요약 | 핵산을 포함하는 탄소 나노 튜브를 포함하는 전계 전자 방출원 및 이의 제조 방법이 개시된다. 상기 방법은 간편하게 탄소 나노 튜브를 포함하는 전계 전자 방출원을 제조할 수 있는 방법이다. |
---|---|
Int. CL | B82Y 40/00 (2011.01) B82B 1/00 (2006.01) B82B 3/00 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020090005568 (2009.01.22) |
출원인 | 삼성전자주식회사, 고려대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1533048-0000 (2015.06.25) |
공개번호/일자 | 10-2010-0086284 (2010.07.30) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20150701) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2013.12.26) |
심사청구항수 | 18 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 삼성전자주식회사 | 대한민국 | 경기도 수원시 영통구 |
2 | 고려대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성북구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 손윤철 | 대한민국 | 경기도 화성 |
2 | 김용철 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 |
3 | 허정나 | 대한민국 | 경기도 용인시 기흥구 |
4 | 주병권 | 대한민국 | 서울특별시 종로구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 리앤목특허법인 | 대한민국 | 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 삼성전자주식회사 | 경기도 수원시 영통구 | |
2 | 고려대학교 산학협력단 | 서울특별시 성북구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2009.01.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0043698-03 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2009.06.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2009-5111177-32 |
3 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2010.08.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2010-5149278-93 |
4 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2012.06.21 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5132663-40 |
5 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 [Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination) |
2013.12.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-1192146-24 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.02.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5018243-16 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.04.22 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5049934-62 |
8 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2014.09.05 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
9 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2014.10.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-2014-0078413-33 |
10 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2014.12.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0861797-98 |
11 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2015.02.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2015-0164730-23 |
12 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2015-0164729-87 |
13 | 등록결정서 Decision to grant |
2015.03.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2015-0207522-22 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.10.10 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5210941-09 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 기판 상에 형성된 탄소 나노 튜브를 포함하는 박막층을 포함하며, 상기 박막층이 핵산을 포함하는 전계 전자 방출원으로서,상기 탄소 나노 튜브 박막층과 기판 사이의 계면에 존재하는 탄소 나노 튜브에만 핵산이 피복되는 전계 전자 방출원 |
2 |
2 삭제 |
3 |
3 제 1 항에 있어서, 상기 핵산이 핵산 및 탄소 나노 튜브 사이의 π-π 스태킹에 의하여 탄소 나노 튜브 표면에 피복되는 전계 전자 방출원 |
4 |
4 제 1 항에 있어서, 상기 기판이 전도성 투명 기판인 전계 전자 방출원 |
5 |
5 제 1 항에 있어서, 상기 기판은 인듐 틴 옥사이드 (indium tin oxide: ITO), 알루미늄 도핑된 산화 아연(aluminium doped zinc oxide), 아연 도핑된 산화 인듐(zinc doped indium oxide) 및 갈륨 인듐 옥사이드 (gallium indium oxide)로 이루어진 군으로 부터 선택되는 전극인 전계 전자 방출원 |
6 |
6 제 1 항에 있어서, 상기 핵산은 DNA, RNA, 또는 PNA (pentose nucleic acid)인 전계 전자 방출원 |
7 |
7 제 1 항에 있어서, 상기 핵산은 단일가닥 또는 이중가닥 핵산인 전계 전자 방출원 |
8 |
8 삭제 |
9 |
9 제 1 항 및 제 3 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 따른 전계 전자 방출원을 포함하는 전계 전자 방출 소자 |
10 |
10 기판 상에 탄소 나노 튜브 수분산액을 코팅하는 단계; 및 상기 코팅된 탄소 나노 튜브 수분산액을 건조시키는 단계;를 포함하며, 상기 탄소 나노 튜브 수분산액이 탄소 나노 튜브 및 핵산을 포함하는 전계 전자 방출원 제조 방법으로서,상기 탄소 나노 튜브 수분산액은 용매에 핵산 및 탄소 나노 튜브를 첨가하는 단계; 및 상기 핵산 및 탄소 나노 튜브가 첨가된 용액을 초음파 처리하는 단계;를 포함하며,상기 탄소 나노 튜브 및 핵산은 1:1 내지 10:1의 중량비로 혼합되어 첨가되는 전계 전자 방출원 제조 방법 |
11 |
11 제 10 항에 있어서, 상기 탄소 나노 튜브 수분산액에서 분산된 탄소 나노 튜브의 일부가 핵산으로 피복된 전계 전자 방출원 제조 방법 |
12 |
12 제 10 항에 있어서, 상기 기판이 전도성 투명 기판인 전계 전자 방출원 제조 방법 |
13 |
13 제 10 항에 있어서, 상기 기판은 ITO, 알루미늄 도핑된 산화아연(aluminium doped zinc oxide), 아연 도핑된 산화 인듐(zinc doped indium oxide) 및 갈륨 인듐 옥사이드 (gallium indium oxide)로 이루어진 군으로 부터 선택되는 전계 전자 방출원 제조 방법 |
14 |
14 제 10 항에 있어서, 상기 핵산은 DNA, RNA, 또는 PNA인 전계 전자 방출원 제조 방법 |
15 |
15 제 10 항에 있어서, 상기 핵산은 단일가닥 또는 이중가닥 핵산인 전계 전자 방출원 제조 방법 |
16 |
16 삭제 |
17 |
17 삭제 |
18 |
18 제 10 항에 있어서, 상기 건조 단계 후에, 건조된 탄소 나노 튜브 코팅층을 활성화하는 단계를 더 포함하는 전계 전자 방출원 제조 방법 |
19 |
19 제 18 항에 있어서, 상기 활성화 단계가 에칭 공정에 의하여 상기 탄소 나노 튜브와 기판 사이의 접착부의 핵산만 남기고 접착부 이외의 탄소 나노 튜브를 코팅하는 핵산은 제거하는 단계인 전계 전자 방출원 제조 방법 |
20 |
20 제 18 항에 있어서, 상기 활성화 단계가 테이핑 공정인 전계 전자 방출원 제조 방법 |
21 |
21 제 10 항에 있어서, 상기 탄소 나노 튜브 수분산액을 기판 상에 코팅하기 전에, 상기 탄소 나노 튜브 수분산액으로부터 핵산으로 피복된 탄소 나노 튜브만을 분리하는 단계를 추가로 포함하는 전계 전자 방출원 제조 방법 |
22 |
22 제 21 항에 있어서, 핵산으로 피복된 탄소 나노 튜브의 분리가 원심분리, 침전, 건조에 의하여 수행되는 전계 전자 방출원 제조 방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US08314539 | US | 미국 | FAMILY |
2 | US20100181894 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US2010181894 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
2 | US8314539 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
특허 등록번호 | 10-1533048-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20090122 출원 번호 : 1020090005568 공고 연월일 : 20150701 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20150327 청구범위의 항수 : 18 유별 : B82B 3/00 발명의 명칭 : 핵산으로 코팅된 탄소 나노 튜브를 포함하는 전계 전자 방출원 및 이의 제조 방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구... |
1 |
(권리자) 고려대학교 산학협력단 서울특별시 성북구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 747,000 원 | 2015년 06월 26일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 436,000 원 | 2018년 05월 17일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 436,000 원 | 2019년 05월 20일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 436,000 원 | 2020년 05월 18일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2009.01.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0043698-03 |
2 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2009.06.09 | 수리 (Accepted) | 4-1-2009-5111177-32 |
3 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2010.08.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2010-5149278-93 |
4 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2012.06.21 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5132663-40 |
5 | [심사청구]심사청구(우선심사신청)서 | 2013.12.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-1192146-24 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.02.11 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5018243-16 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.04.22 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5049934-62 |
8 | 선행기술조사의뢰서 | 2014.09.05 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
9 | 선행기술조사보고서 | 2014.10.14 | 수리 (Accepted) | 9-1-2014-0078413-33 |
10 | 의견제출통지서 | 2014.12.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0861797-98 |
11 | [명세서등 보정]보정서 | 2015.02.16 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2015-0164730-23 |
12 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 1-1-2015-0164729-87 |
13 | 등록결정서 | 2015.03.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2015-0207522-22 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.10.10 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5210941-09 |
기술정보가 없습니다 |
---|
과제고유번호 | 1345096808 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A1602 |
연구과제명 | BK21정보기술사업단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 고려대학교 |
성과제출연도 | 2009 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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