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그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자 및 이의 제조방법

  • 기술번호 : KST2014046634
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 그라핀 옥사이드를 플렉서블 저항변화 메모리 소자로 활용하기 위하여 전압에 따라 저항 변화 특성을 보일 수 있는 메모리 소자 구조를 플렉서블 기판 상에 형성함으로써 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작방법을 개시한다. 이 방법은 a) 기판 상에 하부 전극 층을 형성하는 단계, b) 상기 형성된 하부 전극 층 위에 그라핀 옥사이드 층을 형성하는 단계, 및 c) 형성된 그라핀 옥사이드 층 위에 상부 전극 층을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H01L 27/115 (2006.01) H01L 21/8247 (2006.01)
CPC G11C 13/0004(2013.01) G11C 13/0004(2013.01)
출원번호/일자 1020100024503 (2010.03.19)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자 10-1089066-0000 (2011.11.28)
공개번호/일자 10-2011-0105408 (2011.09.27) 문서열기
공고번호/일자 (20111206) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.03.19)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조병진 대한민국 대전광역시 유성구
2 홍슬기 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이달로 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로 **길 ** 네오클래식 ***호(이달로특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.03.19 수리 (Accepted) 1-1-2010-0174109-96
2 보정요구서
Request for Amendment
2010.03.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0027700-49
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.04.28 수리 (Accepted) 1-1-2010-0274562-78
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2010.04.30 수리 (Accepted) 1-1-2010-0281323-37
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.06.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0304261-60
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.07.30 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0591696-13
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.07.30 수리 (Accepted) 1-1-2011-0591697-69
8 등록결정서
Decision to grant
2011.08.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0480227-01
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
다음의 단계를 포함하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법: (a) 플렉서블 기판 상에 하부 전극 층을 형성하고 자외선 처리를 수행하는 단계; (b) 상기 형성된 하부 전극 층 위에 메탄올과 물을 혼합한 그라핀 옥사이드 용액을 스핀코팅법을 사용하여 그라핀 옥사이드 층을 형성하되 일회의 스핀코팅으로 3nm 두께를 만들고 이를 반복하여 원하는 두께로 층을 형성하며, 스핀코팅과 동시에 질소를 주입하는 단계; 및 (c) 형성된 그라핀 옥사이드 층 위에 상부 전극 층을 형성하고 500℃이하로 열처리하는 단계
2 2
제 1항에 있어서, 상기 (a) 단계에서 기판은 폴리에틸렌 테레프탈레이트 (PET), 폴리에테르설폰 (PES) 플라스틱 기판중 하나를 포함하여 제작되는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 (a) 단계에서 기판위에 형성되는 하부 전극은 알루미늄 (Al), 니켈(Ni), 플래티늄(Pt), 금(Au), 구리(Cu), 루테늄(Ru), 코발트(Co), 납(Pd), 또는 인듐 틴 옥사이드 (ITO) 중 하나를 이용하여 제작되는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
4 4
제 3항에 있어서, 하부 전극은 인듐 틴 옥사이드(ITO) 또는 알루미늄(Al)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
5 5
제 1항에 있어서, 상기 (b) 단계는 초음파 분해를 통하여 그라핀 옥사이드 입자의 크기를 조절하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
6 6
제 1항에 있어서, 상기 (b) 단계에서 그라핀 옥사이드 층의 두께는 스핀코팅 횟수와 그라핀 옥사이드 용액의 그라핀 옥사이드 입자의 크기 및 농도에 따라 결정되는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
7 7
제 1항에 있어서, 상기 (b) 단계는 형성된 그라핀 옥사이드층을 열처리 하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
8 8
제 7항에 있어서, 상기 열처리는 상기 (b) 단계에서 형성된 그라핀 옥사이드 층을 500℃이하에서 처리하는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
9 9
제 8항에 있어서, 상기 열처리는 전열기를 이용하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
10 10
제 1항에 있어서, 상기 (b) 단계에서 그라핀 옥사이드 층의 두께는 25~35nm를 이루는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
11 11
제 10항에 있어서, 상기 (b) 단계에서 그라핀 옥사이드 층의 두께는 30nm를 이루는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
12 12
제 1항에 있어서, 상기 (c) 단계에서 상기 상부전극의 형성은 500℃ 이하의 내부 온도를 갖는 장비를 이용하는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
13 13
제 1항에 있어서, 상기 (c) 단계에서 그라핀 옥사이드 층위에 형성되는 상부 전극은 알루미늄 (Al), 니켈(Ni), 플래티늄(Pt), 금(Au), 구리(Cu), 루테늄(Ru), 코발트(Co), 납(Pd), 또는 인듐 틴 옥사이드 (ITO) 중 하나를 이용하여 제작되는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
14 14
제 13항에 있어서, 상부 전극은 금(Au) 또는 알루미늄(Al)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자의 제작 방법
15 15
다음의 공정을 통해 제작된 그라핀 옥사이드를 이용한 플렉서블 저항변화 메모리 소자: (a) 플렉서블 기판 상에 하부 전극 층을 형성하고 자외선 처리를 수행하는 공정; (b) 상기 형성된 하부 전극 층 위에 메탄올과 물을 혼합한 그라핀 옥사이드 용액을 이용하고 스핀코팅법을 사용하여 그라핀 옥사이드 층을 형성하되 일회의 스핀코팅으로 3nm 두께를 만들고 이를 반복하여 원하는 두께로 층을 형성하며, 스핀코팅과 동시에 질소를 주입하는 공정; 및(c) 형성된 그라핀 옥사이드 층 위에 상부 전극 층을 형성하고 500℃이하로 열처리하는 공정
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.