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비휘발성 메모리 소자 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015141959
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 제 1 전극과, 제 1 전극 상에 형성되며, 도너 물질 및 억셉터 물질을 포함하는 제 1 유기물층과, 제 1 유기물층 상에 형성된 나노 크리스탈층과, 나노 크리스탈층 상에 형성되며, 도너 물질 및 억셉터 물질을 포함하는 제 2 유기물층과, 제 2 유기물층 상에 형성된 제 2 전극을 포함하고, 나노 크리스탈층은 배리어층과 배리어층 내에 형성된 복수의 나노 크리스탈을 포함하며, 제 1 및 제 2 전극 사이의 전위차에 따라 나노 크리스탈 내에 전하가 적어도 부분적으로 충전 및 방전되어 멀티 레벨의 전류가 출력되는 비휘발성 메모리 소자 및 그 제조 방법이 제시된다.
Int. CL H01L 27/115 (2006.01)
CPC H01L 27/11507(2013.01)
출원번호/일자 1020140026928 (2014.03.07)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1482723-0000 (2015.01.08)
공개번호/일자 10-2014-0051193 (2014.04.30) 문서열기
공고번호/일자 (20150115) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2009-0042370 (2009.05.15)
관련 출원번호 1020090042370
심사청구여부/일자 Y (2014.03.07)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박재근 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 이곤섭 대한민국 서울 송파구
3 이종대 대한민국 경기 의정부시 장곡로번길
4 승현민 대한민국 서울 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남승희 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 청보빌딩)(아인특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2014.03.07 수리 (Accepted) 1-1-2014-0223400-55
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.04.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0299007-75
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
4 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.06.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0588422-64
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.07.10 수리 (Accepted) 1-1-2014-0649632-10
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.07.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0649631-64
7 등록결정서
Decision to grant
2014.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0815304-91
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제 1 전극;상기 제 1 전극 상에 형성되며, 도너 물질 및 억셉터 물질을 포함하는 제 1 유기물층;상기 제 1 유기물층 상에 형성된 나노 크리스탈층;상기 나노 크리스탈층 상에 형성되며, 도너 물질 및 억셉터 물질을 포함하는 제 2 유기물층; 및상기 제 2 유기물층 상에 형성된 제 2 전극을 포함하고,상기 나노 크리스탈층은 배리어층과 상기 배리어층 내에 형성된 복수의 나노 크리스탈을 포함하며,상기 도너 물질은 P3HT를 포함하고, 상기 억셉터 물질은 PCBM([6,6]-phenyl-C61 butyric acid methyl ester)를 포함하며,상기 제 1 및 제 2 전극 사이의 전위차에 따라 상기 나노 크리스탈 내에 전하가 적어도 부분적으로 충전 및 방전되어 멀티 레벨의 전류가 출력되는 비휘발성 메모리 소자
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
청구항 1에 있어서, 상기 나노 크리스탈은 Al, Ti, Zn, Fe, Ni, Sn, Pb, Cu와 이들의 합금 중 적어도 어느 하나인 비휘발성 메모리 소자
6 6
청구항 5에 있어서, 상기 배리어층은 상기 나노 크리스탈 물질의 산화물, Al2O3, TiO2, CB(carbazole terminated thiol) 중에서 선택된 어느 하나인 비휘발성 메모리 소자
7 7
청구항 1에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 전극 사이의 전위차가 증가함에 따라 전류가 증가하는 영역과, 상기 전위차가 증가함에 따라 전류가 감소하는 부저항 영역을 포함하는 비휘발성 메모리 소자
8 8
청구항 7에 있어서, 상기 전위차가 임계 전압 이하일 경우 상기 나노 크리스탈 내에 전하가 충전되지 않아 전류가 완만하게 상승하며, 상기 전위차가 상기 임계 전압 이상일 경우 상기 나노 크리스탈에 상기 전하가 충전되어 상기 전류가 급격하게 상승하는 비휘발성 메모리 소자
9 9
청구항 7에 있어서, 상기 부저항 영역은 상기 제 1 및 제 2 전극 사이의 전위차가 증가함에 따라 상기 나노 크리스탈의 전하가 부분적으로 충전 또는 방전되어 전위차가 증가해도 전류가 감소하는 비휘발성 메모리 소자
10 10
기판 상에 제 1 전극을 형성하는 단계;상기 제 1 전극 상에 도너 물질 및 억셉터 물질을 포함하는 제 1 유기물층을 형성하는 단계;상기 제 1 유기물층 상에 상기 제 1 전극과 적어도 일부가 중첩되도록 나노 크리스탈층을 형성하는 단계;상기 나노 크리스탈층이 형성된 상기 제 1 유기물층 상에 도너 물질 및 억셉터 물질을 포함하는 제 2 유기물층을 형성하는 단계; 및상기 나노 크리스탈층과 적어도 일부가 중첩되도록 상기 제 2 유기물층 상에 제 2 전극을 형성하는 단계를 포함하고,상기 나노 크리스탈층은 복수의 나노 크리스탈과 상기 나노 크리스탈을 감싸는 배리어층을 포함하며,상기 도너 물질은 P3HT를 포함하고, 상기 억셉터 물질은 PCBM([6,6]-phenyl-C61 butyric acid methyl ester)를 포함하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
11 11
청구항 10에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 유기물층은 상기 도너 물질 및 억셉터 물질이 혼합된 원료를 코팅하여 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
12 12
청구항 11에 있어서, 상기 원료는 1 내지 99wt%의 도너 물질과 1 내지 99wt%의 억셉터 물질을 혼합하여 제작하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
13 13
청구항 10에 있어서, 상기 나노 크리스탈층은 상기 제 1 유기물층 상에 금속층을 형성한 후 상기 금속층을 산소 플라즈마를 이용한 산화 공정을 통해 산화시켜 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
14 14
청구항 10에 있어서, 상기 나노 크리스탈층은 상기 제 1 유기물층 상에 제 1 배리어층, 금속층 및 제 2 배리어층을 적층한 후 큐어링 공정을 실시하여 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
15 15
청구항 10에 있어서, 상기 나노 크리스탈층은 배리어 물질로 둘러싸인 복수의 나노 크리스탈을 제조하고 유기물에 분산시킨 후 상기 제 1 유기물층에 코팅하여 형성하는 비휘발성 메모리 소자의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR101433273 KR 대한민국 FAMILY
2 WO2010131901 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
3 WO2010131901 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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