맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

삼차원 영상 정보 획득 방법 및 이를 구현한 컴퓨팅 장치

  • 기술번호 : KST2019024039
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 한 실시예에 따른 삼차원 영상 정보 획득 방법은, 패턴을 갖는 구조광이 조사된 대상 객체를 촬영하여 획득된 이차원 영상 정보로부터 삼차원 영상 정보를 획득하는 방법으로서, 상기 이차원 영상 정보로부터, 상기 구조광이 조사되지 않았을 경우의 상기 대상 객체에 대응하는 추정된 비패턴(pattern-free) 영상 정보를 획득하는 단계 상기 이차원 영상 정보로부터 상기 추정된 비패턴 영상 정보를 제거하여 추정된 패턴 유일(pattern-only) 영상 정보를 획득하는 단계 상기 추정된 패턴 유일 영상 정보로부터 제1 디스패리티 맵(disparity map)을 획득하는 단계 및 상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 제1 알베도 맵(albedo map)을 획득하는 단계를 포함한다.
Int. CL G06T 7/00 (2017.01.01) H04N 13/20 (2018.01.01)
CPC G06T 7/521(2013.01) G06T 7/521(2013.01) G06T 7/521(2013.01) G06T 7/521(2013.01)
출원번호/일자 1020160103191 (2016.08.12)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1765257-0000 (2017.07.31)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170804) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.08.12)
심사청구항수 16

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 권인소 대한민국 대전광역시 유성구
2 하효원 대한민국 대전광역시 유성구
3 박재식 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.08.12 수리 (Accepted) 1-1-2016-0787593-99
2 등록결정서
Decision to grant		 2017.07.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0471662-55
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
패턴을 갖는 구조광이 조사된 대상 객체를 촬영하여 획득된 이차원 영상 정보로부터 삼차원 영상 정보를 획득하는 방법으로서,상기 이차원 영상 정보로부터, 상기 구조광이 조사되지 않았을 경우의 상기 대상 객체에 대응하는 추정된 비패턴(pattern-free) 영상 정보를 획득하는 단계;상기 이차원 영상 정보로부터 상기 추정된 비패턴 영상 정보를 제거하여 추정된 패턴 유일(pattern-only) 영상 정보를 획득하는 단계;상기 추정된 패턴 유일 영상 정보로부터 제1 디스패리티 맵(disparity map)을 획득하는 단계; 및상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 제1 알베도 맵(albedo map)을 획득하는 단계를 포함하는삼차원 영상 정보 획득 방법
2 2
제1 항에 있어서,상기 제1 디스패리티 맵 및 상기 제1 알베도 맵을 이용하여 상기 이차원 영상 정보에 대응하는 추정된 이차원 영상 정보를 획득하는 단계; 및상기 이차원 영상 정보와 상기 추정된 이차원 영상 정보의 차이가 최소가 되도록하는 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵을 획득하는 단계를 더 포함하는삼차원 영상 정보 획득 방법
3 3
제1 항에 있어서,상기 추정된 비패턴 영상 정보를 획득하는 단계는:상기 이차원 영상 정보의 각 컬러 채널에 대해서 영역 단위로 복수의 최대 밝기 지점을 획득하는 단계; 및상기 복수의 최대 밝기 지점 사이의 중간 지점들에 대해 보간법(interpolation)을 적용하여 각 중간 지점에 대한 밝기 값을 획득하는 단계를 포함하는,삼차원 영상 정보 획득 방법
4 4
제1 항에 있어서,상기 제1 디스패리티 맵을 획득하는 단계는:상기 추정된 패턴 유일 영상 정보에서 패턴의 위상을 획득하는 단계;상기 패턴의 위상을 이용하여 풀린 위상(unwrapped phase)을 획득하는 단계; 및상기 풀린 위상을 이용하여 상기 제1 디스패리티 맵을 획득하는 단계를 포함하는,삼차원 영상 정보 획득 방법
5 5
제1 항에 있어서,제1 알베도 맵을 획득하는 단계는:상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체의 표면 법선 벡터를 획득하는 단계;상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체에 조사되는 입사광 방향 벡터를 획득하는 단계; 및상기 추정된 비패턴 영상 정보로부터 상기 표면 법선 벡터 및 상기 입사광 방향 벡터를 제거하여 상기 제1 알베도 맵을 획득하는 단계를 포함하는,삼차원 영상 정보 획득 방법
6 6
제2 항에 있어서,제1 알베도 맵을 획득하는 단계는:상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체의 표면 법선 벡터를 획득하는 단계;상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체에 조사되는 입사광 방향 벡터를 획득하는 단계; 및상기 추정된 비패턴 영상 정보로부터 상기 표면 법선 벡터 및 상기 입사광 방향 벡터를 제거하여 상기 제1 알베도 맵을 획득하는 단계를 포함하고,상기 추정된 이차원 영상 정보를 획득하는 단계는:상기 표면 법선 벡터, 상기 입사광 방향 벡터, 상기 제1 알베도 맵, 및 상기 구조광의 밝기 정보를 이용하여 상기 추정된 이차원 영상 정보를 획득하는 단계인,삼차원 영상 정보 획득 방법
7 7
제2 항에 있어서,상기 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵을 획득하는 단계는:각 픽셀의 알베도가 인접한 픽셀의 알베도와 차이가 최소가 되도록 하는 단계를 더 포함하는,삼차원 영상 정보 획득 방법
8 8
제7 항에 있어서,상기 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵을 획득하는 단계는:각 픽셀의 디스패리티가 인접한 픽셀의 디스패리티와 차이가 최소가 되도록 하는 단계를 더 포함하는,삼차원 영상 정보 획득 방법
9 9
패턴을 갖는 구조광이 조사된 대상 객체를 촬영하여 획득된 이차원 영상 정보로부터 삼차원 영상 정보를 획득하는 컴퓨팅 장치로서,상기 이차원 영상 정보로부터, 상기 구조광이 조사되지 않았을 경우의 상기 대상 객체에 대응하는 추정된 비패턴 영상 정보를 획득하는 추정된 비패턴 영상 정보 획득부;상기 이차원 영상 정보로부터 상기 추정된 비패턴 영상 정보를 제거하여 추정된 패턴 유일 영상 정보를 획득하는 추정된 패턴 유일 영상 정보 획득부;상기 추정된 패턴 유일 영상 정보로부터 제1 디스패리티 맵을 획득하는 제1 디스패리티 맵 획득부; 및상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 제1 알베도 맵을 획득하는 제1 알베도 맵 획득부를 포함하는컴퓨팅 장치
10 10
제9 항에 있어서,상기 제1 디스패리티 맵 및 상기 제1 알베도 맵을 이용하여 상기 이차원 영상 정보에 대응하는 추정된 이차원 영상 정보를 획득하는 추정된 이차원 영상 정보 획득부 및상기 이차원 영상 정보와 상기 추정된 이차원 영상 정보의 차이가 최소가 되도록하는 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵을 획득하는 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵 획득부를 더 포함하는컴퓨팅 장치
11 11
제9 항에 있어서,상기 추정된 비패턴 영상 정보 획득부는상기 이차원 영상 정보의 각 컬러 채널에 대해서 영역 단위로 복수의 최대 밝기 지점을 획득하고,상기 복수의 최대 밝기 지점 사이의 중간 지점들에 대해 보간법을 적용하여 각 중간 지점에 대한 밝기 값을 획득하는,컴퓨팅 장치
12 12
제9 항에 있어서,상기 제1 디스패리티 맵 획득부는상기 추정된 패턴 유일 영상 정보에서 패턴의 위상을 획득하고,상기 패턴의 위상을 이용하여 풀린 위상을 획득하고,상기 풀린 위상을 이용하여 상기 제1 디스패리티 맵을 획득하는,컴퓨팅 장치
13 13
제9 항에 있어서,상기 제1 알베도 맵 획득부는상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체의 표면 법선 벡터를 획득하고,상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체에 조사되는 입사광 방향 벡터를 획득하고,상기 추정된 비패턴 영상 정보로부터 상기 표면 법선 벡터 및 상기 입사광 방향 벡터를 제거하여 상기 제1 알베도 맵을 획득하는,컴퓨팅 장치
14 14
제10 항에 있어서,상기 제1 알베도 맵 획득부는상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체의 표면 법선 벡터를 획득하고,상기 제1 디스패리티 맵을 이용하여 상기 대상 객체에 조사되는 입사광 방향 벡터를 획득하고,상기 추정된 비패턴 영상 정보로부터 상기 표면 법선 벡터 및 상기 입사광 방향 벡터를 제거하여 상기 제1 알베도 맵을 획득하고,상기 추정된 이차원 영상 정보 획득부는상기 표면 법선 벡터, 상기 입사광 방향 벡터, 상기 제1 알베도 맵, 및 상기 구조광의 밝기 정보를 이용하여 상기 추정된 이차원 영상 정보를 획득하는,컴퓨팅 장치
15 15
제10 항에 있어서,상기 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵 획득부는상기 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵을 획득하는 데 있어서 각 픽셀의 알베도가 인접한 픽셀의 알베도와 차이가 최소가 되도록 하는,컴퓨팅 장치
16 16
제10 항에 있어서,상기 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵 획득부는상기 제2 디스패리티 맵 및 제2 알베도 맵을 획득하는 데 있어서 각 픽셀의 디스패리티가 인접한 픽셀의 디스패리티와 차이가 최소가 되도록 하는,컴퓨팅 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.