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유기 메모리 소자 및 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015080499
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 유기 메모리 소자 및 제조 방법을 제시한다. 본 발명에 따르면, 전기적 이안정성(electrical bistability)을 가지는 유기물 메모리 소자를 금속 전극들 사이에 일정한 크기 분포를 가지는 나노입자들이 분산된 유기물층을 포함하는 전자 채널층을 도입하여 형성한다. 본 발명에 따른 소자는 상부 전극과 하부 전극에 인가된 전압에 의해 전자 채널층의 전자 구조가 급격하게 변화하게 되고, 이에 따른 전기 전도도의 변화를 메모리 특성으로 이용하는 소자이다. 본 발명에 따르면, 간단한 제작 공정을 활용하여 고집적화가 가능한 유기물 소자를 제시하고, 임계전압 특성과 소자 측소화에 따른 소자간의 불균일성을 개선한 유기 메모리 소자를 구현할 수 있다. 메모리, 비휘발성 메모리, 유기물 메모리, 고분자 메모리, 전기 전도도, 2극형 교차 구조, 나노입자
Int. CL H01L 27/115 (2011.01) B82Y 10/00 (2011.01)
CPC G11C 13/0014(2013.01) G11C 13/0014(2013.01) G11C 13/0014(2013.01) G11C 13/0014(2013.01) G11C 13/0014(2013.01)
출원번호/일자 1020040109296 (2004.12.21)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2006-0070716 (2006.06.26) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.12.21)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최성율 대한민국 대전 유성구
2 박찬우 대한민국 대전 유성구
3 유한영 대한민국 대전 유성구
4 피웅환 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2004-0602284-33
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.03.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0182506-60
3 의견서
Written Opinion
2006.05.24 수리 (Accepted) 1-1-2006-0364353-48
4 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.05.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0364354-94
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2006.08.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0485325-76
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1
하부 전극; 상기 하부 전극에 대향되는 상부 전극; 및 상기 하부 전극과 상기 상부 전극 사이에 도입되되 제1유기물층, 상기 제1유기물층 상에 배열되되 상호 간에 이격된 금속 나노입자들의 층 및 상기 나노입자들의 층을 덮는 제2유기물층을 포함하는 전자 채널층을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
2 2
하부 전극; 상기 하부 전극에 대향되는 상부 전극; 및 상기 하부 전극과 상기 상부 전극 사이에 도입된 유기물층, 및 상기 유기물층 내에 분산되되 상호 간에 이격된 금속 나노입자들을 포함하는 전자 채널층을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
3 3
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 전자 채널층은 전기 전도도가 외부 전압에 의해 변화하여 상기 전자 채널층이 상대적으로 고전도도 상태 및 저전도도 상태로 변화하여 스위칭(switching)되는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
4 4
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 나노입자는 1㎚ 내지 20㎚의 크기를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
5 5
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 나노입자들은 상호 간에 균일한 크기를 가지고 상호 간에 균일한 이격 거리를 가지는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
6 6
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 나노입자는 알루미늄(Al), 금(Au), 은(Ag), 코발트(Co), 니켈(Ni) 또는 철(Fe)을 포함하여 합성된 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
7 7
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 유기물층은 적어도 2eV의 에너지 밴드 갭을 가지는 유기물을 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
8 8
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 상부 전극 또는 상기 하부 전극은 알루미늄(Al), 구리(Cu), 금(Au) 또는 백금(Pt)을 포함하여 형성된 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자
9 9
하부 전극을 형성하는 단계; 상기 하부 전극 상에 제1유기물층을 형성하는 단계; 합성된 금속 나노입자들이 분산된 용액을 형성하는 단계; 상기 용액을 상기 제1유기물층 상에 코팅하는 단계; 상기 용액으로부터 용매를 증발하여 상기 분산된 나노입자들을 상기 제1유기물층 상에 잔류시키는 단계; 상기 잔류된 나노입자들 상에 제2유기물층을 형성하여 상기 제1유기물층, 상기 나노입자들의 층 및 상기 제2유기물층을 포함하는 전자 채널층을 형성하는 단계; 및 상기 제2유기물층 상에 상부 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자 제조 방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 유기물층은 고분자 또는 단분자를 증착 또는 코팅하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자 제조 방법
11 11
하부 전극을 형성하는 단계; 유기물 및 합성된 금속 나노입자들을 혼합하는 단계; 상기 하부 전극 상에 상기 혼합물을 코팅하여 전자 채널층을 형성하는 단계; 및 상기 전자 채널층 상에 상부 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자 제조 방법
12 11
하부 전극을 형성하는 단계; 유기물 및 합성된 금속 나노입자들을 혼합하는 단계; 상기 하부 전극 상에 상기 혼합물을 코팅하여 전자 채널층을 형성하는 단계; 및 상기 전자 채널층 상에 상부 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기 메모리 소자 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20060131569 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2006131569 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.