요약 | 본 발명은 터널링 전계효과 트랜지스터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반도체 핀의 양측에 독립적으로 동작 되도록 분리된 수직형 듀얼 게이트(dual gates)를 갖는 터널링 전계효과 트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것이다. |
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Int. CL | H01L 29/78 (2006.01.01) H01L 21/336 (2006.01.01) |
CPC | H01L 29/7855(2013.01) H01L 29/7855(2013.01) H01L 29/7855(2013.01) H01L 29/7855(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020120052537 (2012.05.17) |
출원인 | 서울대학교산학협력단, 서강대학교산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1286707-0000 (2013.07.10) |
공개번호/일자 | |
공고번호/일자 | (20130716) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2012.05.17) |
심사청구항수 | 12 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 서울대학교산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 관악구 |
2 | 서강대학교산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 마포구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 박병국 | 대한민국 | 서울 서초구 |
2 | 김상완 | 대한민국 | 서울 관악구 |
3 | 최우영 | 대한민국 | 서울 동작구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 권오준 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠*차 ****호 (역삼동)(소중한특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 서울대학교산학협력단 | 서울특별시 관악구 | |
2 | 서강대학교산학협력단 | 서울특별시 마포구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2012.05.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0395663-10 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2012.05.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0417157-24 |
3 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
4 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2013.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
5 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2013.03.14 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0220681-18 |
6 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2013.04.09 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0026169-00 |
7 | 등록결정서 Decision to grant |
2013.05.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0361619-51 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2017.01.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5005781-67 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.01.22 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5014626-89 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.11.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5265458-48 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 일정 높이의 반도체 핀이 형성된 반도체 기판;상기 반도체 핀을 사이에 두고 양측으로 각각 소정의 거리 떨어진 위치의 상기 반도체 기판에 형성된 p+ 영역과 n+ 영역;상기 반도체 핀의 일측과 상기 n+ 영역 사이에 제 1 게이트 절연막을 사이에 두고 형성된 제 1 게이트; 및상기 반도체 핀의 타측과 상기 p+ 영역 사이에 제 2 게이트 절연막을 사이에 두고 상기 제 1 게이트와 전기적으로 분리되도록 형성된 제 2 게이트를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터 |
2 |
2 제 1 항에 있어서,상기 제 1 게이트 및 상기 제 2 게이트는 서로 다른 물질로 형성된 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터 |
3 |
3 제 1 항에 있어서,상기 제 1 게이트 및 상기 제 2 게이트는 반도체 물질에 서로 다른 불순물이 도핑되어 형성되거나 동일한 불순물로 도핑 농도가 서로 다르게 형성된 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터 |
4 |
4 제 3 항에 있어서,상기 제 1 게이트는 상기 n+ 영역에 도핑된 불순물과 동일한 n형 불순물로 도핑되어 형성되고,상기 제 2 게이트는 상기 p+ 영역에 도핑된 불순물과 동일한 p형 불순물로 도핑되어 형성된 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터 |
5 |
5 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 반도체 핀의 높이는 터널링 접합 면적을 결정하는 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터 |
6 |
6 제 5 항에 있어서,상기 반도체 핀 및 상기 반도체 기판은 실리콘, 실리콘게르마늄, 게르마늄 및 3-5족 화합물 반도체 물질 중 어느 하나 이상으로 형성된 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터 |
7 |
7 제 6 항에 있어서,상기 제 1 게이트 절연막 및 상기 제 2 게이트 절연막은 실리콘 산화막 (SiO2), 스트론튬 산화막(SrO), 실리콘 질화막(Si3N4), 알루미늄 산화막(A12O3), 마그네슘 산화막(MgO), 스칸듐 산화막(Sc2O3), 가돌리늄 산화막(Gd2O3), 이트륨 산화막(Y2O3), 사마륨 산화막(Sm2O3), 하프늄 산화막(HfO2), 지르코늄 산화막(ZrO2), 탄탈 산화막(Ta2O5), 바륨 산화막(BaO) 및 비스무스 산화막(Bi2O3) 중 어느 하나로 형성된 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터 |
8 |
8 반도체 기판에 하드 마스크를 형성하는 제 1 단계;상기 하드 마스크의 일 측벽에 측벽 스페이서를 형성하는 제 2 단계;상기 하드 마스크 및 상기 측벽 스페이서를 식각 마스크로 하여 상기 반도체 기판을 비등방성으로 일정 깊이 식각하여 일측으로 단차지게 하는 제 3 단계;상기 반도체 기판의 단차진 일측에 제 1 게이트 절연막을 형성하는 제 4 단계;상기 기판 전면에 제 1 게이트 물질을 증착하고 비등방성으로 식각하여 상기 반도체 기판의 단차진 일측 측벽에 상기 제 1 게이트 절연막을 사이에 두고 제 1 게이트를 형성하는 제 5 단계;상기 기판 전면에 제 1 도전형 불순물을 도핑하여 상기 제 1 게이트 일측으로 상기 반도체 기판에 제 1 도전형 고농도 도핑 영역을 형성하는 제 6 단계;상기 기판 전면에 더미 절연막을 증착하고 상기 하드 마스크가 드러나도록 평탄화시키는 제 7 단계;상기 하드 마스크를 제거하고 상기 측벽 스페이서 및 상기 더미 절연막을 식각 마스크로 하여 상기 반도체 기판의 타측을 비등방성으로 일정 깊이 식각하여 반도체 핀을 형성하는 제 8 단계;상기 반도체 핀이 형성된 상기 반도체 기판의 타측에 제 2 게이트 절연막을 형성하는 제 9 단계;상기 기판 전면에 제 2 게이트 물질을 증착하고 비등방성으로 식각하여 상기 반도체 기판의 타측에 상기 제 2 게이트 절연막을 사이에 두고 제 2 게이트를 형성하는 제 10 단계; 및상기 기판 전면에 제 2 도전형 불순물을 도핑하여 상기 제 2 게이트 일측으로 상기 반도체 기판에 제 2 도전형 고농도 도핑 영역을 형성하는 제 11 단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터의 제조방법 |
9 |
9 제 8 항에 있어서,상기 제 1 게이트 물질 및 상기 제 2 게이트 물질은 일함수가 서로 다른 물질인 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터의 제조방법 |
10 |
10 제 8 항에 있어서,상기 제 1 게이트 물질 및 상기 제 2 게이트 물질은 반도체 물질이고,상기 제 6 단계에서 상기 제 1 도전형 불순물의 도핑은 상기 제 1 게이트에도 동시에 도핑 되고,상기 제 11 단계에서 상기 제 2 도전형 불순물의 도핑은 상기 제 2 게이트에도 동시에 도핑 되는 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터의 제조방법 |
11 |
11 제 8 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 3 단계 및 상기 제 8 단계에서 상기 반도체 기판의 식각 깊이는 서로 동일하게 하고, 상기 제 4 단계에서 상기 제 1 게이트 절연막 형성 및 상기 제 9 단계에서 제 2 게이트 절연막 형성은 열 산화공정을 통하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터의 제조방법 |
12 |
12 제 11 항에 있어서,상기 제 1 단계 이전에 상기 반도체 기판에 버퍼층을 먼저 형성하고, 상기 버퍼층 상에 상기 하드 마스크를 형성하고,상기 제 3 단계에서 상기 반도체 기판 식각시 상기 하드 마스크 및 상기 측벽 스페이서 일측으로 드러난 상기 버퍼층을 먼저 식각하여 제거하는 것을 특징으로 하는 터널링 전계효과 트랜지스터의 제조방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
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1 | 교육과학기술부 | (재)스마트 IT 융합 시스템 연구단 | 글로벌프론티어사업(다차원 스마트 IT 융합 시스템 연구) | 나노혁신소자기술개발 |
2 | 지식경제부 | 서강대학교 산학협력단 | 산업원천기술개발사업(정보통신) | 22nm급 이하 파운드리 소자 및 PDK 기술 개발 |
공개전문 정보가 없습니다 |
---|
특허 등록번호 | 10-1286707-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20120517 출원 번호 : 1020120052537 공고 연월일 : 20130716 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20130527 청구범위의 항수 : 12 유별 : H01L 29/78 발명의 명칭 : 독립된 듀얼 게이트의 핀펫 구조를 갖는 터널링 전계효과 트랜지스터 및 그 제조방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 서강대학교산학협력단 서울특별시 마포구... |
1 |
(권리자) 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 256,500 원 | 2013년 07월 10일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 212,800 원 | 2016년 07월 05일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 212,800 원 | 2017년 06월 26일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 152,000 원 | 2018년 06월 20일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 278,000 원 | 2019년 07월 10일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 286,340 원 | 2020년 07월 15일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2012.05.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0395663-10 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2012.05.24 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0417157-24 |
3 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
4 | 선행기술조사의뢰서 | 2013.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
5 | [출원서등 보정]보정서 | 2013.03.14 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0220681-18 |
6 | 선행기술조사보고서 | 2013.04.09 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0026169-00 |
7 | 등록결정서 | 2013.05.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0361619-51 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2017.01.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2017-5005781-67 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.01.22 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5014626-89 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.11.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5265458-48 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1345164397 |
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세부과제번호 | 2011-0031842 |
연구과제명 | 다차원 스마트 IT 융합 시스템 연구기획평가비 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201109~202008 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기타 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1415115969 |
---|---|
세부과제번호 | 10039174 |
연구과제명 | 22nm급 이하 파운드리 소자 및 PDK 기술 개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 삼성전자(주) |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201105~201602 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1415128784 |
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세부과제번호 | H0301-13-1007 |
연구과제명 | 차세대 융·복합 시스템용 아날로그IP 핵심설계기술개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201006~201312 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기타 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1711004089 |
---|---|
세부과제번호 | 2012M3A6A6054186 |
연구과제명 | 초저전력 초소형 나노소자 및 재구성 가능 3차원 집적 시스템 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 미래창조과학부 |
연구관리전문기관명 | |
연구주관기관명 | |
성과제출연도 | 2013 |
연구기간 | 201109~202008 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345156494 |
---|---|
세부과제번호 | 2009-0082439 |
연구과제명 | 고에너지 효율의 IC 구현을 위한 차세대 녹색 터널링 트랜지스터 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 서강대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 200906~201205 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345164397 |
---|---|
세부과제번호 | 2011-0031842 |
연구과제명 | 다차원 스마트 IT 융합 시스템 연구기획평가비 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201109~202008 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기타 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1415115969 |
---|---|
세부과제번호 | 10039174 |
연구과제명 | 22nm급 이하 파운드리 소자 및 PDK 기술 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 삼성전자(주) |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201105~201602 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1415123314 |
---|---|
세부과제번호 | H0301-12-1007 |
연구과제명 | 차세대 융·복합 시스템용 아날로그IP 핵심설계기술개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 정보통신산업진흥원 (NIPA) |
연구주관기관명 | 서강대학교산학협력단 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 201006~201312 |
기여율 | 0.25 |
연구개발단계명 | 기타 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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