요약 | 본 발명은 접착제를 범프가 형성된 웨이퍼상에 도포하는 단계; 및 접착제층에 레이저를 조사하여 개별칩단위로 분리하는 단계를 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법을 제공한다. 본 발명에 의하면 웨이퍼 레벨 패키지 제조 과정에서 다이싱 도중에 발생하는 접착제의 흡습을 효과적으로 방지할 수 있다. |
---|---|
Int. CL | H01L 21/82 (2006.01) H01L 23/12 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020060040470 (2006.05.04) |
출원인 | 한국과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-0785493-0000 (2007.12.06) |
공개번호/일자 | 10-2007-0107910 (2007.11.08) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20071213) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2006.05.04) |
심사청구항수 | 7 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 백경욱 | 대한민국 | 대전시 유성구 |
2 | 손호영 | 대한민국 | 대전시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 황이남 | 대한민국 | 서울시 송파구 법원로 ***, ****호 (문정동, 대명벨리온지식산업센터)(아시아나국제특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국과학기술원 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | 특허출원서 Patent Application |
2006.05.04 | 수리 (Accepted) | 1-1-2006-0317340-64 |
2 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2007.05.23 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2007-0280235-03 |
3 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2007.07.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0533870-96 |
4 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2007.07.23 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2007-0533868-04 |
5 | 등록결정서 Decision to grant |
2007.11.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2007-0643860-88 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 접착제를 범프가 형성된 웨이퍼상에 도포하는 단계; 및접착제층이 도포되고 범프가 형성된 웨이퍼상에 레이저를 조사하는 레이저 다이싱 기술을 이용하여 접착제층이 도포되고 범프가 형성된 웨이퍼상을 개별칩 단위로 분리하는 단계를 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법 |
2 |
2 제 1항에 있어서, 접착제를 도포하기 이전의 단계에서 범프가 형성된 웨이퍼를 개별칩으로 다이싱하는 단계를 더 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법 |
3 |
3 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 개별칩단위로 분리시킨 후 건조시켜 접착제내 함유된 수분을 제거하는 단계를 더 포함하는 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법 |
4 |
4 제 3항에 있어서, 건조과정은 접착제의 경화가 30% 진행된 경우 더 이상 수행하지 않는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법 |
5 |
5 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 접착제는 이방성 전도성 접착제 또는 비전도성 접착제인 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법 |
6 |
6 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 레이저 소스는 YAG 레이저, 엑시머 레이저, 자외선 레이저, 또는 CO2 레이저에서 선택되어지는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법 |
7 |
7 제 1항에 있어서, 웨이퍼는 두께 200㎛ 이하의 박형 웨이퍼인 것을 특징으로 하는 웨이퍼 레벨 패키지 제조방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | JP19300101 | JP | 일본 | FAMILY |
2 | US20070259515 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | JP2007300101 | JP | 일본 | DOCDBFAMILY |
2 | US2007259515 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
특허 등록번호 | 10-0785493-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20060504 출원 번호 : 1020060040470 공고 연월일 : 20071213 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20071129 청구범위의 항수 : 7 유별 : H01L 23/12 발명의 명칭 : 접착제의 수분흡습을 방지하는 플립칩용 웨이퍼 레벨패키지 제조방법 존속기간(예정)만료일 : 20131207 |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국과학기술원 대전 유성구... |
2 |
(의무자) 한국과학기술원 대전 유성구... |
2 |
(권리자) (재)연구개발특구진흥재단 대전광역시 유성구... |
3 |
(의무자) (재)연구개발특구진흥재단 대전광역시 유성구... |
3 |
(권리자) 한국과학기술원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 229,500 원 | 2007년 12월 07일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 194,000 원 | 2010년 12월 01일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 194,000 원 | 2011년 11월 29일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 194,000 원 | 2012년 01월 11일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | 특허출원서 | 2006.05.04 | 수리 (Accepted) | 1-1-2006-0317340-64 |
2 | 의견제출통지서 | 2007.05.23 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2007-0280235-03 |
3 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2007.07.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0533870-96 |
4 | [명세서등 보정]보정서 | 2007.07.23 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2007-0533868-04 |
5 | 등록결정서 | 2007.11.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2007-0643860-88 |
6 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.02.01 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5019983-17 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5158129-58 |
8 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157993-01 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5157968-69 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.04.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5081392-49 |
11 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.05.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5108396-12 |
12 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2020.06.12 | 수리 (Accepted) | 4-1-2020-5131486-63 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1350013457 |
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세부과제번호 | R11-2000-085-08005-0 |
연구과제명 | 3-DstackSIP용decoupling/bypass용내장형커패시터재료및공정기술개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국과학재단 |
연구주관기관명 | 한국과학기술원 |
성과제출연도 | 2006 |
연구기간 | 200603~200902 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1440002000 |
---|---|
세부과제번호 | 2006-S-056-01 |
연구과제명 | IT부품용이방성도전접속제(ACF) |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 정보통신연구진흥원 |
연구주관기관명 | 엘지전자 |
성과제출연도 | 2006 |
연구기간 | 200603~200702 |
기여율 | 0.5 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1350013457 |
---|---|
세부과제번호 | R11-2000-085-08005-0 |
연구과제명 | 3-DstackSIP용decoupling/bypass용내장형커패시터재료및공정기술개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국과학재단 |
연구주관기관명 | 한국과학기술원 |
성과제출연도 | 2006 |
연구기간 | 200603~200902 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
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