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순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 이용한 공정이상검출 방법

  • 기술번호 : KST2015159873
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 순차적 사슬형태로 구성된 단일클래스 분류기를 이용하여 각종 산업용 설비의 공정 이상을 검출하는 방법으로서, 공정 진행 설비 내부의 상태를 모니터링 하는 센서 데이터를 사용하여, 특징 추출 알고리즘으로 데이터의 차원을 줄여 핵심 정보만을 뽑아내고 그 중 이상 공정 진단에 있어 중요한 역할을 하는 데이터를 선택한 후, 선택된 몇 그룹의 데이터를 각각 단일클래스 분류기 구성 알고리즘으로 학습하여 각 그룹별로 분류기를 구성한 뒤에 공정 진행 순서에 따라 시간적인 전후 관계를 고려하여 순차적으로 배치하여 사슬 형태의 공정이상 검출기를 구성한다. 공정이상 검출, 단일클래스 분류기, 특징 추출
Int. CL G05B 19/418 (2006.01) G05B 23/02 (2006.01)
CPC G05B 23/0275(2013.01) G05B 23/0275(2013.01) G05B 23/0275(2013.01) G05B 23/0275(2013.01) G05B 23/0275(2013.01)
출원번호/일자 1020080008341 (2008.01.28)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단, 주식회사 나노텍
등록번호/일자 10-0980603-0000 (2010.09.01)
공개번호/일자 10-2009-0082536 (2009.07.31) 문서열기
공고번호/일자 (20100907) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.01.28)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구
2 주식회사 나노텍 대한민국 경기도 용인시 수지구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최진영 대한민국 서울 서초구
2 송동성 대한민국 서울 관악구
3 김표재 대한민국 서울 강서구
4 장형진 대한민국 서울 관악구
5 차동호 대한민국 서울시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김도형 대한민국 서울특별시 종로구 종로 **, **층 ***호(공평동, 종로타워)(김도형특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구
2 주식회사 나노텍 대한민국 경기도 용인시 수지구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2008-0066575-34
2 보정요구서
Request for Amendment		 2008.02.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2008-0016557-00
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.02.21 수리 (Accepted) 4-1-2008-5026820-86
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2008.02.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0149645-12
5 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status		 2008.02.29 수리 (Accepted) 1-1-2008-0149745-79
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2009.07.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2009.08.14 수리 (Accepted) 9-1-2009-0046929-23
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2010.01.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0041158-84
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.03.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0193883-96
10 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2010.04.15 수리 (Accepted) 1-1-2010-0239331-73
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2010.04.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0239335-55
12 등록결정서
Decision to grant		 2010.08.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0376356-85
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.06.26 수리 (Accepted) 4-1-2014-5077151-20
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2016-5051690-99
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2016-5051562-53
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2018-0001530-27
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 이용하여 설비의 공정 이상을 검출하는 방법으로서, 상기 설비의 정상 공정을 모니터링한 센서 데이터의 학습 전처리 단계(ST110)와, 상기 전처리된 센서 데이터의 차원을 줄이는 학습 특징추출 단계(ST120)와, 중요 그룹의 데이터에 대한 선택을 제공받는 중요데이터 그룹 선정 단계(ST130)와, 상기 선택된 데이터 그룹별로 학습을 수행하여 세부 공정별로 분류기를 구성하는 세부분류기 구성 단계(ST140)와, 상기 구성된 세부 공정별의 분류기를 공정 진행상의 시간 순서에 따라 배치하여 순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 구성하는 순차적 단일클래스 분류기 구성 단계(ST150)를 포함하는 공정이상 검출기 구성 과정(ST100); 및 상기 설비의 공정 진행을 모니터링하는 센서 데이터에 대하여 상기 공정이상 검출기 구성과정(ST100)에서 획득한 정보를 사용하여 전처리를 수행하는 전처리 단계(ST210)와, 상기 공정이상 검출기 구성 과정(ST100)에서 획득한 정보를 사용하여 상기 전처리된 센서 데이터의 차원을 줄이는 특징추출 단계(ST220)와, 상기 특징추출된 센서 데이터에 대하여 상기 구성된 공정이상 검출기를 적용하여 공정이상 검출 결과를 출력하는 분류기 적용 단계(ST230)를 포함하는 공정이상 검출기 적용 과정(ST200); 를 포함하여 구성되는 순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 이용한 공정이상 검출 방법
2 2
청구항 1에 있어서, 상기 학습 특징추출 단계(ST120) 및 상기 특징추출 단계(ST220)는 각각 상기 전처리된 센서 데이터에 대하여 주성분 분석 및 선형 판별 분석 중 어느 하나에 따른 차원 변환 알고리듬을 적용하여 센서 데이터의 차원을 줄이는 단계;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 이용한 공정이상 검출 방법
3 3
청구항 1 또는 2에 있어서, 상기 세부분류기 구성 단계(ST140)는 상기 선택된 데이터 그룹별로 SVDD 알고리듬, K-근접 이웃 알고리듬, 신경회로망 중 어느 하나에 따른 단일 클래스 분류 알고리듬을 적용하는 단계;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 이용한 공정이상 검출 방법
4 4
청구항 1 또는 3에 있어서, 상기 분류기 적용 단계(ST230)는, 각 분류기의 내부에 일정 개수 이상의 데이터 존재 여부를 고려하는 단계; 한 개 이상 학습된 단일클래스 분류기를 공정의 진행 순서에 따라 시간 순서대로 배열된 분류기가 순서대로 순차적으로 진행되는지 파악하는 단계; 및 한 공정의 시작시점을 나타낸 단일클래스 분류기로부터 다음 공정의 시작 시점을 나타낸 단일클래스 분류기를 통과할 때까지 소요된 총 시간정보를 고려하는 단계; 를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 이용한 공정이상 검출 방법
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 공정이상 검출 방법은, 상기 설비의 공정 진행과 데이터 측정시점이 동기화되는 않은 상태에서 상기 공정 진행을 모니터링하는 센서가 설치된 후, 시작점을 나타낸 분류기를 이용하여 시작점을 찾아내어 공정의 기본 작업 단위별로 공정 이상 진단을 수행하도록 설정하는 과정;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 순차적 사슬형태의 단일클래스 분류기를 이용한 공정이상 검출 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.