요약 | 블록공중합체를 이용한 상변화 메모리 소자 및 그 제조방법이 제공된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 상변화 메모리 소자는 전극층 및 상기 전극층과 접촉하며, 상기 전극층으로부터 발생한 열에 따라 결정형으로 상변화가 발생하는 상변화층을 포함하는 상변화 메모리 소자에 있어서, 상기 전극층과 상변화층 사이에는 마스크층을 포함하며, 여기에서 상기 마스크층은 자기조립된 블록공중합체 중 일부 중합체 블록 영역이 선택적으로 제거되는 방식으로 패터닝된 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 상변화 메모리 소자 제조방법은 블록공중합체의 자기조립 구조를 이용, 상변화층과 전극층 사이의 접촉면적을 제어, 감소시키므로, 소자의 리셋 전류를 감소시킬 수 있다. 더 나아가, 블록공중합체의 자기조립 특성을 이용, 마스크층을 제조하므로, 리쏘그래피-식각 공정을 통한 마스크 주형 제조방식에 비하여 보다 경제적인 상변화 메모리 소자를 제조할 수 있다. |
---|---|
Int. CL | H01L 27/115 (2006.01) H01L 21/8247 (2006.01) |
CPC | H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020100131807 (2010.12.21) |
출원인 | 한국과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-1166434-0000 (2012.07.11) |
공개번호/일자 | 10-2012-0070302 (2012.06.29) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20120719) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2010.12.21) |
심사청구항수 | 14 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 이정용 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
2 | 윤종문 | 대한민국 | 대전광역시 서구 |
3 | 정후영 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
4 | 김용인 | 대한민국 | 울산광역시 중구 |
5 | 김청수 | 대한민국 | 충청북도 청주시 흥덕구 |
6 | 김성규 | 대한민국 | 충청북도 청주시 흥덕구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 특허법인 다해 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 삼성로***, *층(삼성동,고운빌딩) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2010.12.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0845194-17 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2011.09.09 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2011.10.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0079994-02 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.12.23 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0763719-67 |
5 | [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 [Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief) |
2012.02.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0148005-61 |
6 | [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 [Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief) |
2012.03.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0233949-18 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2012.04.03 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0266239-72 |
8 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2012.04.03 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0266240-18 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2012.04.25 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0328777-56 |
10 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2012.04.25 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2012-0328778-02 |
11 | 최후의견제출통지서 Notification of reason for final refusal |
2012.04.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0238978-39 |
12 | 등록결정서 Decision to grant |
2012.06.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0369223-26 |
13 | [일부 청구항 포기]취하(포기)서 [Abandonment of Partial Claims] Request for Withdrawal (Abandonment) |
2012.07.11 | 수리 (Accepted) | 2-1-2012-0342892-17 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 전극층 및 상기 전극층과 접촉하며, 상기 전극층으로부터 발생한 열에 따라 결정형으로 상변화가 발생하는 상변화층을 포함하는 상변화 메모리 소자에 있어서, 상기 전극층과 상변화층 사이에는 마스크층을 포함하며, 여기에서 상기 마스크층은 열처리 방식에 따라 자기조립된 블록공중합체 중 일부 중합체 블록 영역이 선택적으로 제거된 블록공중합체이며, 상기 일부 중합체 블록 영역의 제거에 따라 상기 마스크층에는 상하가 연통하는 복수 개의 홀이 형성되고, 상기 선택적으로 제거된 중합체 블록 영역에서 상기 상변화층과 전극층은 접촉하며, 상기 전극층에서 발생한 열 발생에 따라 상기 상변화층의 결정형이 변화되는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 |
2 |
2 삭제 |
3 |
3 제 1항에 있어서, 상기 블록공중합체 중 선택적으로 제거되지 않은 중합체 블록 영역에서는 상기 상변화층과 전극층이 접촉되지 않는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 |
4 |
4 삭제 |
5 |
5 제 1항에 있어서, 상기 전극층은 질화티타늄(TiN), 상기 상변화층은 칼코게나이드 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 |
6 |
6 제 1항에 있어서, 상기 블록공중합체는 폴리스티렌-폴리메타크릴레이트 블록공중합체(PS-b-PMMA)이며, 상기 열처리에 의하여 폴리스티렌 기재에 폴리메타크릴레이트가 실린더 형상으로 자기조립되고, 여기에서 제거되는 상기 일부 중합체 블록은 폴리메타크릴레이트 영역인 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 |
7 |
7 제 1항에 있어서, 상기 블록공중합체는 폴리스티렌-폴리디메틸실록산 블록공중합체(PS-b-PDMS)이며, 상기 열처리에 의하여 폴리스티렌 기재에 폴리디메틸실록산이 실린더 형상으로 자기조립되고, 여기에서 제거되는 상기 일부 중합체 블록은 폴리디메틸실록산 영역인 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 |
8 |
8 제 1항에 있어서, 상기 전극층은 상기 상변화층을 사이에 두는 상부전극층 및 하부전극층을 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 |
9 |
9 상변화층 및 상기 상변화층에 열을 인가하기 위한 전극층을 포함하는 상변화 메모리 소자의 제조방법에 있어서, 상기 전극층 상에 블록공중합체로 이루어진 마스크층을 적층한 후, 열처리에 의하여 상기 마스크층을 자기조립시키는 단계;자기조립된 상기 마스크층의 일부 중합체 블록을 제거하여, 상기 마스크층을 패터닝하는 단계; 및상기 마스크층 상에 상변화층을 적층하는 단계를 포함하며, 여기에서 상기 제거된 중합체 블록 영역에서 상기 상변화층과 전극층은 서로 접촉하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법 |
10 |
10 제 9항에 있어서, 상기 전극층은 질화티타늄(TiN), 상기 상변화층은 칼코게나이드 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 제조방법 |
11 |
11 제 9항에 있어서, 상기 블록공중합체는 폴리스티렌-폴리메타크릴레이트 블록공중합체(PS-b-PMMA)이며, 상기 열처리에 의하여 폴리스티렌 기재에 폴리메타크릴레이트가 실린더 형상으로 자기조립되고, 여기에서 제거되는 상기 일부 중합체 블록은 폴리메타크릴레이트인 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 제조방법 |
12 |
12 제 9항에 있어서, 상기 블록공중합체는 폴리스티렌-폴리디메틸실록산 블록공중합체(PS-b-PDMS)이며, 상기 열처리에 의하여 폴리스티렌 기재에 폴리디메틸실록산이 실린더 형상으로 자기조립되고, 여기에서 제거되는 상기 일부 중합체 블록은 폴리디메틸실록산 영역인 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 제조방법 |
13 |
13 청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다 |
14 |
14 상변화층 및 상기 상변화층에 열을 인가하기 위한 전극층을 포함하는 상변화 메모리 소자의 제조방법에 있어서, 기판상에 하부전극층을 적층하는 단계;상기 하부전극층 상에 폴리스티렌-폴리디메틸실록산 블록공중합체(PS-b-PDMS)로 이루어진 마스크층을 도포한 후, 열처리하여 상기 마스크층을 자기조립시키는 단계;자기조립된 상기 마스크층의 폴리디메틸실록산 블록을 제거하여, 상기 마스크층을 패터닝하는 단계; 상기 마스크층 상에 상변화층을 적층하는 단계; 및 상기 상변화층 상에 상부전극층을 적층하는 단계를 포함하며, 여기에서 상기 제거된 중합체 블록의 영역에서 상기 상변화층과 하부전극층은 서로 접촉하는 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자의 제조방법 |
15 |
15 제 14항에 있어서, 상기 하부전극층, 상부전극층은 질화티타늄(TiN)이고, 상기 상변화층은 칼코게나이드 화합물로 이루어진 것을 특징으로 하는 상변화 메모리 소자 제조방법 |
16 |
16 청구항 16은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
패밀리정보가 없습니다 |
---|
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
특허 등록번호 | 10-1166434-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20101221 출원 번호 : 1020100131807 공고 연월일 : 20120719 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20120626 청구범위의 항수 : 12 유별 : H01L 27/115 발명의 명칭 : 블록공중합체를 이용한 상변화 메모리 소자 및 그 제조방법 존속기간(예정)만료일 : 20170712 |
순위번호 | 사항 |
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1 |
(권리자) 한국과학기술원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 256,500 원 | 2012년 07월 12일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 212,800 원 | 2015년 06월 29일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 212,800 원 | 2016년 07월 05일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2010.12.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0845194-17 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2011.09.09 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2011.10.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0079994-02 |
4 | 의견제출통지서 | 2011.12.23 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0763719-67 |
5 | [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 | 2012.02.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0148005-61 |
6 | [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 | 2012.03.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0233949-18 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2012.04.03 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0266239-72 |
8 | [명세서등 보정]보정서 | 2012.04.03 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0266240-18 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2012.04.25 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0328777-56 |
10 | [명세서등 보정]보정서 | 2012.04.25 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2012-0328778-02 |
11 | 최후의견제출통지서 | 2012.04.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0238978-39 |
12 | 등록결정서 | 2012.06.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0369223-26 |
13 | [일부 청구항 포기]취하(포기)서 | 2012.07.11 | 수리 (Accepted) | 2-1-2012-0342892-17 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
기술번호 | KST2014047212 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 한국과학기술원 |
기술명 | 블록공중합체를 이용한 상변화 메모리 소자 및 그 제조방법 |
기술개요 |
블록공중합체를 이용한 상변화 메모리 소자 및 그 제조방법이 제공된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 상변화 메모리 소자는 전극층 및 상기 전극층과 접촉하며, 상기 전극층으로부터 발생한 열에 따라 결정형으로 상변화가 발생하는 상변화층을 포함하는 상변화 메모리 소자에 있어서, 상기 전극층과 상변화층 사이에는 마스크층을 포함하며, 여기에서 상기 마스크층은 자기조립된 블록공중합체 중 일부 중합체 블록 영역이 선택적으로 제거되는 방식으로 패터닝된 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 상변화 메모리 소자 제조방법은 블록공중합체의 자기조립 구조를 이용, 상변화층과 전극층 사이의 접촉면적을 제어, 감소시키므로, 소자의 리셋 전류를 감소시킬 수 있다. 더 나아가, 블록공중합체의 자기조립 특성을 이용, 마스크층을 제조하므로, 리쏘그래피-식각 공정을 통한 마스크 주형 제조방식에 비하여 보다 경제적인 상변화 메모리 소자를 제조할 수 있다. |
개발상태 | 기술개발완료 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 소자응용 기술 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매,라이센스, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1345136256 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A2007 |
연구과제명 | 재료사업단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 한국과학기술원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
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