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비휘발성 메모리 소자 및 이의 제조 방법(NON-VOLATILE MEMORY DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2017010716
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 비휘발성 메모리 소자 및 이의 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로 금속 브릿지 형성에 의해 비휘발성 메모리 거동을 보이는 전도성 브릿지 메모리(CBRAM; conductive bridging random access memory) 소자 및 이를 제조하기 위한 방법에 관한 것이다.본 발명에 따라 제조된 비휘발성 메모리 소자는 제1 전극, 상기 제1 전극 상에 배치되며, 복수의 금속 베이컨시를 가지는 반도체 산화물층 및 상기 고체 전해질층 상에 배치된 제2 전극을 포함하되, 상기 제1 전극과 상기 고체 전해질층의 계면에 금속 나노 크리스탈이 삽입됨에 따라, 전압이 인가된 경우, 상기 금속 나노 크리스탈 상에 전기장이 집중될 수 있으며, 이에 따라 보다 낮은 전압에서도 금속 브릿지의 형성이 가능한 비휘발성 메모리 소자의 구현이 가능하다.
Int. CL H01L 45/00 (2006.01.01)
CPC H01L 45/1253(2013.01) H01L 45/1253(2013.01) H01L 45/1253(2013.01) H01L 45/1253(2013.01)
출원번호/일자 1020150182889 (2015.12.21)
출원인 에스케이하이닉스 주식회사, 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0074275 (2017.06.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2020.04.14)
심사청구항수 17

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박재근 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 권경철 대한민국 경기도 안양시 만안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 대아 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2015.12.21 수리 (Accepted) 1-1-2015-1251708-71
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
4 [심사청구]심사청구서·우선심사신청서
2020.04.14 수리 (Accepted) 1-1-2020-0384439-18
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 전극;상기 제1 전극 상에 배치되며, 복수의 금속 베이컨시를 가지는 고체 전해질층; 및상기 고체 전해질층 상에 배치된 제2 전극;을 포함하되,상기 제1 전극과 상기 고체 전해질층의 계면에 금속 나노 크리스탈이 삽입된,비휘발성 메모리 소자
2 2
제1항에 있어서,상기 금속 나노 크리스탈은 상기 제1 전극 상에 배치되며,상기 고체 전해질층은 상기 금속 나노 크리스탈을 커버하도록 구비된,비휘발성 메모리 소자
3 3
제2항에 있어서,상기 제1 전극 상에 배치된 상기 금속 나노 크리스탈의 밀도는 7
4 4
제1항에 있어서,상기 금속 나노 크리스탈의 평균 직경은 4
5 5
제1항에 있어서,상기 금속 나노 크리스탈은 Au, Al, Zn, Fe, Ni, Sn, Pb 및 이들의 임의의 합금 중 어느 하나의 나노 크리스탈인,비휘발성 메모리 소자
6 6
제1항에 있어서,상기 고체 전해질층은 CuO 및 Cu2O 중 적어도 하나를 포함하는,비휘발성 메모리 소자
7 7
제1항에 있어서,상기 제2 전극은 양의 전압이 인가된 경우, 상기 고체 전해질층 내로 금속 양이온을 확산시키는 물질을 포함하는,비휘발성 메모리 소자
8 8
제7항에 있어서,상기 제2 전극에 양의 전압이 인가된 경우, 상기 금속 양이온이 상기 금속 베이컨시로 이동하여 금속 브릿지를 형성하는,비휘발성 메모리 소자
9 9
제8항에 있어서,상기 금속 브릿지는 상기 금속 나노 크리스탈 상에 국부적으로 형성되는,비휘발성 메모리 소자
10 10
제9항에 있어서,상기 금속 나노 크리스탈 상에 형성된 상기 금속 브릿지의 길이는 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이의 거리보다 짧은,비휘발성 메모리 소자
11 11
기판 상에 제1 전극을 증착하는 단계;상기 제1 전극 상에 금속 박막을 증착하는 단계;상기 금속 박막을 열처리하여 금속 나노 크리스탈을 형성하는 단계;상기 금속 나노 크리스탈이 형성된 제1 전극 상에 복수의 금속 베이컨시를 가지는 고체 전해질층을 형성하는 단계; 및상기 고체 전해질층 상에 제2 전극을 증착하는 단계;를 포함하는,비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 금속 박막은 상기 제1 전극 상에 2nm 내지 5nm의 두께로 증착되는,비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
13 13
제11항에 있어서,상기 금속 박막은 Au, Al, Zn, Fe, Ni, Sn, Pb 및 이들의 임의의 합금 중 어느 하나를 포함하는,비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
14 14
제11항에 있어서,상기 금속 박막의 열처리를 통해 상기 금속 나노 크리스탈 사이로 상기 제1 전극이 노출되며, 상기 고체 전해질층은 상기 제1 전극의 노출된 면과 상기 금속 나노 크리스탈을 커버하도록 형성되는,비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
15 15
제11항에 있어서,상기 금속 박막은 상기 제1 전극 상에 상기 금속 나노 크리스탈이 7
16 16
제11항에 있어서,상기 금속 박막은 상기 제1 전극 상에 상기 금속 나노 크리스탈이 4
17 17
제11항에 있어서,상기 고체 전해질층은 CuO 및 Cu2O 중 적어도 하나를 포함하는,비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.