요약 | 본 발명에 따라서 기판의 표면에서 나노와이어를 패터닝하는 방법이 제공되는데, 상기 방법은 (a) 플루오르화바륨 희생층이 원하는 패턴으로 표면에 형성된 기판을 제공하는 단계와, (b) 상기 플루오르화바륨 희생층을 비롯한 기판의 표면 전체에 걸쳐 나노와이어를 성장시키는 단계와, (c) 용매에 의해 상기 플루오르화바륨 희생층을 제거하여 희생층 표면에 있는 나노와이어를 함께 제거함으로써, 기판의 표면에 직접 접촉한 상태의 나노와이어만 남겨 두어, 나노와이어를 기판의 표면 상에 패턴화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. |
---|---|
Int. CL | B82B 3/00 (2006.01) H01L 21/027 (2006.01) |
CPC | H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) H01L 21/02603(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020080112055 (2008.11.12) |
출원인 | 연세대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1064908-0000 (2011.09.07) |
공개번호/일자 | 10-2010-0053081 (2010.05.20) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20110916) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2008.11.12) |
심사청구항수 | 10 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 연세대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 명재민 | 대한민국 | 경기도 고양시 일산동구 |
2 | 조티 프라카스카 | 인도 | 서울특별시 서대문구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 김승욱 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 강남대로 ***, ***호(서초동, 두산베어스텔)(아이피마스터특허법률사무소) |
2 | 이채형 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 ** (대치동 동구빌딩 *층) Neo국제특허법률사무소 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 연세대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 서대문구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2008.11.12 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0781535-45 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2008.12.19 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0872423-42 |
3 | 보정요구서 Request for Amendment |
2008.12.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2008-0137930-87 |
4 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2008.12.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0881319-13 |
5 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2010.04.23 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
6 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2010.05.17 | 수리 (Accepted) | 9-1-2010-0029616-18 |
7 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2010.12.20 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0580611-19 |
8 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2011.02.11 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0097921-48 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2011.02.11 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0097920-03 |
10 | 등록결정서 Decision to grant |
2011.08.31 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0494030-86 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2011.12.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5252006-10 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 기판의 표면에서 나노와이어를 패터닝하는 방법으로서, (a) 플루오르화바륨 희생층이 원하는 패턴으로 표면에 형성된 기판을 제공하는 단계와, (b) 상기 플루오르화바륨 희생층을 비롯한 기판의 표면 전체에 걸쳐 나노와이어를 성장시키는 단계와, (c) 용매에 의해 상기 플루오르화바륨 희생층을 제거하여 희생층 표면에 있는 나노와이어를 함께 제거함으로써, 기판의 표면에 직접 접촉한 상태의 나노와이어만 남겨 두어, 나노와이어를 기판의 표면 상에 패턴화하는 단계 를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법 |
2 |
2 청구항 1에 있어서, 상기 (a)의 단계에 있어서, 상기 기판은, (a-1) 기판의 표면에 포토 레지스트를 코팅하는 단계와, (a-2) 상기 코팅된 포토 레지스트를 패터닝하는 단계와, (a-3) 상기 패턴화된 포토 레지스트를 비롯한 기판 표면 전체에 걸쳐 플루오르화바륨을 열증착에 의해 성장시켜 플루오르화바륨 희생층을 형성하는 단계와, (a-4) 상기 패턴화된 포토 레지스트를 리프트 오프 기법에 의해 제거하여 그 포토 레지스트 표면에 있는 플루오르화바륨 희생층을 함께 제거함으로써, 상기 기판의 표면에 직접 접촉한 상태의 플루오르화바륨 희생층만 남겨 두어, 원하는 패턴으로 플루오르화바륨 희생층을 기판의 표면에 형성하는 단계를 거쳐 제공되는 것을 특징으로 하는 방법 |
3 |
3 청구항 2에 있어서, 상기 (a-4) 단계에 있어서, 상기 패턴화된 포토 레지스트는 아세톤을 이용하여 제거하는 것을 특징으로 하는 방법 |
4 |
4 청구항 1에 있어서, 상기 (a)의 단계에 있어서, 상기 기판은 플루오르화바륨을 열증착에 의해 상기 기판의 표면에서 성장시킨 다음에 상기 성장시킨 플루오르화바륨 희생층을 원하는 패턴으로 패터닝한 단계를 거쳐 제공되는 것을 특징으로 하는 방법 |
5 |
5 청구항 1에 있어서, 상기 (a)의 단계에 있어서, 상기 기판은 플루오르화바륨을 CVD 기법을 이용하여 상기 기판의 표면에 형성한 다음에 상기 형성된 플루오르화바륨 희생층을 원하는 패턴으로 패터닝한 단계를 거쳐 제공되는 것을 특징으로 하는 방법 |
6 |
6 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서, 상기 플루오르화바륨 희생층의 표면은 다결정 또는 비결정질의 표면인 것을 특징으로 하는 방법 |
7 |
7 청구항 6에 있어서, 상기 플루오르화바륨 희생층은 상온~1500℃의 온도에서 안정적인 특성을 나타내는 것을 특징으로 하는 방법 |
8 |
8 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (b)의 단계에 있어서, 상기 나노와이어는 ZnO, GaN 또는 실리콘 나노와이어인 것을 특징으로 하는 방법 |
9 |
9 청구항 8에 있어서, 상기 나노와이어는 CVD 또는 퍼니스 방법에 의해 성장시키는 것을 특징으로 하는 방법 |
10 |
10 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (c)의 단계에 있어서, 상기 플루오르화바륨 희생층은 탈이온수에 의해 제거되는 것을 특징으로 하는 방법 |
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14 |
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지정국 정보가 없습니다 |
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순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | JP05147743 | JP | 일본 | FAMILY |
2 | JP22115772 | JP | 일본 | FAMILY |
3 | US08227348 | US | 미국 | FAMILY |
4 | US20100116780 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | JP2010115772 | JP | 일본 | DOCDBFAMILY |
2 | JP5147743 | JP | 일본 | DOCDBFAMILY |
3 | US2010116780 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
4 | US8227348 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 지식경제부 | 연세대학교 산학협력단 | IT원천기술개발사업 | 나노접합을 이용한 차세대 미래소자-세부 |
특허 등록번호 | 10-1064908-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20081112 출원 번호 : 1020080112055 공고 연월일 : 20110916 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20110831 청구범위의 항수 : 10 유별 : B82B 3/00 발명의 명칭 : 신규의 희생층 재료를 이용한 기판 상에서의 나노와이어 패터닝 방법 존속기간(예정)만료일 : 20180908 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 연세대학교 산학협력단 서울특별시 서대문구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 217,500 원 | 2011년 09월 07일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 260,000 원 | 2014년 08월 06일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 182,000 원 | 2015년 08월 28일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 182,000 원 | 2016년 09월 06일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 336,000 원 | 2017년 09월 04일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2008.11.12 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0781535-45 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2008.12.19 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0872423-42 |
3 | 보정요구서 | 2008.12.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2008-0137930-87 |
4 | [출원서등 보정]보정서 | 2008.12.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0881319-13 |
5 | 선행기술조사의뢰서 | 2010.04.23 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
6 | 선행기술조사보고서 | 2010.05.17 | 수리 (Accepted) | 9-1-2010-0029616-18 |
7 | 의견제출통지서 | 2010.12.20 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0580611-19 |
8 | [명세서등 보정]보정서 | 2011.02.11 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0097921-48 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2011.02.11 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0097920-03 |
10 | 등록결정서 | 2011.08.31 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0494030-86 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2011.12.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5252006-10 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5062749-37 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.06.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5088566-87 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.09.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5114224-78 |
기술번호 | KST2014008904 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 연세대학교 |
기술명 | 신규의 희생층 재료를 이용한 기판 상에서의 나노와이어 패터닝 방법 |
기술개요 |
본 발명에 따라서 기판의 표면에서 나노와이어를 패터닝하는 방법이 제공되는데, 상기 방법은 (a) 플루오르화바륨 희생층이 원하는 패턴으로 표면에 형성된 기판을 제공하는 단계와, (b) 상기 플루오르화바륨 희생층을 비롯한 기판의 표면 전체에 걸쳐 나노와이어를 성장시키는 단계와, (c) 용매에 의해 상기 플루오르화바륨 희생층을 제거하여 희생층 표면에 있는 나노와이어를 함께 제거함으로써, 기판의 표면에 직접 접촉한 상태의 나노와이어만 남겨 두어, 나노와이어를 기판의 표면 상에 패턴화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. |
개발상태 | 기술개발완료 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 나노 전자 소자 제조 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매,라이센스,기술협력, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1345165039 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A2005 |
연구과제명 | 휴먼트로닉스정보소재사업단 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 연세대학교 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | 기타 |
과제고유번호 | 1345071141 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A2005 |
연구과제명 | 휴먼트로닉스 정보소재 사업단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국학술진흥재단 |
연구주관기관명 | 연세대학교 |
성과제출연도 | 2008 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | 기타 |
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