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제1 이미지 및 제2 이미지의 유사도를 측정하는 장치에 있어서,상기 제1 이미지의 비교 대상영역인 윈도우에 포함된 화소에 대응되는 디지털 값 b(n) 및 상기 제1 이미지의 비교 대상영역인 윈도우와 동일한 사이즈를 갖는 제2 이미지의 비교 대상영역인 윈도우에 포함된 화소에 대응되는 디지털 값 t(n) 을 곱하여 디지털 값 g(n)을 산출하고, 상기 디지털 값 g(n)에 누적된 디지털 값 P(n-1)을 합산하여 디지털 값 P(n)을 산출하는 제1 연산부;상기 제1 연산부의 출력 디지털 값 P(n)에서 상기 윈도우의 가로 사이즈에 대응되는 만큼 이전 디지털 값 P(n-M)을 감산하여 1차원 윈도우의 누적된 디지털 값 A(n)을 출력하는 제2 연산부;상기 제2 연산부의 출력 디지털 값 A(n)에서 상기 윈도우의 세로 사이즈에 대응되는 만큼 이전 디지털 값 A(n-N)을 감산하고, 감산된 디지털 값에 누적 디지털 값 S(n-1)을 합산하여 2차원 윈도우의 누적된 디지털 값 S(n)을 출력하는 제3 연산부;를 포함하는 유사도 측정 장치
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제1항에 있어서,상기 유사도 측정 장치는 신호 처리용 FPGA(Field Programmable Gate Array)인 것을 특징으로 하는 유사도 측정 장치
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제2항에 있어서,상기 제1 연산부는, 상기 신호 처리용 FPGA 내부에 포함된 DSP(Digital Signal Processor)칩인 것을 특징으로 하는 유사도 측정 장치
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제1항에 있어서,상기 제2 연산부는, 상기 윈도우의 가로 사이즈에 대응되는 수 만큼의 제1 지연 소자; 및상기 제1 연산부의 출력 디지털 값 P(n)에서 상기 지연 소자의 출력 디지털 값 P(n-M)을 감산하는 제1 감산부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 유사도 측정 장치
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제1항에 있어서,상기 제3 연산부는,상기 윈도우의 세로 사이즈에 대응되는 수 만큼의 제2 지연 소자;상기 누적 디지털 값 S(n-1)을 저장하는 라인 누적부;상기 라인 누적부의 누적 디지털 값 S(n-1)에서 상기 제2 지연 소자의 출력 디지털 값 A(n-N)을 감산하는 제2 감산부; 및상기 제2 감산부의 출력 디지털 값에서 상기 제2 연산부의 출력 디지털 값 A(n)을 가산하는 제1 가산부;를 포함하며,상기 라인 누적부는 상기 제1 가산부의 출력 디지털 값을 누적하여 S(n)을 출력하는 것을 특징으로 하는 유사도 측정 장치
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유사도 측정 장치에서 제1 이미지 및 제2 이미지의 유사도를 측정하는 방법에 있어서,상기 제1 이미지의 비교 대상영역인 윈도우에 포함된 화소에 대응되는 디지털 값 b(n) 및 상기 제1 이미지의 비교 대상영역인 윈도우와 동일한 사이즈를 갖는 제2 이미지의 비교 대상영역인 윈도우에 포함된 화소에 대응되는 디지털 값 t(n) 을 곱하여 디지털 값 g(n)을 산출하고, 상기 디지털 값 g(n)에 누적된 디지털 값 P(n-1)을 합산하여 디지털 값 P(n)을 산출하는 제1 단계;상기 산출된 디지털 값 P(n)에서 상기 윈도우의 가로 사이즈에 대응되는 만큼 이전 디지털 값 P(n-M)을 감산하여 1차원 윈도우의 누적된 디지털 값 A(n)을 산출하는 제2 단계; 및상기 산출된 디지털 값 A(n)에서 상기 윈도우의 세로 사이즈에 대응되는 만큼 이전 디지털 값 A(n-N)을 감산하고, 감산된 디지털 값에 누적 디지털 값 S(n-1)을 합산하여 2차원 윈도우의 누적된 디지털 값 S(n)을 산출하는 제3 단계;를 포함하는 유사도 측정 방법
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제6항에 있어서,상기 유사도 측정 장치는 신호 처리용 FPGA(Field Programmable Gate Array)인 것을 특징으로 하는 유사도 측정 방법
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제7항에 있어서,상기 제1 단계는, 상기 신호 처리용 FPGA 내부에 포함된 DSP(Digital Signal Processor)칩에서 수행되는 것을 특징으로 하는 유사도 측정 방법
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제6항에 있어서,상기 제2 단계는,상기 윈도우의 가로 사이즈에 대응되는 수 만큼을 지연하는 단계; 및상기 산출된 디지털 값 P(n)에서 상기 지연하는 단계의 출력 디지털 값 P(n-M)을 감산하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 유사도 측정 방법
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제6항에 있어서,상기 제3 단계는,상기 윈도우의 세로 사이즈에 대응되는 수 만큼을 지연하는 단계;상기 누적 디지털 값 S(n-1)을 저장하는 단계;상기 저장된 누적 디지털 값 S(n-1)에서 상기 지연하는 단계의 출력 디지털 값 A(n-N)을 감산하는 단계; 상기 감산하는 단계의 출력 디지털 값에서 상기 산출된 디지털 값 A(n)을 가산하는 단계; 및상기 가산된 디지털 값을 누적하여 S(n)을 출력하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 유사도 측정 방법
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