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반도체 장치에 있어서,적어도 2 이상의 단위 소자의 집합체를 포함하되,상기 단위 소자는,반도체 영역;상기 반도체 영역의 좌우 양단에 배치되고, 전자 및 홀 중 어느 하나를 제공하거나 수렴하는 소스 및 드레인 영역; 상기 반도체 영역 위에 배치되는 제1 절연체;상기 제1 절연체 위에 배치되고, 상기 반도체 영역의 상부에서 상기 전자 및 상기 홀 중 어느 하나의 분포 상태를 변경시키는 제1 전극;상기 반도체 영역 아래에 배치되는 제2 절연체; 및상기 제2 절연체 아래에 배치되고, 상기 반도체 영역의 하부에서 상기 전자 및 상기 홀 중 어느 하나의 분포 상태를 변경시키는 제2 전극을 포함하고,상기 적어도 2 이상의 단위 소자는 바로 이웃한 단위 소자와 상기 제1 전극 또는 상기 제2 전극을 공유하도록 배열되어 집합체를 형성하는 반도체 장치
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제1 항에 있어서,상기 소스 및 상기 드레인 중의 어느 하나는 N형 반도체이며, 다른 하나는 P형 반도체인 반도체 장치
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제2 항에 있어서,상기 소스 및 상기 드레인 사이에서 순방향의 전류가 흐르도록 전압이 인가되는 반도체 장치
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제1 항에 있어서,상기 제1 전극 및 상기 제2 전극은 도핑된 실리콘, 금속, 금속 실리사이드 및 투명 전도성 물질로 구성되는 그룹에서 선택된 어느 하나를 포함하는 반도체 장치
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제4 항에 있어서,상기 금속은 텅스텐, 은, 금, 구리, 알루미늄, 백금, 티타늄 및 탄탈륨으로 구성되는 그룹에서 선택된 어느 하나를 포함하는 반도체 장치
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제4 항에 있어서,상기 투명 전도성 물질은 인듐주석산화물(ITO), 인듐아연산화물(IZO), 아연산화물(ZnO) 및 인듐산화물(In2O3)로 구성되는 그룹에서 선택된 어느 하나를 포함하는 반도체 장치
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제1 항에 있어서,상기 단위 소자는 상기 반도체 영역으로부터 빛을 방출하는 발광 소자인 것인 반도체 장치
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제7 항에 있어서,상기 제1 전극은 상기 반도체 영역의 상부에 상기 전자 및 상기 홀 중 어느 하나의 반전 또는 축적을 발생시키는 제1 전압을 제공하고,상기 제2 전극은 상기 반도체 영역의 하부에 상기 전자 및 상기 홀 중 어느 하나의 반전 또는 축적을 발생시키는 제2 전압을 제공하는 반도체 장치
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제8 항에 있어서,상기 반도체 영역의 상부에 반전된 상기 전자와 상기 반도체 영역의 하부에 축적된 상기 홀의 재결합에 의하거나, 상기 반도체 영역의 상부에 축적된 상기 홀과 상기 반도체 영역의 하부에 반전된 상기 전자의 재결합에 의하여, 상기 반도체 영역으로부터 빛이 방출되는 반도체 장치
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제9 항에 있어서,상기 전자와 상기 홀의 재결합은 상기 반도체 영역의 상기 상부 및 상기 하부 사이에서, 상기 전자 또는 상기 홀의 터널링에 의한 천이로부터 발생하는 반도체 장치
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제7 항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압을 조절하여, 상기 반도체 영역의 상기 상부 또는 상기 하부에서 상기 전자 또는 상기 홀이 반전 또는 축적되는 영역을 변경함으로써, 반도체 영역으로부터 방출되는 빛의 양을 조절하는 반도체 장치
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제7 항에 있어서,상기 적어도 2 이상의 단위 소자의 집합체 좌우 양단에 배치되는 거울들을 더 포함하는 반도체 장치
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제12 항에 있어서,상기 반도체 영역에서 방출된 빛은 상기 거울들 사이를 왕복하는 반도체 장치
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제7 항에 있어서,상기 반도체 영역에서 방출된 빛은 상기 제1 전극 및 상기 제1 절연체 사이의 계면 또는 상기 제2 전극 및 상기 제2 절연체 사이의 계면을 따라 진행하여 외부로 방출되는 반도체 장치
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제1 항에 있어서,상기 단위 소자는 외부로부터 인가된 빛에 응답하여 전류를 발생시키는 광 다이오드 소자인 반도체 장치
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제15 항에 있어서,상기 제1 전극은 상기 반도체 영역의 상부에 상기 전자 및 상기 홀 중 어느 하나의 반전 또는 축적을 발생시키는 제1 전압을 제공하고,상기 제2 전극은 상기 반도체 영역의 하부에 상기 전자 및 상기 홀 중 어느 하나의 반전 또는 축적을 발생시키는 제2 전압을 제공하는 반도체 장치
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제15 항에 있어서,상기 반도체 영역은 상기 외부로부터 인가된 빛에 응답하여, 상기 반도체 영역에서, 상기 전자 및 홀 쌍을 생성시키는 반도체 장치
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제15 항에 있어서, 상기 제1 전극 또는 상기 제2 전극에 인가되는 전압을 각각 조절함으로써, 상기 반도체 영역에서 생성된 전자-홀 쌍에 의하여 발생하는 전류의 양을 조절하는 반도체 장치
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(a) 반도체 영역, 상기 반도체 영역의 좌우 양단에 배치되는 소스 및 드레인 영역 및 상기 반도체 영역의 상부 및 하부에 배치되는 제1 전극 및 제2 전극을 포함하는 단위 소자를 적어도 2 이상 구비하는 집합체를 제공하는 단계; (b) 상기 단위 소자의 상기 소스 및 드레인 영역 사이에 순방향 전류가 흐르도록 전압을 인가하는 단계; 및(c) 상기 단위 소자의 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에 각각 전압을 인가하여 상기 반도체 영역의 상부 및 하부의 전자 및 홀의 분포 상태를 각각 변경시키는 단계를 포함하되,상기 적어도 2 이상의 단위 소자는 바로 이웃한 단위 소자와 상기 제1 전극 또는 상기 제2 전극을 공유하도록 배열되어 집합체를 형성하는 반도체 장치의 구동 방법
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제19 항에 있어서, 상기 (c) 단계는 상기 반도체 영역의 상부 및 하부 사이에서 상기 전자 및 상기 홀의 터널링을 발생시키고, 상기 터널링에 의한 상기 전자 및 상기 홀의 재결합에 의해 빛을 방출시키는 단계를 포함하는 반도체 장치의 구동 방법
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제20 항에 있어서,상기 반도체 영역에서 방출된 빛은 표면 플라즈몬(surface plasmon) 현상에 의하여, 상기 제1 전극 및 상기 제1 절연체 사이의 계면 또는 상기 제2 전극 및 상기 제2 절연체 사이의 계면을 따라 진행하여 외부로 방출되는 반도체 장치의 구동 방법
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제19 항에 있어서,(d) 상기 적어도 2 이상의 단위 소자의 소스 및 드레인 영역에 인접하도록 거울들을 배치하여, 상기 반도체 영역에서 방출된 빛을 상기 거울들 사이에서 왕복시키는 단계를 더 포함하는 반도체 장치의 구동 방법
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제19 항에 있어서,상기 (c) 단계는 상기 제1 전압 또는 상기 제2 전압을 각각 조절하여, 상기 반도체 영역으로부터 방출되는 빛의 양을 조절하는 반도체 장치의 구동 방법
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(a) 반도체 영역, 상기 반도체 영역의 좌우 양단에 배치되는 소스 및 드레인 영역 및 상기 반도체 영역의 상부 및 하부에 배치되는 제1 전극 및 제2 전극을 포함하는 단위 소자를 적어도 2 이상 구비하는 집합체를 제공하는 단계; (b) 상기 단위 소자에 빛을 입사시켜 상기 반도체 영역에서 전자 및 홀의 쌍을 생성시키는 단계를 포함하되,상기 적어도 2 이상의 단위 소자는 바로 이웃한 단위 소자와 상기 제1 전극 또는 상기 제2 전극을 공유하도록 배열되어 집합체를 형성하는 반도체 장치의 구동 방법
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제24 항에 있어서,(c) 상기 단위 소자의 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극이 각각 전압을 인가하여 상기 반도체 영역의 상부 및 하부에 전계를 형성하는 단계를 더 포함하는 반도체 장치의 구동 방법
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제25 항에 있어서,상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에 의해 인가되는 전압의 크기를 조절하여, 상기 반도체 영역에서 발생한 전자 또는 홀의 이동을 조절하는 단계를 더 포함하는 반도체 장치의 구동 방법
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