각 반도체층이 수평으로 연결되고, 상기 접지선택라인의 일측으로 돌출된 상기 각 반도체층에 복수개의 공통접지라인이 연결된 것을 특징으로 하는 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이
5 5
제 4 항에 있어서,상기 단위 빌딩은 상기 접지선택라인의 타측으로 상기 각 반도체층을 수직으로 연결하는 공통 바디가 더 구비된 것을 특징으로 하는 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이
6 6
제 4 항에 있어서,상기 복수개의 스트링선택라인들 및 상기 접지선택라인은 상기 메모리 빌딩 블록의 하나 이상의 단위 빌딩은 물론 상기 SSL 상태 확인 빌딩의 각 대응 라인에 서로 연결되어 상기 메모리 빌딩 블록의 행 디코더에 구비된 각 출력단에 연결되고, 상기 복수개의 워드라인들 및 상기 복수개의 공통접지라인들은 상기 메모리 빌딩 블록과 상기 SSL 상태 확인 빌딩 사이에서 차단되고,상기 메모리 빌딩 블록의 복수개 워드라인들 및 공통접지라인들은 상기 메모리 빌딩 블록의 행 디코더에 구비된 각 출력단에 연결되고, 상기 SSL 상태 확인 빌딩의 복수개 워드라인들 및 공통접지라인들은 상기 메모리 빌딩 블록의 행 디코더와 반대편에 구비된 모니터링 행 디코더의 각 출력단에 연결되고,상기 SSL 상태 확인 빌딩의 각 액티브라인의 일단에 연결된 상기 각 비트라인은 모니터링 페이지 버퍼에 구비된 비트라인 입력단에 연결된 것을 특징으로 하는 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이
7 7
제 6 항에 의한 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이의 상기 스트링선택트랜지스터들의 문턱전압을 모니터링하는 방법에 있어서,상기 복수개의 스트링선택라인들에 상기 복수개의 반도체층들 중 특정 반도체층을 선택하기 위한 전압을 인가하여 상기 메모리 빌딩 블록을 동작시킬 때 상기 모니터링 페이지 버퍼를 통하여 상기 스트링선택트랜지스터들의 문턱전압 이상 유무를 동시에 확인하는 것을 특징으로 하는 스트링선택트랜지스터의 문턱전압 모니터링 방법
8 8
제 7 항에 있어서,상기 SSL 상태 확인 빌딩의 복수개 워드라인들은 모두 각 셀의 채널이 켜질 수 있는 패스 전압을 인가하고,상기 SSL 상태 확인 빌딩의 복수개 공통접지라인들 중 상기 특정 반도체층에 연결된 선택 공통접지라인은 접지, 나머지 비선택 공통접지라인들은 접지보다 높은 전압을 인가하고,상기 접지선택라인은 접지선택트랜지스터의 채널이 켜질 수 있는 턴온 전압을 인가하여,상기 모니터링 페이지 버퍼의 출력이 "1" 이면 정상, "0"이면 비정상으로 상기 스트링선택트랜지스터들의 문턱전압의 상태를 확인하는 것을 특징으로 하는 스트링선택트랜지스터의 문턱전압 모니터링 방법
9 9
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 의한 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이를 구동하는 방법에 있어서,상기 메모리 빌딩 블록이 복수개로 구성되더라도 비정상적인 스트링선택트랜지스터들의 문턱전압 값을 수정하기 위해서 모든 메모리 빌딩 블록의 스트링선택트랜지스터들을 프로그램하지 않고 선택된 메모리 빌딩 블록의 스트링선택트랜지스터들만 프로그램하여 스트링선택트랜지스터들의 프로그램으로 인한 busy status 시간을 분산하는 것을 특징으로 하는 3차원 적층형 낸드 플래시 메모리 어레이의 구동방법
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 서울대학교산학협력단 산업원천기술개발사업 차세대 memory용 3D 적층 신소자 및 핵심 소재 공정 기술 개발