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박막 트랜지스터 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2015134950
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 주석(Sn)과, 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg) 및 타이타늄(Ti) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 산화물 박막을 이용한 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 박막 트랜지스터는 주석(Sn)과 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg) 및 타이타늄(Ti) 중 적어도 어느 하나를 포함하는 산화물로 형성된 활성층; 상기 활성층 상에 배치되는 게이트 절연막을 통하여 상기 활성층의 적어도 일부와 중첩되는 게이트 도전막; 및 상기 게이트 도전막에 의해 이격된 상기 활성층의 양 측부들에 각각 접속되는 소오스 및 드레인 전극들을 포함한다.
Int. CL G02F 1/136 (2006.01.01) H01L 29/786 (2006.01.01)
CPC H01L 29/7869(2013.01) H01L 29/7869(2013.01) H01L 29/7869(2013.01)
출원번호/일자 1020080109060 (2008.11.04)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1023338-0000 (2011.03.10)
공개번호/일자 10-2010-0049990 (2010.05.13) 문서열기
공고번호/일자 (20110318) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.11.04)
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김형준 대한민국 경기도 성남시 분당구
2 허명수 대한민국 경기도 수원시 영통구
3 양봉섭 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김권석 대한민국 서울특별시 서초구 논현로**, B동 *층(양재동, 삼호물산빌딩)(아이피맥스특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.11.04 수리 (Accepted) 1-1-2008-0765325-99
2 [전자문서첨부서류]전자문서첨부서류등 물건제출서
[Attachment to Electronic Document] Submission of Object such as Attachment to Electronic Document
2008.11.05 수리 (Accepted) 1-1-2008-5054921-42
3 보정요구서
Request for Amendment
2008.11.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2008-0125547-77
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2008.11.12 수리 (Accepted) 1-1-2008-0781569-97
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.02.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.03.19 수리 (Accepted) 9-1-2010-0018303-86
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.05.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0200351-20
8 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2010.06.24 수리 (Accepted) 1-1-2010-0405764-23
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.07.12 수리 (Accepted) 1-1-2010-0446492-15
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.08.11 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0517749-97
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.08.11 수리 (Accepted) 1-1-2010-0517748-41
12 등록결정서
Decision to grant
2010.12.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0599495-31
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2020-5265458-48
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번호 청구항
1 1
주된 매트릭스를 구성하는 원소인 주석(Sn)과, 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg) 및 타이타늄(Ti)으로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 조합인 첨가 원소를 포함하는 산화물로 형성된 활성층; 상기 활성층 상에 배치되는 게이트 절연막을 사이에 두고 상기 활성층의 일부 또는 전부와 중첩되는 게이트 도전막; 및 상기 게이트 도전막에 의해 이격된 상기 활성층의 양 측부들에 각각 접속되는 소오스 및 드레인 전극들을 포함하는 박막 트랜지스터
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 박막 트랜지스터는 상기 활성층 상에 순차대로 상기 게이트 절연막 및 게이트 도전막이 형성되는 상부 게이트 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 박막 트랜지스터는 상기 게이트 도전막 상에 순차대로 상기 게이트 절연막 및 상기 활성층이 형성되는 하부 게이트 구조를 갖는 것을 특징으로 박막 트랜지스터
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 소오스 및 드레인 전극들 중 어느 하나 또는 이들 모두는 투명 도전성 산화물 박막을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 투명 도전성 산화물 박막은, 인듐-주석-산화물(Indium-Tin-Oxide; ITO), 불화 주석 산화물(Fluorinated tin Oxide; FTO), 인듐 산화물(indium oxide; IO) 및 주석 산화물(tin oxide; SnO2) 중 어느 하나 또는 이들의 조합을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 활성층 내의 상기 주석(Sn) : 상기 첨가 원소의 몰비는 1 : 0
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 활성층은 비정질 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 활성층의 일부 또는 전부는 상기 비정질 구조 내에 SnO 마이크로 결정 조직을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 게이트 절연막은 실리콘 산화물, 또는 Hf, Y, Al, Ta, Sn으로 이루어진 군으로부터 선택된 어느 하나 이상의 산화물 또는 질화물을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 게이트 절연막은 알루미늄 산화막을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
11 11
제 1 항에 있어서, 상기 활성층은 상기 주석과 알루미늄의 산화물로 형성되고, N 형 증가형으로 동작하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터
12 12
활성층 상에 배치되는 게이트 절연막을 사이에 두고 상기 활성층의 일부 또는 전부와 중첩되는 게이트 도전막; 및 상기 게이트 도전막에 의해 이격된 상기 활성층의 양 측부들에 각각 접속되는 소오스 및 드레인 전극들을 포함하는 박막 트랜지스터의 제조 방법으로서, 상기 박막 트랜지스터가 형성될 기판을 제공하는 단계; 및 상기 기판 상에 주된 매트릭스를 구성하는 원소인 주석(Sn)과, 알루미늄(Al), 마그네슘(Mg) 및 타이타늄(Ti)으로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 조합인 첨가 원소를 포함하는 산화물로 형성된 활성층을 형성하는 단계를 포함하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
13 13
제 12 항에 있어서, 상기 활성층을 형성하는 단계 이후에, 상기 활성층 상에 상기 게이트 절연막을 형성하는 단계; 및 상기 게이트 절연막 상에 상기 게이트 도전막을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
14 14
제 12 항에 있어서, 상기 활성층을 형성하는 단계 이전에, 상기 기판 상에 상기 게이트 도전막을 형성하는 단계; 및 상기 게이트 도전막 상에 상기 게이트 절연막을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
15 15
제 12 항에 있어서, 상기 활성층을 형성하는 단계는 솔겔법, 전자빔 증착법, 레이저 융착법 또는 스퍼터링법에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
16 16
제 12 항에 있어서, 상기 활성층을 형성하는 단계 이후에, 상기 활성층을 열처리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
17 17
제 16 항에 있어서, 상기 열처리하는 단계는 산화성 분위기에서 수행되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
18 18
제 12 항에 있어서, 상기 열처리하는 단계는 상기 활성층을 형성하는 단계의 상기 기판 온도 내지 400 ℃ 범위 내의 온도에서 수행되는 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
19 19
제 12 항에 있어서, 상기 활성층을 형성하는 단계 동안, 상기 기판 온도는 상온 내지 200 ℃의 범위 내인 것을 특징으로 하는 박막 트랜지스터의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.