요약 | 반도체 장치 및 그 제조 방법이 제공된다. 상기 반도체 장치의 제조 방법은 기판 상에 제1 마스크를 형성하고, 상기 제1 마스크를 이용하여 상기 기판을 제1 식각하여, 핀의 제1 측벽을 형성하고, 상기 기판 상에 상기 제1 마스크와 다른 제2 마스크를 형성하고, 상기 제2 마스크를 이용하여 상기 기판을 제2 식각하여, 상기 핀의 제2 측벽을 형성하는 것을 포함한다. |
---|---|
Int. CL | H01L 21/336 (2006.01.01) H01L 29/78 (2006.01.01) |
CPC | H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) H01L 29/66795(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020120112505 (2012.10.10) |
출원인 | 삼성전자주식회사, 서울대학교산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1994079-0000 (2019.06.24) |
공개번호/일자 | 10-2014-0046256 (2014.04.18) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20190930) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2017.10.11) |
심사청구항수 | 13 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 삼성전자주식회사 | 대한민국 | 경기도 수원시 영통구 |
2 | 서울대학교산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 관악구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 선민철 | 대한민국 | 서울 성북구 |
2 | 박병국 | 대한민국 | 서울 관악구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 특허법인가산 | 대한민국 | 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 삼성전자 주식회사 | 경기도 수원시 영통구 | |
2 | 서울대학교 산학협력단 | 서울특별시 관악구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2012.10.10 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0823382-58 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
3 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2013.04.18 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0340673-23 |
4 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
6 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 [Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination) |
2017.10.11 | 수리 (Accepted) | 1-1-2017-0983458-10 |
7 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2018.06.11 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
8 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2018.07.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-6-2018-0092768-64 |
9 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2018.08.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2018-0554125-63 |
10 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2018.10.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2018-1019011-95 |
11 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2018.10.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2018-1019030-52 |
12 | 거절결정서 Decision to Refuse a Patent |
2019.02.21 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0130242-19 |
13 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2019.03.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2019-0295233-20 |
14 | [명세서등 보정]보정서(재심사) Amendment to Description, etc(Reexamination) |
2019.03.22 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2019-0295234-76 |
15 | 등록결정서 Decision to Grant Registration |
2019.04.30 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0307896-43 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
19 | [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정) |
2019.08.27 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2019-5025432-38 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.11.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5265458-48 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 기판 상에 제1 물질을 포함하는 제1 마스크를 형성하고,상기 제1 마스크를 이용하여 상기 기판을 제1 식각하여, 핀의 제1 측벽을 형성하고,상기 기판 상에 상기 제1 마스크와 다른 제2 마스크를 형성하고,상기 제2 마스크를 이용하여 상기 기판을 제2 식각하여, 상기 핀의 제2 측벽을 형성하는 것을 포함하고,상기 기판을 제1 식각하는 것은, 상기 기판 내에 트렌치를 형성하는 것을 포함하고,상기 제2 마스크는 상기 트렌치를 메우는 제1 부분과 상기 기판의 상면 위로 돌출된 제2 부분을 포함하고,상기 제2 마스크를 형성하는 것은, 상기 핀의 제1 측벽을 형성한 후, 상기 기판에 제1 마스크가 형성되어 있는 상태에서, 상기 트렌치를 메우고 상기 기판의 상면 위로 돌출되고 상기 제1 물질과 다른 제2 물질을 포함하는 제1 절연막을 형성하고,상기 제1 마스크를 제거하고,상기 기판의 상면 위로 돌출된 제1 절연막의 측벽에 상기 제2 물질을 포함하고 스페이서 형태의 제2 절연막을 형성하여, 제2 마스크를 완성하는 것을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법 |
2 |
2 삭제 |
3 |
3 제 1항에 있어서,상기 제2 부분의 폭은 상기 제1 부분의 폭보다 넓은 반도체 장치의 제조 방법 |
4 |
4 제 1항에 있어서, 상기 제2 부분의 측벽은 스페이서 형상이고,상기 스페이서 형상의 폭은, 상기 핀의 폭과 동일한 반도체 장치의 제조 방법 |
5 |
5 삭제 |
6 |
6 제 1항에 있어서,상기 기판 상에 반도체층과 희생층을 교대로 반복하여 적층된 구조체를 형성하는 것을 더 포함하고,상기 기판 상에 제1 마스크를 형성하는 것은, 상기 구조체 상에 제1 마스크를 형성하는 것을 포함하고,상기 기판을 제1 식각하는 것은, 상기 구조체를 제1 식각하여 상기 핀의 제1 측벽을 형성하는 것을 포함하고, 상기 기판 상에 제2 마스크를 형성하는 것은, 상기 구조체 상에 제2 마스크를 형성하는 것을 포함하고,상기 기판을 제2 식각하는 것은, 상기 구조체를 제2 식각하여 상기 핀의 제2 측벽을 형성하는 것을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법 |
7 |
7 제 6항에 있어서, 상기 핀의 제2 측벽을 형성한 후, 상기 구조체의 희생층을 제거하여 서로 이격되어 적층된 다수의 반도체층을 남기는 것을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법 |
8 |
8 제 7항에 있어서,상기 서로 이격되어 적층된 다수의 반도체층을 남긴 후에, 상기 제2 마스크를 제거하는 것을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법 |
9 |
9 제 6항에 있어서,상기 반도체층은 Si이고, 상기 희생층은 SiGe인 반도체 장치의 제조 방법 |
10 |
10 제 1항에 있어서,상기 제1 물질은 질화막이고, 상기 제2 물질은 산화막인 반도체 장치의 제조 방법 |
11 |
11 기판 상에 반도체층과 희생층을 교대로 반복하여 적층된 구조체를 형성하고, 상기 구조체 상에 제1 방향으로 연장되는 제1 마스크를 형성하고,상기 제1 마스크를 이용하여 상기 구조체를 제1 식각하여, 상기 제1 방향으로 연장되는 핀의 제1 측벽을 형성하고, 상기 구조체 상에 상기 제1 마스크와 다르고 상기 제1 방향으로 연장되는 제2 마스크를 형성하고,상기 제2 마스크를 이용하여 상기 구조체를 제2 식각하여, 상기 제1 방향으로 연장되는 상기 핀의 제2 측벽을 형성하고,상기 구조체의 희생층을 제거하여, 서로 이격되어 적층된 다수의 반도체층을 남기고, 상기 남겨진 다수의 반도체층은 상기 제1 방향으로 연장되는 상기 제2 마스크에 의해 지지되고,상기 제2 마스크를 제거하는 것을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법 |
12 |
12 제 11항에 있어서, 상기 구조체를 제1 식각하는 것은, 상기 구조체 내에 트렌치를 형성하는 것을 포함하고,상기 제2 마스크는 상기 트렌치를 메우는 제1 부분과 상기 기판의 상면 위로 돌출된 제2 부분을 포함하는 반도체 장치의 제조 방법 |
13 |
13 제 12항에 있어서,상기 제2 부분의 폭은 상기 제1 부분의 폭보다 넓은 반도체 장치의 제조 방법 |
14 |
14 제 12항에 있어서, 상기 제2 부분의 측벽은 스페이서 형상이고,상기 스페이서 형상의 폭은, 상기 핀의 폭과 동일한 반도체 장치의 제조 방법 |
15 |
15 제 11항에 있어서,상기 반도체층은 Si이고, 상기 희생층은 SiGe인 반도체 장치의 제조 방법 |
16 |
16 삭제 |
17 |
17 삭제 |
18 |
18 삭제 |
19 |
19 삭제 |
20 |
20 삭제 |
지정국 정보가 없습니다 |
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순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US09343549 | US | 미국 | FAMILY |
2 | US09634093 | US | 미국 | FAMILY |
3 | US20140099793 | US | 미국 | FAMILY |
4 | US20160254349 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US2014099793 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
2 | US2016254349 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
3 | US9343549 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
4 | US9634093 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 교육과학기술부 | (재)스마트 IT 융합 시스템 연구단 | 글로벌프론티어사업(다차원 스마트 IT융합 시스템 연구) | 나노혁신소자기술개발 |
특허 등록번호 | 10-1994079-0000 |
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표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20121010 출원 번호 : 1020120112505 공고 연월일 : 20190930 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20190430 청구범위의 항수 : 13 유별 : H01L 21/336 발명의 명칭 : 반도체 장치 및 그 제조 방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 삼성전자 주식회사 경기도 수원시 영통구... |
1 |
(권리자) 서울대학교 산학협력단 서울특별시 관악구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 552,000 원 | 2019년 06월 25일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2012.10.10 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0823382-58 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
3 | [출원서등 보정]보정서 | 2013.04.18 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0340673-23 |
4 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
5 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
6 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 | 2017.10.11 | 수리 (Accepted) | 1-1-2017-0983458-10 |
7 | 선행기술조사의뢰서 | 2018.06.11 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
8 | 선행기술조사보고서 | 2018.07.18 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-6-2018-0092768-64 |
9 | 의견제출통지서 | 2018.08.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2018-0554125-63 |
10 | [명세서등 보정]보정서 | 2018.10.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2018-1019011-95 |
11 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2018.10.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2018-1019030-52 |
12 | 거절결정서 | 2019.02.21 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0130242-19 |
13 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2019.03.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2019-0295233-20 |
14 | [명세서등 보정]보정서(재심사) | 2019.03.22 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2019-0295234-76 |
15 | 등록결정서 | 2019.04.30 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2019-0307896-43 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
19 | [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정) | 2019.08.27 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2019-5025432-38 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.11.25 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5265458-48 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1345164102 |
---|---|
세부과제번호 | 2011-0031845 |
연구과제명 | 초저전력/초소형 나노 소자 및 재구성 가능 3차원 집적 시스템 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 서울대학교 산학협력단 |
성과제출연도 | 2011 |
연구기간 | 201109~202008 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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심판사항 정보가 없습니다 |
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