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트랜지스터 손상 치료 방법 및 이를 이용한 디스플레이 장치(METHOD FOR RECOVERING DAMAGE OF TRANSISTOR AND DISPLAY APPARATUS USING THE SAME)

  • 기술번호 : KST2017016848
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 트랜지스터 손상 치료 방법은, 2개의 게이트 전극을 가지는 복수의 트랜지스터를 포함하는 디스플레이 장치에서의 트랜지스터 손상 치료 방법으로, 상기 복수의 트랜지스터 중 손상된 트랜지스터를 검출하는 단계 및 상기 손상된 트랜지스터의 2개의 게이트 전극에 소정 크기의 전압을 인가해 상기 손상된 트랜지스터에 줄열(joule heat)을 발생시킴으로써 손상을 치료하는 단계;를 포함한다. 이에 의하여, 디스플레이의 사용 중 불균일한 소자 공정에서 야기된 디스플레이용 트랜지스터의 손상 치료가 가능하므로, 심화된 스트레스 환경에서 소자 열화 현상을 매우 짧은 시간의 전기적 신호를 이용해 용이하게 치료할 수 있기 때문에, 디스플레이의 수명을 획기적으로 개선할 수 있다. 아울러, 별도의 추가적인 회로나 공정 변경 없이도 트랜지스터의 손상 치료가 가능하다.
Int. CL H01L 27/12 (2016.06.02) H01L 29/786 (2016.06.02) H01L 21/324 (2016.06.02) G02F 1/1368 (2016.06.02) H01L 29/66 (2016.06.02) H01L 21/02 (2016.06.02)
CPC H01L 27/1244(2013.01) H01L 27/1244(2013.01) H01L 27/1244(2013.01) H01L 27/1244(2013.01) H01L 27/1244(2013.01) H01L 27/1244(2013.01) H01L 27/1244(2013.01)
출원번호/일자 1020160051352 (2016.04.27)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0122430 (2017.11.06) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.04.27)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최양규 대한민국 대전광역시 유성구
2 김충기 대한민국 대전광역시 유성구
3 배학열 대한민국 대전광역시 유성구
4 박준영 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김성호 대한민국 서울특별시 강남구 도곡로 *** (역삼동,미진빌딩 *층)(KNP 특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.04.27 수리 (Accepted) 1-1-2016-0404418-91
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2017.05.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2017.07.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0105551-24
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.07.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0497574-33
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.09.18 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0906823-44
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2017-0906824-90
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2018.01.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0073742-19
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2018.03.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0251445-48
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2018.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-0251446-94
10 등록결정서
Decision to grant		 2018.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0568132-55
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
2개의 게이트 전극을 가지는 복수의 트랜지스터를 포함하는 디스플레이 장치에서의 트랜지스터 손상 치료 방법으로, 상기 복수의 트랜지스터 중 손상된 트랜지스터를 검출하는 단계; 및상기 손상된 트랜지스터의 2개의 게이트 전극에 소정 크기의 전압을 인가해 상기 손상된 트랜지스터에 줄열(joule heat)을 발생시킴으로써 트랜지스터의 손상을 치료하는 단계;를 포함하되,상기 소정 크기의 전압은 상기 손상된 트랜지스터의 손상 정도에 대응하는 크기로서 기 설정된 값이고,상기 손상을 치료하는 단계는,상기 디스플레이 장치의 디스플레이 기능을 위해 상기 트랜지스터에 인가되는 신호의 길이보다 짧거나 같은 신호를 이용하여, 상기 2개의 게이트 전극에 소정 크기의 전압을 인가하여 상기 손상된 트랜지스터의 손상을 치료하는 것을 특징으로 하고,상기 손상된 트랜지스터의 손상 정도에 대응하는 시간 동안 상기 소정 크기의 전압을 인가하여 상기 손상된 트랜지스터의 손상을 치료하는 것을 특징으로 하는, 트랜지스터 손상 치료 방법
2 2
2개의 게이트 전극을 가지는 복수의 트랜지스터로 구성된 트랜지스터 어레이를 포함하는 디스플레이 장치에서의 트랜지스터 손상 치료 방법으로, 상기 복수의 트랜지스터 중 적어도 하나의 트랜지스터가 손상되었는지 판단하는 단계;적어도 하나의 트랜지스터가 손상되었다고 판단되면, 손상된 트랜지스터가 속한 트랜지스터 어레이 전체에 소정 크기의 전압을 인가해 상기 트랜지스터 어레이에 줄열(joule heat)을 발생시킴으로써 트랜지스터의 손상을 치료하는 단계;를 포함하되,상기 소정 크기의 전압은 상기 손상된 트랜지스터의 손상 정도에 대응하는 크기로서 기 설정된 값이고,상기 손상을 치료하는 단계는,상기 디스플레이 장치의 디스플레이 기능을 위해 상기 트랜지스터에 인가되는 신호의 길이보다 짧거나 같은 신호를 이용하여, 상기 트랜지스터 어레이 전체에 소정 크기의 전압을 인가하여 상기 트랜지스터의 손상을 치료하는 것을 특징으로 하고,상기 손상된 트랜지스터의 손상 정도에 대응하는 시간 동안 상기 소정 크기의 전압을 인가하여 상기 손상된 트랜지스터의 손상을 치료하는 것을 특징으로 하는, 트랜지스터 손상 치료 방법
3 3
제1항 또는 제2항에 있어서,손상 치료 방법의 각 단계는 상기 디스플레이 장치가 디스플레이 기능을 수행하는 동시에 이루어지는 트랜지스터 손상 치료 방법
4 4
삭제
5 5
제1항 또는 제2항에 있어서,상기 손상 치료 방법의 각 단계를 기설정된 주기마다 반복적으로 수행하는 단계;를 더 포함하는 트랜지스터 손상 치료 방법
6 6
삭제
7 7
디스플레이 장치에 있어서,2개의 게이트 전극을 가지는 복수의 트랜지스터로 구성된 트랜지스터 어레이;상기 트랜지스터 어레이를 포함하는 디스플레이 패널; 및상기 트랜지스터 어레이 중 적어도 하나의 트랜지스터가 손상되었다고 판단되면, 2개의 게이트 전극에 소정 크기의 전압을 인가해 줄열(joule heat)을 발생시킴으로써 상기 트랜지스터의 손상을 치료하는 제어부;를 포함하되,상기 소정 크기의 전압은 상기 손상된 트랜지스터의 손상 정도에 대응하는 크기로서 기 설정된 값이고,상기 제어부는 상기 디스플레이 장치의 디스플레이 기능을 위하여 상기 트랜지스터에 인가되는 신호의 길이와 같거나, 상기 트랜지스터에 인가되는 신호의 길이보다 짧은 신호를 이용해 줄열을 발생시킴으로써 상기 손상된 트랜지스터의 손상을 치료하고,상기 손상된 트랜지스터의 손상 정도에 대응하는 시간 동안 상기 소정 크기의 전압을 인가하여 상기 손상된 트랜지스터의 손상을 치료하는, 디스플레이 장치
8 8
제7항에 있어서,상기 제어부는,손상된 트랜지스터에 구비된 2개의 게이트 전극에 소정 크기의 전압을 인가해 상기 손상된 트랜지스터에만 줄열을 발생시킴으로써 트랜지스터의 손상을 치료하는 디스플레이 장치
9 9
제7항에 있어서,상기 제어부는, 손상된 트랜지스터가 속한 트랜지스터 어레이 전체에 소정 크기의 전압을 인가해 상기 트랜지스터 어레이 전체에 줄열을 발생시킴으로써 트랜지스터의 손상을 치료하는 디스플레이 장치
10 10
제7항에 있어서,상기 제어부는, 상기 디스플레이 장치가 디스플레이 기능을 수행하는 동시에 줄열을 발생시켜 트랜지스터의 손상을 치료하는 디스플레이 장치
11 11
삭제
12 12
삭제
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