요약 | 본 발명은 질화물 반도체 소자 및 그 소자의 제조 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 실시예에 따른 질화물 반도체 소자는 기판상에서 거리를 두고 배치된 질화물계의 제1 전극 및 제2 전극, 제1 전극 및 상기 제2 전극을 연결하는 질화물계의 채널층, 채널층을 감싸는 절연층, 및 절연층상에서 절연층을 감싸며 형성되는 제3 전극을 포함한다. |
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Int. CL | H01L 29/778 (2006.01) H01L 21/335 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020120114873 (2012.10.16) |
출원인 | 경북대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1395026-0000 (2014.05.08) |
공개번호/일자 | 10-2014-0048657 (2014.04.24) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20140515) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2012.10.16) |
심사청구항수 | 16 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 경북대학교 산학협력단 | 대한민국 | 대구광역시 북구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 이정희 | 대한민국 | 대구광역시 수성구 |
2 | 임기식 | 대한민국 | 대구광역시 북구 |
3 | 김동석 | 대한민국 | 대구광역시 동구 |
4 | 강희성 | 대한민국 | 대구광역시 북구 |
5 | 손동혁 | 대한민국 | 경상북도 김천시 문지왈길 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 이현수 | 대한민국 | 서울특별시 마포구 백범로 ***(신공덕동) 메트로디오빌빌딩 ****호(이현수상표특허법률사무소) |
2 | 정홍식 | 대한민국 | 서울시 서초구 강남대로 *** 신덕빌딩 *층(나우특허법률사무소) |
3 | 김태헌 | 대한민국 | 서울시 서초구 강남대로 *** 신덕빌딩 *층(나우특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 경북대학교 산학협력단 | 대구광역시 북구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2012.10.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0840281-99 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2012.11.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0919216-61 |
3 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2013.05.03 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2013.06.05 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0041475-63 |
5 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2013.08.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0592422-15 |
6 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2013.10.28 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0972003-65 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2013.10.28 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0972000-28 |
8 | 등록결정서 Decision to grant |
2014.03.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0219238-51 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2018.03.26 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5051994-32 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.06.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5136893-04 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 기판상에 형성된 고저항의 질화물층;상기 고저항의 질화물층 상에서, '서로 거리를 두고 배치된 질화물계의 제1 전극 및 제2 전극';상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 연결하는 질화물계의 채널층;상기 채널층을 감싸는 절연층; 및상기 절연층상에서 상기 절연층을 감싸며 형성되는 제3 전극;을포함하는 질화물 반도체 소자 |
2 |
2 제1항에 있어서,상기 제1 전극, 상기 제2 전극 및 상기 채널층은 동일 물질로 일체화되어 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 |
3 |
3 제2항에 있어서,상기 고저항의 질화물층은 고저항의 질화갈륨(GaN) 층이며,상기 제1 전극, 상기 제2 전극 및 상기 채널층은 실리콘이 도핑된 질화갈륨(GaN)으로 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 |
4 |
4 제1항에 있어서,상기 제1 전극에서 제2 전극으로 향하는 방향과 수직한 방향으로의 상기 채널층의 형성 너비(W)는 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 너비와 다른 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 |
5 |
5 제1항에 있어서,상기 제1 전극, 상기 제2 전극 및 상기 채널층은 상기 기판상에 형성된 두께 및 너비가 나노(nano) 사이즈인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 |
6 |
6 기판상에 고저항의 질화물층을 형성하는 단계;상기 고저항의 질화물층 상에서 '서로 거리를 두어 질화물계의 제1 전극 및 제2 전극을 형성'하는 단계;상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 연결하는 질화물계의 채널층을 형성하는 단계;상기 채널층을 감싸는 절연층을 형성하는 단계; 및상기 절연층상에서 상기 절연층을 감싸는 제3 전극을 형성하는 단계;를포함하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
7 |
7 제6항에 있어서,상기 제1 전극, 상기 제2 전극 및 상기 채널층은 동일 물질로 일체화되어 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
8 |
8 제7항에 있어서,상기 고저항의 질화물층은, 고저항의 질화갈륨(GaN) 층으로 형성하며,상기 제1 전극, 상기 제2 전극 및 상기 채널층은 실리콘이 도핑된 질화갈륨(GaN)으로 형성하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
9 |
9 제6항에 있어서,상기 제1 전극에서 제2 전극으로 향하는 방향과 수직한 방향으로의 상기 채널층의 형성 너비(W)는 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극의 너비와 다른 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
10 |
10 제6항에 있어서,상기 제1 전극, 상기 제2 전극 및 상기 채널층은 상기 기판상에서 두께 및 너비를 나노(nano) 사이즈로 형성하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
11 |
11 기판을 준비하는 단계;상기 기판상에 제1 질화갈륨층을 형성하는 단계;상기 제1 질화갈륨층상에 제2 질화갈륨층을 형성하는 단계;상기 제2 질화갈륨층을 식각하여 상기 기판상에서 이격된 제1 전극 및 제2 전극과, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 연결하는 채널층을 형성하는 단계;상기 채널층상에 절연층을 형성하는 단계; 및상기 절연층상에 제3 전극을 형성하는 단계;를포함하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
12 |
12 제11항에 있어서,상기 제1 질화갈륨층은 고저항의 질화갈륨으로 형성되고,상기 제2 질화갈륨층은 실리콘이 도핑된 질화갈륨으로 형성되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
13 |
13 제11항에 있어서,상기 기판상에 형성된 상기 제1 전극, 상기 제2 전극 및 상기 채널층의 두께 및 너비는 나노 사이즈인 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자의 제조 방법 |
14 |
14 관통 홀을 갖는 기판상에서 거리를 두고 배치된 질화물계의 제1 전극 및 제2 전극;상기 제1 전극 및 상기 제2 전극을 연결하는 질화물계의 채널층;상기 채널층을 감싸는 절연층; 및상기 기판의 양면에서 상기 관통 홀을 통해 서로 전기적으로 연결되며, 상기 절연층을 감싸며 형성되는 제3 전극;을포함하는 질화물 반도체 소자 |
15 |
15 제14항에 있어서,상기 기판은 상기 관통 홀을 통해 상기 제3 전극의 양단을 노출시키며,상기 제3 전극은 상기 양단이 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 |
16 |
16 제15항에 있어서,상기 기판은 상기 관통 홀을 통해 상기 채널층을 추가로 노출시키며,상기 노출된 상기 채널층상에 형성되는 절연층;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 질화물 반도체 소자 |
지정국 정보가 없습니다 |
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순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US09035319 | US | 미국 | FAMILY |
2 | US20140103352 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US2014103352 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
2 | US9035319 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 교육과학기술부 | 경북대학교 | 지방대학경쟁력기반확충(지방 세계수준 연구중심대학 육성_일반) | 3차원 반도체 소자의 제작, 분석 그리고 모델링에 관한 연구 |
특허 등록번호 | 10-1395026-0000 |
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표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20121016 출원 번호 : 1020120114873 공고 연월일 : 20140515 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20140328 청구범위의 항수 : 16 유별 : H01L 29/778 발명의 명칭 : 질화물 반도체 소자 및 그 소자의 제조 방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
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1 |
(권리자) 경북대학교 산학협력단 대구광역시 북구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 334,500 원 | 2014년 05월 09일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 274,400 원 | 2017년 04월 17일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 196,000 원 | 2018년 04월 30일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 196,000 원 | 2019년 04월 29일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 354,000 원 | 2020년 04월 29일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2012.10.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0840281-99 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2012.11.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0919216-61 |
3 | 선행기술조사의뢰서 | 2013.05.03 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 | 2013.06.05 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0041475-63 |
5 | 의견제출통지서 | 2013.08.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0592422-15 |
6 | [명세서등 보정]보정서 | 2013.10.28 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0972003-65 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2013.10.28 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0972000-28 |
8 | 등록결정서 | 2014.03.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0219238-51 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2018.03.26 | 수리 (Accepted) | 4-1-2018-5051994-32 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.06.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5136893-04 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1345165006 |
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세부과제번호 | R33-2011-000-10055-0 |
연구과제명 | 3차원 반도체 소자의 제작, 분석 그리고 모델링에 관한 연구 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 경북대학교 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 200812~201308 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345169029 |
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세부과제번호 | 2008-0062430 |
연구과제명 | MOCVD를 이용하여 실리콘 기판 위에 선택적 GaN계 박막 성장 기술 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 경북대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 200809~201502 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345175564 |
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세부과제번호 | 2011-0016222 |
연구과제명 | AlGaN/GaN기반의 차세대 대전력/고효율 전력 소자 및 인버터/컨버터 IC 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 경북대학교 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 201105~201604 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1415122114 |
---|---|
세부과제번호 | 10038766 |
연구과제명 | 차세대 데이터센터용 에너지절감 반도체 기술 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 한국전자통신연구원 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 201103~201602 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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