요약 | 일 실시 예에 따르는 전기소자의 채널층 형성 방법이 개시된다. 먼저, 절연층을 상부에 구비하는 전도성 기판을 제공한다. 상기 전도성 기판과 도금 대상인 금속을 전극으로 사용하여 전해질 용액 내에서 전기도금을 실시한다. 이때, 상기 전도성 기판으로부터 상기 절연층을 통과하는 터널링 전류가 제공하는 전자와 상기 전해질 용액 내의 상기 금속의 이온이 결합함으로써 상기 절연층 상에 금속 채널층이 형성된다. |
---|---|
Int. CL | H01L 29/78 (2006.01.01) H01L 21/336 (2006.01.01) |
CPC | H01L 29/78696(2013.01) H01L 29/78696(2013.01) H01L 29/78696(2013.01) H01L 29/78696(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020100030395 (2010.04.02) |
출원인 | 서울대학교산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-1186574-0000 (2012.09.21) |
공개번호/일자 | 10-2011-0111024 (2011.10.10) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20121008) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2010.04.02) |
심사청구항수 | 33 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 서울대학교산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 관악구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 박영준 | 대한민국 | 서울특별시 관악구 |
2 | 이석하 | 대한민국 | 충청남도 아산시 문화로번길 |
3 | 천준호 | 대한민국 | 서울특별시 관악구 |
4 | 최연규 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 남정길 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 인화빌딩 *층 (삼성동)(특허법인(유한)아이시스) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 서울대학교산학협력단 | 서울특별시 관악구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2010.04.02 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0212249-50 |
2 | 보정요구서 Request for Amendment |
2010.04.14 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2010-0033384-00 |
3 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2010.05.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0307912-18 |
4 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2010.05.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0307877-18 |
5 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2011.01.17 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
6 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2011.02.21 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0016608-94 |
7 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.06.21 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0337975-13 |
8 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2011.08.08 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0609345-70 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2011.08.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0609327-58 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2011.09.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5195109-43 |
11 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2012.01.09 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0013840-83 |
12 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2012.03.06 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0180912-08 |
13 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2012.03.06 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0180916-80 |
14 | 등록결정서 Decision to grant |
2012.08.01 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0450980-49 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 (a) 절연층을 상부에 구비하는 전도성 기판을 제공하는 단계;(b) 상기 절연층을 포함하는 상기 전도성 기판과 도금 대상인 금속을 전해질 용액에 담그는 단계; 및(c) 상기 전도성 기판과 상기 금속을 각각 전극으로 사용하여 상기 전도성 기판으로부터 전자가 상기 절연층을 통과하는 터널링 전류가 발생되도록 전압을 인가하여 상기 절연층을 통과한 전자와 상기 전해질 용액 내의 상기 금속의 이온을 결합시킴으로써 상기 절연층 상에 금속 채널층을 형성하는 단계를 포함하는전기소자의 채널층 형성 방법 |
2 |
2 제1 항에 있어서, 상기 전도성 기판은 n형 또는 p형으로 도핑된 반도체 기판인전기소자의 채널층 형성 방법 |
3 |
3 제1 항에 있어서,상기 전도성 기판은 반도체 기판 또는 절연 기판 내에 전도성 패턴을 형성함으로써 이루어지는 전기소자의 채널층 형성 방법 |
4 |
4 제1 항에 있어서,상기 전해질 용액은 도금 대상인 상기 금속의 이온을 포함하는 전기소자의 채널층 형성 방법 |
5 |
5 제1 항에 있어서,상기 금속은 금, 은, 백금, 알루미늄, 납, 하프늄, 탄탈륨, 타이타늄, 구리, 주석 및 팔라듐으로 구성되는 그룹에서 선택되는 어느 하나인 전기소자의 채널층 형성 방법 |
6 |
6 제1 항에 있어서,(b) 단계는 상기 전해질 용액 내에서 상기 금속이 양의 극성을 가지고, 상기 전도성 기판이 음의 극성을 가지도록 전압을 인가하는 전기소자의 채널층 형성 방법 |
7 |
7 제1 항에 있어서,(b) 단계 이전에, 상기 절연층 상에 티올 처리를 실시하는 단계를 추가적으로 포함하여, (b) 단계에서 생성되는 상기 금속과 상기 절연층의 접합력을 증가시키는 전기소자의 채널층 형성 방법 |
8 |
8 (a) 전도성 기판 상에 절연층을 형성하는 단계;(b) 상기 절연층 상에 소스 전극층 및 드레인 전극층을 서로 이격하도록 형성하는 단계;(c) 상기 절연층, 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층을 포함하는 상기 전도성 기판을 전해질 용액에 담그는 단계; 및(d) 상기 전도성 기판과 도금 대상인 금속을 각각 전극으로 사용하여 전기도금을 실시하는 단계를 포함하되,상기 전도성 기판으로부터 상기 절연층을 통과하는 터널링 전류의 전자와 상기 전해질 용액 내의 상기 금속의 이온을 결합시킴으로써 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층 사이에 금속 채널층을 형성하는 전기소자의 제조 방법 |
9 |
9 제8 항에 있어서,상기 전도성 기판은 n형 또는 p형으로 도핑된 반도체 기판인 전기소자의 제조 방법 |
10 |
10 제8 항에 있어서,상기 전도성 기판은 반도체 기판 또는 절연 기판 내에 전도성 패턴을 형성함으로써 이루어지는 전기소자의 제조 방법 |
11 |
11 제10 항에 있어서,상기 전도성 패턴은 하부 게이트 전극층이며, 상기 절연층은 하부 게이트 유전막인 전기소자의 제조 방법 |
12 |
12 제8 항에 있어서,상기 전해질 용액은 도금 대상인 상기 금속의 이온을 포함하는 전기소자의 제조 방법 |
13 |
13 제8 항에 있어서,(d) 단계는 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층 사이에 전압을 인가하고, 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층 사이에 흐르는 전류를 측정하여 상기 금속 채널층을 형성하는 상기 전기도금 공정의 완료 여부를 결정하는 전기소자의 제조 방법 |
14 |
14 제8 항에 있어서,상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층은 금속 박막을 상기 절연층 상에 증착하고 이를 패터닝하여 형성하는 전기소자의 제조 방법 |
15 |
15 제8 항에 있어서,(e) 상기 금속 채널층 상에 상부 게이트 유전막을 형성하는 단계; 및(f) 상기 상부 게이트 유전막 상에 상부 게이트 전극층을 형성하는 단계를 추가적으로 포함하는 전기소자의 제조 방법 |
16 |
16 제8 항에 있어서,(d) 단계에서, 상기 전해질 용액은 표면활성제를 포함하고, 상기 표면활성제는 상기 절연층 상에 원자층 단위의 상기 금속 채널층이 형성되도록 하는 전기소자의 제조 방법 |
17 |
17 제8 항에 있어서,(d) 단계 이전에, 상기 절연층 상에 티올 처리를 실시하는 단계를 추가적으로 포함하여, (d) 단계에서 생성되는 상기 금속과 상기 절연층의 접합력을 증가시키는 전기소자의 채널층 형성 방법 |
18 |
18 제8 항에 있어서,(d) 단계 이전에, 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층 상에 티올 처리를 실시하는 단계를 추가적으로 포함하여, (d) 단계에서 생성되는 상기 금속이 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층에 부착하는 것을 억제하는 전기소자의 채널층 형성 방법 |
19 |
19 (a) 전도성 기판 상에 절연층을 형성하는 단계;(b) 상기 절연층 상에 소스 전극층 및 드레인 전극층을 서로 이격하도록 형성하는 단계;(c) 상기 절연층, 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층을 포함하는 상기 전도성 기판 상에 베이스 금속층을 형성하는 단계;(d) 상기 전도성 기판 상에 포토레지스트를 도포하고, 리소그래피 공정을 통하여 상기 베이스 금속층의 일부분을 노출시키는 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계;(e) 상기 노출된 베이스 금속층의 상기 일부분을 제거하여 상기 절연층의 일부분을 노출시키는 단계; 및(f) 전해질 용액 내에서 상기 전도성 기판과 도금 대상인 금속을 각각 전극으로 사용하여 전기도금을 실시하는 단계를 포함하되,상기 전도성 기판으로부터 상기 절연층을 통과하는 터널링 전류의 전자와 상기 전해질 용액 내의 상기 금속의 이온을 결합시킴으로써 상기 절연층의 상기 일부분 상에 금속 채널층을 형성하는 전기소자의 제조 방법 |
20 |
20 제19 항에 있어서,(d) 단계의 상기 포토레지스트 패턴은 상기 전기도금에 의해 형성되는 상기 금속 채널층의 길이 또는 폭을 결정하는 전기소자의 제조 방법 |
21 |
21 제19 항에 있어서,(e) 단계는(e1) 상기 포토레지스트 패턴이 형성된 상기 전도성 기판에 전기 분해용 전해질 용액을 제공하는 단계; 및(e2) 상기 전해질 용액과 상기 전도성 기판에 전압을 인가하여 상기 전기 분해용 전해질 용액을 전기 분해하는 단계를 포함하되,상기 노출된 베이스 금속층의 금속이 상기 전기 분해의 산화 반응에 의해 상기 전기분해용 전해질 용액 내로 이온화됨으로써 상기 노출된 베이스 금속층의 상기 일부분이 식각되는 전기소자의 제조 방법 |
22 |
22 제19 항에 있어서,상기 전도성 기판은 n형 또는 p형으로 도핑된 반도체 기판인 전기소자의 제조 방법 |
23 |
23 제19 항에 있어서,상기 전도성 기판은 반도체 기판 또는 절연 기판 내에 전도성 패턴을 형성함으로써 이루어지는 전기소자의 제조 방법 |
24 |
24 제19 항에 있어서,상기 전도성 패턴은 하부 게이트 전극층이며, 상기 절연층은 하부 게이트 유전막인 전기소자의 제조 방법 |
25 |
25 제19 항에 있어서,상기 전해질 용액은 도금 대상인 상기 금속의 이온을 포함하는 전기소자의 제조 방법 |
26 |
26 제19 항에 있어서,(f) 단계는 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층 사이에 전압을 인가하고, 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층 사이에 흐르는 전류를 측정하여 상기 금속 채널층을 형성하는 상기 전기도금 공정의 완료 여부를 결정하는 전기소자의 제조 방법 |
27 |
27 제19 항에 있어서,(g) 상기 금속 채널층 상에 상부 게이트 유전막을 형성하는 단계; 및(h) 상기 상부 게이트 유전막 상에 상부 게이트 전극층을 형성하는 단계를 추가적으로 포함하는 전기소자의 제조 방법 |
28 |
28 제19 항에 있어서,(f) 단계에서, 상기 전해질 용액은 표면활성제를 포함하고, 상기 표면활성제는 상기 절연층 상에 원자층 단위의 상기 금속 채널층이 형성되도록 하는 전기소자의 제조 방법 |
29 |
29 제19 항에 있어서,(f) 단계 이전에, 상기 절연층의 상기 일부분 상에 티올 처리를 실시하는 단계를 추가적으로 포함하여, (f) 단계에서 생성되는 상기 금속과 상기 절연층의 상기 일부분과의 접합력을 증가시키는 전기소자의 채널층 형성 방법 |
30 |
30 게이트 전극층을 내부에 포함하는 기판;상기 기판 상에 위치하는 게이트 절연층;상기 게이트 절연층 상에서 서로 이격하여 배치되는 소스 전극층 및 드레인 전극층;상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층으로부터 각각 확장되어 서로 마주보도록 배치되는 소스 확장층 및 드레인 확장층; 및상기 소스 확장층 및 드레인 확장층 사이에 배치되는 전기도금된 금속 채널층을 포함하는 전기소자 |
31 |
31 제30 항에 있어서,상기 소스 확장층, 상기 드레인 확장층 및 상기 금속 채널층은 동일한 금속으로 이루어지는 전기소자 |
32 |
32 제30 항에 있어서,상기 소스 확장층 및 상기 드레인 확장층 사이의 거리는 상기 소스 전극층 및 상기 드레인 전극층 사이의 거리보다 짧은 전기소자 |
33 |
33 제30 항에 있어서,상기 금속 채널층 상에 배치되는 상부 게이트 절연층 및 상부 게이트 전극층을 추가적으로 포함하는 전기소자 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 교육과학기술부 | 나노응용시스템연구센터 | 국가핵심연구센터 | - |
특허 등록번호 | 10-1186574-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20100402 출원 번호 : 1020100030395 공고 연월일 : 20121008 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20120801 청구범위의 항수 : 33 유별 : H01L 29/78 발명의 명칭 : 전기소자의 채널층 형성 방법 및 이를 이용하는 전기소자의 제조 방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 666,000 원 | 2012년 09월 21일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 536,200 원 | 2015년 08월 31일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 536,200 원 | 2016년 02월 15일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 536,200 원 | 2017년 08월 24일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 677,000 원 | 2018년 08월 20일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 677,000 원 | 2019년 09월 17일 | 납입 |
제 9 년분 | 금 액 | 677,000 원 | 2020년 09월 18일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2010.04.02 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0212249-50 |
2 | 보정요구서 | 2010.04.14 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 1-5-2010-0033384-00 |
3 | [출원서등 보정]보정서 | 2010.05.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0307912-18 |
4 | [출원서등 보정]보정서 | 2010.05.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0307877-18 |
5 | 선행기술조사의뢰서 | 2011.01.17 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
6 | 선행기술조사보고서 | 2011.02.21 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0016608-94 |
7 | 의견제출통지서 | 2011.06.21 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0337975-13 |
8 | [명세서등 보정]보정서 | 2011.08.08 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0609345-70 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2011.08.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0609327-58 |
10 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2011.09.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5195109-43 |
11 | 의견제출통지서 | 2012.01.09 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0013840-83 |
12 | [명세서등 보정]보정서 | 2012.03.06 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2012-0180912-08 |
13 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2012.03.06 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0180916-80 |
14 | 등록결정서 | 2012.08.01 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0450980-49 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2013.01.14 | 수리 (Accepted) | 4-1-2013-5007213-54 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.03.17 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5033829-92 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5062924-01 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.13 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5093546-10 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.05.23 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5101798-31 |
20 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5154561-59 |
기술번호 | KST2014036990 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 서울대학교 |
기술명 | 전기소자의 채널층 형성 방법 및 이를 이용하는 전기소자의 제조 방법 |
기술개요 |
일 실시 예에 따르는 전기소자의 채널층 형성 방법이 개시된다. 먼저, 절연층을 상부에 구비하는 전도성 기판을 제공한다. 상기 전도성 기판과 도금 대상인 금속을 전극으로 사용하여 전해질 용액 내에서 전기도금을 실시한다. 이때, 상기 전도성 기판으로부터 상기 절연층을 통과하는 터널링 전류가 제공하는 전자와 상기 전해질 용액 내의 상기 금속의 이온이 결합함으로써 상기 절연층 상에 금속 채널층이 형성된다. |
개발상태 | 기술개발진행중 |
기술의 우수성 | |
응용분야 | |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 라이센스 |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1545001581 |
---|---|
세부과제번호 | IPET308010-5 |
연구과제명 | 당화가 용이한 형질전환 바이오에너지 작물 및 재조합 셀룰라제 저가생산기술 개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 농림수산식품부 |
연구관리전문기관명 | 농림수산식품기술기획평가원 |
연구주관기관명 | (주)젠닥스 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200806~201306 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | BT(생명공학기술) |
과제고유번호 | 1345102053 |
---|---|
세부과제번호 | 2007-0056573 |
연구과제명 | C로봇의기술개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 서울대학교 |
성과제출연도 | 2009 |
연구기간 | 200312~201008 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
[1020100030395] | 전기소자의 채널층 형성 방법 및 이를 이용하는 전기소자의 제조 방법 | 새창보기 |
---|---|---|
[1020090098216] | 무전해 금도금 방법 및 이에 의해 제조된 센서 | 새창보기 |
[1020090016688] | 델타 시그마 아날로그 디지털 컨버터 | 새창보기 |
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