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연성 실리콘 인터포저 및 이의 제작방법

  • 기술번호 : KST2015003247
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 연성 실리콘 인터포저 및 이의 제작 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 절곡부를 구비한 실리콘 웨이퍼(Si wafer) 기반의 수동 집적 회로(integrated passive device)에 관한 것으로 실리콘 웨이퍼 상에 절곡부를 구비하여 종래 2차원적인 패키징만 가능한 한계점을 해결하였고, 기존의 DRIE(deep reacitve ion etching)공정을 이용하여 실리콘 관통 비아를 형성하는 공정중 절곡이 될 부분을 동시에 형성할 수 있고, 기존의 스핀코팅으로 절연층을 형성하는 실리콘 인터포저와는 폴리머 라미네이트 공정을 사용하므로 절곡부를 용이하게 구현할수 있으며, 3차원적으로 휘거나 접을수 있는 플렉시블 실리콘 인터포저 구현이 가능한 효과가 있다.
Int. CL H01L 23/48 (2006.01)
CPC H01L 23/485(2013.01) H01L 23/485(2013.01) H01L 23/485(2013.01) H01L 23/485(2013.01) H01L 23/485(2013.01) H01L 23/485(2013.01) H01L 23/485(2013.01)
출원번호/일자 1020130015266 (2013.02.13)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-1439306-0000 (2014.09.02)
공개번호/일자 10-2014-0101977 (2014.08.21) 문서열기
공고번호/일자 (20140911) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.02.13)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김동수 대한민국 경기 성남시 분당구
2 박세훈 대한민국 경기 용인시 수지구
3 육종민 대한민국 경기도 용인시 기흥구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 다래 대한민국 서울 강남구 테헤란로 ***, **층(역삼동, 한독타워)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.02.13 수리 (Accepted) 1-1-2013-0128549-52
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.03.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.04.09 수리 (Accepted) 9-1-2014-0031937-11
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.04.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0251971-40
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.05.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0422832-22
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2014-0422830-31
8 등록결정서
Decision to grant
2014.08.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0597502-76
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실리콘 웨이퍼;상기 실리콘 웨이퍼 상에 형성된 절연층;상기 절연층이 형성된 실리콘 웨이퍼를 관통하여 형성된 관통비아;상기 절연층이 형성된 실리콘 웨이퍼를 관통하여 형성되고, 플렉서블한 연성 폴리머 필름으로 채워진 절곡부;를 포함하는 연성 실리콘 인터포저
2 2
실리콘 웨이퍼를 에칭하여 관통비아 및 절곡부의 위치에 단차를 형성하는 제1단계;에칭한 상기 실리콘 웨이퍼 상에 절연층을 증착하는 제2단계;상기 절곡부를 형성할 위치를 마스킹하고 상기 관통비아의 위치에 형성된 단차를 금속으로 채우는 제3단계;상기 절곡부의 위치에 형성된 단차를 연성 폴리머 필름으로 채우는 제4단계;를 포함하는 연성 실리콘 인터포저의 제작방법
3 3
제2항에 있어서,상기 제1단계는,상기 관통비아의 위치 및 상기 절곡부의 위치에 포토레지스트를 형성하는 단계; 및심도 반응성 이온 에칭(DRIE, deep reacitve ion etching) 공정을 통해 상기 실리콘 웨이퍼를 에칭하여 상기 단차를 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 연성 실리콘 인터포저의 제작방법
4 4
제2항에 있어서,상기 제3단계는,상기 금속을 채운 후, 상기 마스킹을 제거하고 화학적 기계적 연마(CMP, Chemical Mechanical Planarization)공정을 통해 표면 평탄화하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 연성 실리콘 인터포저의 제작방법
5 5
제2항에 있어서,제4단계 이후,상기 실리콘 웨이퍼의 상하면을 평탄화하는 단계; 및상기 실리콘 웨이퍼의 상하면에 회로를 형성시키는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 연성 실리콘 인터포저의 제작방법
6 6
실리콘 웨이퍼 상에 회로를 형성하는 제1단계;레이져 또는 다이싱 공정을 통해 상기 실리콘 웨이퍼절곡부의 위치를 제거하는 제2단계;연성 폴리머 필름을 열압착하여 분리된 상기 실리콘 웨이퍼를 덮는 제3단계; 및상기 연성 폴리머 필름 상에 상기 회로와 연결되는 회로 및 상기 실리콘 웨이퍼를 관통하는 관통비아를 형성하는 제4단계;를 포함하는 연성 실리콘 인터포저의 제작방법
7 7
제6항에 있어서,상기 제1단계는 상기 실리콘 웨이퍼를 20 내지 100 마이크로미터로 그라인딩하는 단계;를 더 포함하고,상기 제4단계는 레이저 드릴을 이용하여 관통비아를 형성하는 단계인 것을 특징으로 하는 연성 실리콘 인터포저의 제작방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 전자부품연구원 국제 공동 기술 개발 사업 IPD Si-기판을 이용한 이종 시스템 IC 집적화 공정 기술 개발