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상변화 소자 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015083960
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 발열층을 포함하는 상변화 소자의 제조 방법에 관한 것으로, 발열층의 형성 온도를 상온에서 500℃ 사이의 온도로 한정함으로써 반도체 공정에서 널리 사용되는 Al 등의 금속을 그 하부에 위치하는 하부전극 물질로 사용할 수 있도록 한다. 본 발명의 상변화 소자는, 하부 전극층; 상기 하부 전극층 상면에 형성되며 전도도를 높이는 도펀트를 함유하는 SiGe 재질의 발열층; 상기 발열층 상면에 형성된 상변화 특성을 가지는 상변화 영역; 및 상기 상변화층 상면에 형성된 상부 전극을 포함하는 것을 특징으로 한다. 상변화, 메모리, 비휘발성, 발열층, 실리콘-게르마늄, 스퍼터링
Int. CL H01L 27/115 (2006.01) H01L 21/8247 (2006.01)
CPC H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01) H01L 45/06(2013.01)
출원번호/일자 1020070127796 (2007.12.10)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0895797-0000 (2009.04.24)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20090508) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.12.10)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이승윤 대한민국 대전 유성구
2 윤성민 대한민국 대전 서구
3 박영삼 대한민국 대전 서구
4 정순원 대한민국 충북 청원군
5 유병곤 대한민국 대전 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2007-0887129-39
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.07.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.08.12 수리 (Accepted) 9-1-2008-0051236-85
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.10.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0538870-38
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.12.22 수리 (Accepted) 1-1-2008-0880369-17
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.12.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0880479-20
7 등록결정서
Decision to grant
2009.04.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0165711-84
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
금속 재질의 하부 전극층; 상기 하부 전극층 상면에 물리적 증착을 통하여 형성되며 전도도를 높이는 도펀트를 함유하는 SiGe 재질의 발열층; 상기 발열층 상면에 형성된 상변화 영역; 및 상기 상변화층 상면에 형성된 상부 전극 을 포함하는 상변화 소자
2 2
제1항에 있어서, 상기 하부 전극층은, Al, Cu, W, Ti를 포함하는 군에서 선택된 적어도 하나의 물질로 이루어진 것을 특징으로 하는 상변화 소자
3 3
제1항에 있어서, 상기 도펀트는, B, Ga, P, Sb을 포함하는 군에서 선택된 적어도 하나 이상의 물질인 것을 특징으로 하는 상변화 소자
4 4
제1항에 있어서, 상기 상변화 소자의 프레임 역할을 하는 반도체 기판; 및 상기 반도체 기판과 상기 하부 전극층 사이에 위치하는 절연층 을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 소자
5 5
제1항에 있어서, 상기 상변화 영역은, 칼코겐 화합물 또는 GeSb 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 소자
6 6
제1항에 있어서, 상기 발열층 아래에, MOS 트랜지스터 구조가 위치하며, 상기 하부 전극층은 상기 MOS 트랜지스터의 소스 또는 드레인 전극인 것을 특징으로 하는 상변화 소자
7 7
반도체 기판에 하부 전극층을 형성하는 단계; 상기 하부전극층 상부에 물리적 증착을 통하여 전도도를 높이는 도펀트를 함유하는 SiGe 재질의 발열층을 형성하는 단계; 상기 하부전극 상부에 상변화 영역을 형성하는 단계; 및 상기 상변화 영역 상부에 상부 전극을 형성하는 단계 를 포함하는 상변화 소자의 제조 방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 도펀트는, B, Ga, P, Sb을 포함하는 군에서 선택된 적어도 하나 이상의 물질인 것을 특징으로 하는 상변화 소자의 제조 방법
9 9
제7항에 있어서, 상기 상변화 영역은, 칼코겐 화합물 또는 GeSb 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 소자의 제조 방법
10 10
제7항에 있어서, 상기 발열층을 형성하는 단계는, Si 및 Ge 소스 물질로부터 발생한 Si 및 Ge 원자 또는 이온을 상기 하부 전극층 상부에 물리적으로 접착시키는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 상변화 소자의 제조 방법
11 11
제7항에 있어서, 상기 발열층을 형성하는 단계는, 상온 이상 500℃ 이하의 온도에서 수행되는 것을 특징으로 하는 상변화 소자의 제조 방법
12 12
제7항에 있어서, 상기 하부 전극층을 형성하는 단계는, Al, Cu, W, Ti를 포함하는 군에서 선택된 적어도 하나의 전도성 물질로 상기 하부 전극층을 형성하는 것을 특징으로 하는 상변화 소자의 제조 방법
13 13
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14 14
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15 15
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16 16
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패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.