요약 | 본 발명은 유기 소자의 보호막 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 유기 소자의 표면에 유기금속 소스를 흡착시키는 단계; 흡착되지 않은 유기금속 소스를 제거하기 위해 불활성 가스를 주입하는 단계; 산소를 포함하는 소스 및 질소를 포함하는 소스를 플라즈마와 함께 주입하여 금속 옥시나이트라이드층을 형성하는 단계; 상기 금속 옥시나이트라이드층을 형성하지 않은 잔류 유기금속 소스를 제거하기 위해 불활성 가스를 주입하는 단계; 및 상기 형성된 금속 옥시나이트라이드층의 표면을 플라즈마 처리하는 단계를 포함하는 유기 소자의 보호막을 제조하는 방법에 관한 것이다.상기 유기 소자의 보호막은 막 밀도가 우수하고 소수성을 나타내 외부로부터 소자 내부로 침투하는 산소, 수분 또는 불순물의 투과를 억제하여 유기 소자의 수명을 높일 뿐만 아니라, 단차가 큰 구조를 지닌 소자에도 바람직하게 적용된다. 이러한 유기 소자로는 적어도 하나의 폴리머층을 포함하는 비휘발성 폴리머 메모리 소자(PoRAM) 및 유기전계발광소자(OLED) 등이 가능하다.PoRAM, OLED, 수분, 산소, 금속 산화물, 원자층 |
---|---|
Int. CL | H01L 51/52 (2006.01.01) C23C 14/34 (2006.01.01) C23C 14/06 (2006.01.01) C23C 14/08 (2006.01.01) H01L 51/56 (2006.01.01) H01L 45/00 (2006.01.01) |
CPC | H01L 51/5253(2013.01) H01L 51/5253(2013.01) H01L 51/5253(2013.01) H01L 51/5253(2013.01) H01L 51/5253(2013.01) H01L 51/5253(2013.01) H01L 51/5253(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020070069919 (2007.07.12) |
출원인 | 한양대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-0841679-0000 (2008.06.20) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20080626) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2007.07.12) |
심사청구항수 | 13 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한양대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 박종완 | 대한민국 | 경기 남양주시 |
2 | 김웅선 | 대한민국 | 서울 강동구 |
3 | 고명균 | 대한민국 | 서울 성동구 |
4 | 문연건 | 대한민국 | 서울 광진구 군 |
5 | 김태섭 | 대한민국 | 서울 성동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 장수영 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, *층(역삼동, 대아빌딩)(특허법인 신우) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한양대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2007.07.12 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0507116-34 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2008.03.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2008-5037763-28 |
3 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2008.04.08 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2008.05.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2008-0029542-80 |
5 | 등록결정서 Decision to grant |
2008.06.19 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2008-0329718-60 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 a) 유기 소자의 표면에 유기금속 소스를 흡착시키는 단계; b) 흡착되지 않은 유기금속 소스를 제거하기 위해 불활성 가스를 주입하는 단계; c) 산소를 포함하는 소스 및 질소를 포함하는 소스를 플라즈마와 함께 주입하여 금속 옥시나이트라이드층을 형성하는 단계;d) 상기 금속 옥시나이트라이드층을 형성하지 않은 잔류 유기금속 소스를 제거하기 위해 불활성 가스를 주입하는 단계; 및 e) 상기 형성된 금속 옥시나이트라이드층의 표면을 플라즈마 처리하는 단계를 포함하는 유기 소자의 보호막 제조방법 |
2 |
2 제 1 항에 있어서,상기 금속 옥시나이트라이드층은 하기 화학식 1로 표시되는 화합물을 포함하는 것인 유기 소자의 보호막 제조방법:[화학식 1]MOxNy(상기 화학식 1에서, M은 Al, Ti, Si, Zr, Hf, La, Ta, Mg 및 이들의 조합으로 이루어진 금속 중에서 선택된 1종이고, 0<x<3인 경우 0<y<3-x, 및 0<x<2인 경우 0<y<2-x 또는 0<y<3-x 이다) |
3 |
3 제 1 항에 있어서,상기 유기금속 소스는 Al, Ti, Si, Zr, Hf, La, Ta, Mg 및 이들의 조합으로 이루어진 금속 중에서 선택된 1종을 포함하는 염화물, 수산화물, 옥시수산화물, 질산염, 탄산염, 초산염, 옥살산염, 시트르산염, 및 이들의 조합으로 이루어진 군에서 선택된 1종의 유기금속 전구체(precursor)인 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
4 |
4 제 1 항에 있어서,상기 단계 a)는 60 내지 250 ℃의 온도에서 수행하는 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
5 |
5 제 1 항에 있어서,상기 단계 b) 및 d)의 불활성 가스는 Ar, N2 및 이들의 혼합 기체인 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
6 |
6 제 1 항에 있어서,상기 단계 c)의 산소를 포함하는 소스는 O2, O3, H2O, H2O2, N2O, CH3OH, C2H5OH, C3H7OH 및 이들의 혼합 기체로 이루어진 군에서 선택된 1종이고, 질소를 포함하는 소스는 N2, N2O, NH3 또는 이들의 혼합 기체로 이루어진 군에서 선택된 1종인 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
7 |
7 제 1 항에 있어서,상기 단계 c)의 플라즈마는 50 W에서 200 W 범위에서 처리하는 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
8 |
8 제 1 항에 있어서,상기 단계 a) 내지 c)를 100 내지 1000회 동안 수행하는 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
9 |
9 제 1 항에 있어서,상기 단계 e)의 플라즈마 처리는 Ar, N2, N2를 포함하는 기체, N2O, NH3 또는 이들의 혼합 가스를 주입하여 수행하는 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
10 |
10 제 1 항에 있어서,상기 단계 e)의 플라즈마는 50 W에서 500 W 범위에서 처리하는 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
11 |
11 제 1 항에 있어서,상기 보호막은 막 밀도가 1 |
12 |
12 제 1 항에 있어서,상기 보호막은 단일 박막 또는 다층 박막의 형태를 갖는 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
13 |
13 제 1 항에 있어서,상기 유기 소자는 적어도 하나의 폴리머층을 포함하는 비휘발성 폴리머 메모리 소자(PoRAM) 또는 유기전계발광소자(OLED)인 것인 유기 소자의 보호막 제조방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
패밀리정보가 없습니다 |
---|
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
공개전문 정보가 없습니다 |
---|
특허 등록번호 | 10-0841679-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20070712 출원 번호 : 1020070069919 공고 연월일 : 20080626 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20080619 청구범위의 항수 : 13 유별 : H05B 33/04 발명의 명칭 : 유기 소자의 보호막 제조방법 존속기간(예정)만료일 : 20160621 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 325,500 원 | 2008년 06월 23일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 326,000 원 | 2011년 04월 19일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 326,000 원 | 2012년 04월 06일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 326,000 원 | 2013년 04월 10일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 594,000 원 | 2014년 04월 01일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 594,000 원 | 2015년 04월 06일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2007.07.12 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0507116-34 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2008.03.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2008-5037763-28 |
3 | 선행기술조사의뢰서 | 2008.04.08 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 | 2008.05.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2008-0029542-80 |
5 | 등록결정서 | 2008.06.19 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2008-0329718-60 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
기술정보가 없습니다 |
---|
과제고유번호 | 1415077324 |
---|---|
세부과제번호 | 10029907 |
연구과제명 | 차세대비휘발성메모리(테라비트급NFGM,PoRAM,ReRAM)개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가원 |
연구주관기관명 | 한양대학교 |
성과제출연도 | 2007 |
연구기간 | 200708~200907 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345071157 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A2008 |
연구과제명 | 나노기반Imagineer양성사업단 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국학술진흥재단 |
연구주관기관명 | 한양대학교 |
성과제출연도 | 2008 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
[1020080136306] | 멀티 비트 강유전체 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
---|---|---|
[1020080123458] | 사회망을 이용한 서지 정보의 저자명 명확화 장치 및 이를 수행하기 위한 방법 | 새창보기 |
[1020080116346] | 멀티비트 비휘발성 메모리 소자 | 새창보기 |
[1020080115129] | 란타늄-스트론튬-망간 산화물 박막의 제조방법{ | 새창보기 |
[1020080101707] | 태양 에너지를 이용한 발전장치 | 새창보기 |
[1020080099615] | 에피택셜 코발트 실리사이드 형성방법 | 새창보기 |
[1020080092224] | 방음벽용 흡음 패널 및 이를 구비한 방음벽 | 새창보기 |
[1020080089157] | 방음벽용 흡음 패널 및 이를 구비한 방음벽 | 새창보기 |
[1020080082746] | 전자빔을 이용한 옐로우 사파이어의 제조방법 | 새창보기 |
[1020080066972] | 산화아연계 반도체 박막의 제조방법, 이를 이용한 박막트랜지스터 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020080057142] | Fe계 베어링 합금 | 새창보기 |
[1020080053638] | MoO₃ 분말을 이용한 MoO₃의 박막 형성 방법 | 새창보기 |
[1020080039724] | 전도성 폴리아닐린 나노입자의 제조방법 및 이에 의하여제조된 전도성 폴리아닐린 나노입자 | 새창보기 |
[1020080039184] | 도로표지 조성물 및 도로표지물 형성방법 | 새창보기 |
[1020080035103] | ECR-ALD법으로 제조된 산화막이 구비된 반도체 소자,이의 제조방법, 및 이의 용도 | 새창보기 |
[1020080031403] | 탄소나노튜브 투명 전극 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020080031134] | 멀티비트 강유전체 기억소자 | 새창보기 |
[1020080028358] | 반도체 소자의 제조방법 | 새창보기 |
[1020080021863] | ECR 플라즈마를 이용한 유기 소자의 보호막 제조방법 | 새창보기 |
[1020080015149] | 실리콘막 형성 방법 | 새창보기 |
[1020080012154] | 전계 분무 에어로졸 화염 분사법을 이용한 Gd 도핑된 CeO₂ 나노 분말의 제조방법 및 제조장치 | 새창보기 |
[1020080004684] | Fe-Si계 연자성 분말의 제조 방법, 및 이를 이용한 연자성 코어 | 새창보기 |
[1020070128250] | 비휘발성 기억 장치 및 그 쓰기 방법 | 새창보기 |
[1020070126862] | 유기 메모리 소자 및 그의 제조방법 | 새창보기 |
[1020070125918] | 비휘발성 기억 장치 및 그 읽기 방법 | 새창보기 |
[1020070119250] | 실리콘 카바이드 나노입자를 이용한 비휘발성 메모리 소자 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
[1020070107464] | 상온 공정에 의한 저항 변화 기억 소자용 박막 구조물의제조 방법 | 새창보기 |
[1020070107462] | 높은 소자 수율을 갖는 저항 변화 기억 소자용 박막 구조물 | 새창보기 |
[1020070104819] | 나노도트층을 이용한 반도체소자 및 그의 제조방법 | 새창보기 |
[1020070098626] | 금속 산화막 증착 방법 | 새창보기 |
[1020070086885] | FALC 공정을 이용한 다결정 실리콘 TFT 어레이 기판 제조에서의 채널 영역 결정화방법 | 새창보기 |
[1020070084717] | 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070069919] | 유기 소자의 보호막 제조방법 | 새창보기 |
[1020070047670] | 에칭 알루미늄 하부기판을 사용하는P(VDF-TrFE) 기반 커패시터 및P(VDF-TrFE)기반 커패시터에서의 고온 안정성향상 방법 | 새창보기 |
[1020070045427] | 정보저장용 금속 및 산화물 나노입자 제조 - HDD용 소재 - | 새창보기 |
[1020070036124] | [비휘발성 메모리 기반 저장장치]3차원 전면 게이트 구조를 갖는 비휘발성 디램 소자 기술 | 새창보기 |
[1020070033114] | 유기 소자의 보호막 제조방법 | 새창보기 |
[1020070030758] | 내식내마모성 철계 합금 | 새창보기 |
[1020070024835] | 비휘발성 메모리 셀 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070023962] | 내식내마모성 철계 합금 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070019281] | 비휘발성 메모리 전자소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070018271] | 나노선나노입자 이종결합의 비휘발성 메모리 전자소자 및그 제조방법 | 새창보기 |
[1020070018259] | 나노선나노입자 이종결합의 비휘발성 메모리 전자소자 제조방법 | 새창보기 |
[1020070010432] | 투명 전도성 박막 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
[1020070009087] | 비휘발성 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020060121179] | 엠아이엠 캐패시터 형성방법 | 새창보기 |
[1020060112409] | 유기 쌍안정성 기억 소자 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020060092418] | 연마 입자, 이를 이용한 연마 슬러리 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020060092300] | 노이즈에 둔감한 디코딩 신호를 출력하는 디코더 및 이를포함하는 반도체 메모리 장치 | 새창보기 |
[1020060087094] | 극자외선 노광공정용 마스크 및 그의 제조방법 | 새창보기 |
[1020060086577] | 메모리 셀 선택 회로를 포함하는 반도체 메모리 장치와그것의 동작 방법 | 새창보기 |
[1020060085631] | 주기적 급속열처리에 의한 p형 산화아연의 제조방법 | 새창보기 |
[1020060085630] | 주기적 급속 열처리에 의한 고전도성 산화아연의 제조방법 | 새창보기 |
[1020060071746] | 전하 전송 스위치 및 전압 발전기 | 새창보기 |
[1020060054986] | ReRAM 소자 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020060053107] | 에피택시 버퍼층을 이용한 비휘발성 기억소자 및 그제조방법 | 새창보기 |
[1020060044063] | 유전체 박막을 포함하는 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020060035654] | 유기 반도체 소자 및 그 제작 방법 | 새창보기 |
[1020050104301] | 플래시 메모리 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[1020050092063] | 플라즈마 가스처리를 이용한 산화박막의 안정성이 우수한ReRAM 소자의 제조방법 | 새창보기 |
[1020050077057] | 웰 구조를 갖는 CM OS소자 | 새창보기 |
[1020050054341] | 절연막의 적층증착에 의한 저항 메모리 소자의 제조방법 | 새창보기 |
[1020050033631] | 플래시 메모리 소자 | 새창보기 |
[1020050028225] | 저항변화 기억소자용 박막 구조물 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[1020050003886] | 산화막의 저항변화를 이용한 비휘발성 기억소자 및 그제조방법 | 새창보기 |
[KST2014009583][한양대학교] | 초음속 유동 적층성형기술을 이용한 스퍼터링 타겟의 제조방법 | 새창보기 |
---|---|---|
[KST2019004365][한양대학교] | 3차원 구조의 시냅스 소자 및 이의 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2014043589][한양대학교] | 1차원 스핀 광자결정 소자의 제조방법 및 이에 의하여제조된 1차원 스핀 광자결정 소자 | 새창보기 |
[KST2015140831][한양대학교] | 투명 전도성 박막 및 이의 제조방법 | 새창보기 |
[KST2020008685][한양대학교] | OTS의 스냅 백 현상을 개선하는 회로 소자 및 이를 포함하는 상변화 메모리 소자 | 새창보기 |
[KST2020011818][한양대학교] | 전압 펄스의 동작 세분화를 이용하여 점진적 특성을 구현한 초격자 상변화 메모리 소자 및 그 동작 방법 | 새창보기 |
[KST2018011313][한양대학교] | 디스플레이 장치 | 새창보기 |
[KST2014044087][한양대학교] | 화소 및 이를 이용한 유기전계발광 표시장치 | 새창보기 |
[KST2015141715][한양대학교] | 유기 발광 소자 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2022023919][한양대학교] | 디스플레이 및 그 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2016007937][한양대학교] | 전자 소자, 및 그 제조 방법(electronic device, and method of fabricating the same) | 새창보기 |
[KST2021004590][한양대학교] | 유전체 조성물, 저유전율 유전체막, 및 이를 구비하는 디스플레이 소자 | 새창보기 |
[KST2016005933][한양대학교] | 유기전자소자의 열처리 장치(HEAT TREATMENT APPARATUS FOR ORGANIC ELECTRONIC DEVICE) | 새창보기 |
[KST2020002920][한양대학교] | 2단자 상변화 메모리 소자 및 그 동작 방법 | 새창보기 |
[KST2020008688][한양대학교] | OTS의 스냅 백 현상을 개선하는 회로 소자 및 이를 포함하는 상변화 메모리 소자 | 새창보기 |
[KST2020013615][한양대학교] | 전압 펄스의 동작 조건을 조절하여 점진적 특성을 구현한 초격자 상변화 메모리 소자 및 그 동작 방법 | 새창보기 |
[KST2018001643][한양대학교] | 전압 펄스의 점진적 특성을 구현한 상변화 메모리 소자 및 그 동작 방법(PHASE CHANGE MEMORY ELEMENT FOR GRADUAL CHARACTERISTICS OF VOLTAGE PULSE AND OPERATION METHOD THEREOF) | 새창보기 |
[KST2016007939][한양대학교] | 전자 소자, 및 그 제조 방법(electronic device, and method of fabricating the same) | 새창보기 |
[KST2016008522][한양대학교] | 필요시 외부광 차단이 가능한 투명 표시장치(Transparent display device capable of blocking external light if necessary) | 새창보기 |
[KST2020008764][한양대학교] | 3D 구현 발광 소자 및 그 제조방법 | 새창보기 |
[KST2014010051][한양대학교] | 자성 반도체 제조 방법 및 그 장치 | 새창보기 |
[KST2015140955][한양대학교] | ZnS계 스퍼터링 타겟의 제조방법 및 이로써 얻어진ZnS계 스퍼터링 타겟 | 새창보기 |
[KST2015225495][한양대학교] | 유기 발광 소자 및 그 제조 방법(Organic light emitting device and method of fabricating the same) | 새창보기 |
[KST2015142196][한양대학교] | 유기 소자의 보호막 제조방법 | 새창보기 |
[KST2017000214][한양대학교] | 유기 발광 소자, 및 그 제조 방법(Organic light emitting device, and method of fabricating the same) | 새창보기 |
[KST2020011814][한양대학교] | 표시 장치 및 이의 제조 방법 | 새창보기 |
[KST2020008765][한양대학교] | 전극과의 접촉 계면의 쇼트키 다이오드 특성을 이용하는 선택 소자 및 이를 포함하는 상변화 메모리 소자 | 새창보기 |
[KST2016011751][한양대학교] | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법(Organic light emitting display apparatus and method for manufacturing the same) | 새창보기 |
[KST2015140946][한양대학교] | 초미세 결정립 Mo 스퍼터링 타겟의 제조방법, 및 이로써얻어진 Mo 스퍼터링 타겟 | 새창보기 |
[KST2017007114][한양대학교] | 연성동박적층필름 및 그 제조방법(Flexible Copper Clad Laminate and Method for Manufacturing The Same) | 새창보기 |
심판사항 정보가 없습니다 |
---|