맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기 및 복호화 방법

  • 기술번호 : KST2015159576
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 저밀도 패리티 검사(Low Density Parity Check; 이하, LDPC) 부호를 비동기적으로 병렬 복호화하기 위한 복호화기 및 방법을 제시한다. 본 발명의 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기는 체크노드 업데이트부 및 비트노드 업데이트부의 처리 결과를 저장하는 메모리, 체크노드 업데이트부가 구동되기 전, 비트노드 업데이트부가 이전 복호 과정에서 비트노드 업데이트 과정을 완료하였는지 확인하고, 비트노드 업데이트부가 구동되기 전, 체크노드 업데이트부가 이전 복호 과정에서 체크노드 업데이트 과정을 완료하였는지 확인하는 프로세스 확인부 및 프로세스 확인부의 확인 결과, 이전 복호 과정에서의 비트노드 업데이트가 완료되지 않은 경우, 업데이트가 완료되지 않은 비트노드 이전의 비트노드 업데이트 결과를 메모리로부터 추출하여 체크노드 업데이트부로 제공하고, 이전 복호 과정에서의 체크노드 업데이트가 완료되지 않은 경우 업데이트가 완료되지 않은 체크노드 이전의 체크노드 업데이트 결과를 메모리로부터 추출하여 비트노드 업데이트부로 제공하는 처리 결과 제공부를 포함하여, 복호화 속도를 향상시킬 수 있고 전력 소모량을 감소시킬 수 있다. LDPC, 복호화
Int. CL H03M 13/11 (2006.01)
CPC H03M 13/1134(2013.01) H03M 13/1134(2013.01)
출원번호/일자 1020070021793 (2007.03.06)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-0919779-0000 (2009.09.24)
공개번호/일자 10-2008-0081586 (2008.09.10) 문서열기
공고번호/일자 (20091001) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.03.06)
심사청구항수 10

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이정우 대한민국 경기 성남시 분당구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김성남 대한민국 서울특별시 송파구 법원로*길 **(문정동) 에이치비즈니스파크 C동 ***호(에스엔케이특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2007.03.06 수리 (Accepted) 1-1-2007-0183184-17
2 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items		 2007.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2007-0201894-38
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.01.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2008-5015497-73
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.02.13 수리 (Accepted) 9-1-2008-0006646-46
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0230796-12
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2008.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2008-0469947-12
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2008.06.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0469946-66
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2008.11.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0595202-30
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2009-0053484-18
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2009.02.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0118936-12
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2009.02.26 수리 (Accepted) 1-1-2009-0118937-57
13 등록결정서
Decision to grant		 2009.06.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0266971-28
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
초기화부, 체크노드 업데이트부, 비트노드 업데이트부 및 판정부를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기로서, 상기 체크노드 업데이트부 및 상기 비트노드 업데이트부의 처리 결과를 저장하는 메모리; 상기 체크노드 업데이트부가 구동되기 전, 상기 비트노드 업데이트부가 이전 복호 과정에서 비트노드 업데이트 과정을 완료하였는지 확인하고, 상기 비트노드 업데이트부가 구동되기 전, 상기 체크노드 업데이트부가 이전 복호 과정에서 체크노드 업데이트 과정을 완료하였는지 확인하는 프로세스 확인부; 및 상기 프로세스 확인부의 확인 결과, 이전 복호 과정에서의 비트노드 업데이트가 완료되지 않은 경우, 업데이트가 완료되지 않은 비트노드 이전의 비트노드 업데이트 결과를 상기 메모리로부터 추출하여 상기 체크노드 업데이트부로 제공하고, 이전 복호 과정에서의 체크노드 업데이트가 완료되지 않은 경우 업데이트가 완료되지 않은 체크노드 이전의 체크노드 업데이트 결과를 상기 메모리로부터 추출하여 비트노드 업데이트부로 제공하는 처리 결과 제공부; 를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 처리 결과 제공부는, 상기 프로세스 확인부의 확인 결과, 이전 복호 과정에서 비트노드 업데이트가 완료된 경우, 상기 메모리로부터 이전 비트노드에 대한 비트노드 업데이트 결과를 추출하여 상기 체크노드 업데이트부로 제공하고, 상기 프로세스 확인부의 확인 결과, 이전 복호 과정에서 체크노드 업데이트가 완료된 경우, 상기 메모리로부터 이전 체크노드에 대한 체크노드 업데이트 결과를 추출하여 상기 비트노드 업데이트부로 제공하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 체크노드 업데이트부 및 상기 비트노드 업데이트부는 각각 별도의 프로세서에 의해 구동되는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 초기화부는, 각각의 비트노드 및 체크노드에 대하여, 상기 비트노드가 체크노드로 전달하는 확률이 0인 경우에 대한 비트노드가 체크노드로 전달하는 확률이 1인 경우의 로그 우도 비율을 산출하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 체크노드 업데이트부는, 각각의 비트노드 및 체크노드에 대하여, 비트노드가 체크노드로 전달하는 확률이 0인 경우에 대한 비트노드가 체크노드로 전달하는 확률이 1인 경우의 로그 우도 비율에 대한 정보를 수집하고, 상기 비트노드 0에 집합되는 체크노드의 확률 정보에 대한 비트노드 1에 집합되는 체크노드의 확률 정보의 로그 우도 비율을 산출하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기
6 6
제 1 항 또는 제 5 항에 있어서, 상기 비트노드 업데이트부는, 각각의 비트노드 및 체크노드에 대하여, 체크노드가 비트노드로 전달하는 확률이 0인 경우에 대한 체크노드가 비트노드로 전달하는 확률이 1인 경우의 로그 우도 비율에 대한 정보를 수집하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 판정부는, 각각의 비트노드에 연결된 모든 체크노드들로부터의 정보를 더함으로써 각 비트노드를 위한 총 사후 확률을 예측하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화기
8 8
저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화 방법으로서, 저밀도 패리티 검사 부호에 의해 부호화된 신호가 전송됨에 따라, 상기 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 검사 행렬에 포함된 비트노드에 대하여 초기화를 수행하는 제 1 단계; 상기 검사 행렬에 포함된 체크노드 업데이트를 수행하고, 체크노드 업데이트가 완료된 경우 그 결과를 저장하는 제 2 단계; 이전 복호 과정의 체크노드 업데이트가 완료되었는지 확인하는 제 3 단계; 상기 이전 복호 과정의 상기 체크노드 업데이트가 완료되지 않은 경우, 업데이트가 완료되지 않은 체크노드 이전의 업데이트 완료된 체크노드 업데이트 결과를 추출하는 제 4 단계; 상기 업데이트가 완료되지 않은 체크노드 이전의 업데이트 완료된 체크노드 업데이트 결과를 이용하여 비트노드 업데이트를 수행하고, 비트노드 업데이트가 완료된 경우 그 결과를 저장하는 제 5 단계; 이전 복호 과정의 비트노드 업데이트가 완료되었는지 확인하는 제 6 단계; 상기 이전 복호 과정의 비트노드 업데이트가 완료되지 않은 경우 업데이트가 완료되지 않은 비트노드 이전의 업데이트 완료된 비트노드 업데이트 결과를 추출하는 제 7 단계; 상기 업데이트가 완료되지 않은 비트노드 이전의 업데이트 완료된 비트노드 업데이트 결과를 이용하여 복호화가 완료되었는지 확인하는 제 8 단계; 상기 제 8 단계의 확인 결과 복호화가 완료되지 않은 경우 상기 제 7 단계에서 추출한 비트노드 업데이트 결과를 이용하여 상기 체크노드 업데이트를 수행하도록 상기 제 2 단계로 복귀하는 제 9 단계; 를 포함하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 제 3 단계의 확인 결과, 상기 이전 복호 과정의 체크노드 업데이트가 완료된 경우, 상기 제 4 단계는 상기 이전 복호 과정의 체크노드 업데이트 결과를 추출하는 단계이며, 상기 제 5 단계는 상기 이전 복호 과정의 체크노드 업데이트 결과를 이용하여 비트노드 업데이트를 수행하고, 비트노드 업데이트가 완료된 경우 그 결과를 저장하는 단계인 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화 방법
10 10
제 8 항에 있어서, 상기 제 6 단계의 확인 결과, 상기 이전 복호 과정의 비트노드 업데이트가 완료된 경우, 상기 제 7 단계는 상기 이전 복호 과정의 비트노드 업데이트 결과를 추출하는 단계이고, 상기 제 8 단계는 상기 제 7 단계에서 추출한 비트노드 업데이트 결과에 따라 복호화가 완료되었는지 확인하는 단계인 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호를 위한 복호화 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.