요약 | 본 발명은 터미네이션 저항 회로, 온 다이 터미네이션 장치 및 반도체 메모리 장치에 관한 것으로서, 캘리브래이션 노드에 접속되며 캘리브래이션 제어전압에 응답하여 저항값을 점진적으로 조절하는 캘리브래이션 저항수단; 및 기준전압과 상기 캘리브래이션 노드 전압의 레벨차가 반영된 상기 캘리브래이션 제어전압을 생성하는 비교수단을 포함함. 본 발명에 따르면, 양자화 에러를 제거함으로써 보다 정확하게 임피던스 부정합을 제거함. 캘리브래이션, 양자화 에러, 샘플앤홀드 |
---|---|
Int. CL | G11C 7/10 (2015.01.01) G11C 7/22 (2015.01.01) G11C 5/14 (2006.01.01) H03K 19/00 (2006.01.01) |
CPC | G11C 7/1048(2013.01) G11C 7/1048(2013.01) G11C 7/1048(2013.01) G11C 7/1048(2013.01) G11C 7/1048(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020080067200 (2008.07.10) |
출원인 | 에스케이하이닉스 주식회사, 한양대학교 산학협력단 |
등록번호/일자 | 10-0976414-0000 (2010.08.11) |
공개번호/일자 | 10-2010-0006887 (2010.01.22) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20100817) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2008.07.10) |
심사청구항수 | 24 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 대한민국 | 경기도 이천시 |
2 | 한양대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 정종호 | 대한민국 | 서울특별시 송파구 |
2 | 이재진 | 대한민국 | 경기도 이천시 |
3 | 곽계달 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
4 | 박경수 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
5 | 최재웅 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
6 | 채명준 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 신성특허법인(유한) | 대한민국 | 서울특별시 송파구 중대로 ***, ID타워 ***호 (가락동) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 대한민국 | 경기도 이천시 |
2 | 한양대학교 산학협력단 | 대한민국 | 서울특별시 성동구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2008.07.10 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0498497-36 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2009.01.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0042477-41 |
3 | [출원인변경]권리관계변경신고서 [Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status |
2009.02.09 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0077581-01 |
4 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2009.03.06 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
5 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2009.04.16 | 수리 (Accepted) | 9-1-2009-0025215-17 |
6 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2009.07.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0314361-58 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2009.08.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0501402-27 |
8 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2009.08.17 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2009-0501400-36 |
9 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2010.01.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0030459-64 |
10 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2010.03.25 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0189778-50 |
11 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2010.03.25 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2010-0189776-69 |
12 | 등록결정서 Decision to grant |
2010.07.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0313599-52 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2012.04.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5073964-60 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2012.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5270171-92 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.04.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5055330-26 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 캘리브래이션 노드에 접속되며 캘리브래이션 제어전압에 응답하여 저항값을 점진적으로 조절하는 캘리브래이션 저항수단; 및 기준전압과 상기 캘리브래이션 노드 전압의 레벨차가 반영된 상기 캘리브래이션 제어전압을 생성하는 비교수단 을 포함하는 캘리브래이션 회로 |
2 |
2 제1항에 있어서, 캘리브래이션 과정중에 토글하는 샘플링 신호에 응답하여 상기 캘리브래이션 제어전압을 샘플앤홀드하는 샘플앤홀드수단 을 더 포함하는 캘리브래이션 회로 |
3 |
3 제2항에 있어서, 상기 샘플앤홀드수단은 상기 샘플링 신호에 응답하여 상기 캘리브래이션 제어전압의 전달을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어에 의해 상기 캘리브래이션 전압이 입력되는 동안에는 상기 캘리브래이션 제어전압을 저장하며, 상기 제어부의 제어에 의해 상기 캘리브래이션 전압이 입력되지 않는 동안에는 저장된 상기 캘리브래이션 제어전압을 유지하는 전압유지부 를 포함하는 캘리브래이션 회로 |
4 |
4 제3항에 있어서, 상기 샘플앤홀드수단은 상기 비교수단에 의해 생성된 상기 캘리브래이션 제어전압을 상기 제어부로 전달하는 제1전압전달부; 및 상기 전압유지부에 의해 유지되는 상기 캘리브래이션 제어전압을 터미네이션 저항수단으로 전달하는 제2전압전달부 를 더 포함하는 캘리브래이션 회로 |
5 |
5 제2항에 있어서, 상기 샘플링 신호를 생성하는 샘플링 신호 생성수단 을 더 포함하는 캘리브래이션 회로 |
6 |
6 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로는 풀업 캘리브래이션 회로이며, 상기 캘리브래이션 노드는 외부 저항에 접속되는 캘리브래이션 회로 |
7 |
7 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로는 풀다운 캘리브래이션 회로이며, 상기 캘리브래이션 노드는 더미 캘리브래이션 저항 회로에 접속되는 캘리브래이션 회로 |
8 |
8 제1항에 있어서, 상기 캘리브래이션 저항수단은 상기 캘리브래이션 제어전압에 응답하여 점진적으로 턴온 또는 턴오프되는 트랜지스터를 포함하는 캘리브래이션 회로 |
9 |
9 터미네이션 저항값을 결정하기 위해, 기준전압과 캘리브래이션 노드 전압의 레벨차가 반영된 캘리브래이션 제어전압을 생성하는 캘리브래이션 회로수단; 캘리브래이션 과정중에 토글하는 샘플링 신호에 응답하여 상기 생성된 캘리브래이션 제어전압을 샘플앤홀드하는 샘플앤홀드수단; 및 상기 샘플앤홀드수단으로부터 출력되는 전압에 응답하여 상기 터미네이션 저항값을 조절하는 터미네이션 저항수단 을 포함하는 온 다이 터미네이션 장치 |
10 |
10 제9항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로수단은 캘리브래이션 노드에 접속되며 상기 캘리브래이션 제어전압에 응답하여 저항값을 점진적으로 조절하는 캘리브래이션 저항부; 및 기준전압과 상기 캘리브래이션 노드 전압의 레벨차가 반영된 상기 캘리브래이션 제어전압을 생성하는 비교부 를 포함하는 온 다이 터미네이션 장치 |
11 |
11 제10항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로수단은 풀업 캘리브래이션 회로수단이며, 상기 캘리브래이션 노드는 외부 저항에 접속되는 온 다이 터미네이션 장치 |
12 |
12 제10항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로수단은 풀다운 캘리브래이션 회로수단이며, 상기 캘리브래이션 노드는 더미 캘리브래이션 저항수단에 접속되는 온 다이 터미네이션 장치 |
13 |
13 제10항에 있어서, 상기 캘리브래이션 저항부는 상기 캘리브래이션 제어전압에 응답하여 점진적으로 턴온 또는 턴오프되는 트랜지스터를 포함하는 온 다이 터미네이션 장치 |
14 |
14 제9항에 있어서, 상기 샘플앤홀드수단은 상기 샘플링 신호에 응답하여 상기 캘리브래이션 제어전압의 전달을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어에 의해 상기 캘리브래이션 전압이 입력되는 동안에는 상기 캘리브래이션 제어전압을 저장하며, 상기 제어부의 제어에 의해 상기 캘리브래이션 전압이 입력되지 않는 동안에는 저장된 상기 캘리브래이션 제어전압을 유지하는 전압유지부 를 포함하는 온 다이 터미네이션 장치 |
15 |
15 제14항에 있어서, 상기 샘플앤홀드수단은 상기 캘리브래이션 회로수단에 의해 생성된 상기 캘리브래이션 제어전압을 상기 제어부로 전달하는 제1전압전달부; 및 상기 전압유지부에 의해 유지되는 상기 캘리브래이션 제어전압을 상기 터미네이션 저항수단으로 전달하는 제2전압전달부 를 더 포함하는 온 다이 터미네이션 장치 |
16 |
16 제9항에 있어서, 상기 터미네이션 저항수단은 상기 샘플앤홀드수단으로부터 출력되는 전압에 응답하여 점진적으로 턴온 또는 턴오프되는 트랜지스터를 포함하는 온 다이 터미네이션 장치 |
17 |
17 터미네이션 저항값을 결정하기 위해, 기준전압과 캘리브래이션 노드 전압의 레벨차가 반영된 캘리브래이션 제어전압을 생성하는 캘리브래이션 회로수단; 캘리브래이션 과정중에 토글하는 샘플링 신호에 응답하여 상기 생성된 캘리브래이션 제어전압을 샘플앤홀드하는 샘플앤홀드수단; 및 상기 샘플앤홀드수단으로부터 출력되는 전압에 응답하여 상기 터미네이션 저항값을 조절하는 출력드라이버수단 을 포함하는 반도체 메모리 장치 |
18 |
18 제17항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로수단은 캘리브래이션 노드에 접속되며 상기 캘리브래이션 제어전압에 응답하여 저항값을 점진적으로 조절하는 캘리브래이션 저항부; 및 기준전압과 상기 캘리브래이션 노드 전압의 레벨차가 반영된 상기 캘리브래이션 제어전압을 생성하는 비교부 를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
19 |
19 제18항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로수단은 풀업 캘리브래이션 회로수단이며, 상기 캘리브래이션 노드는 외부 저항에 접속되는 반도체 메모리 장치 |
20 |
20 제18항에 있어서, 상기 캘리브래이션 회로수단은 풀다운 캘리브래이션 회로수단이며, 상기 캘리브래이션 노드는 더미 캘리브래이션 저항수단에 접속되는 반도체 메모리 장치 |
21 |
21 제18항에 있어서, 상기 캘리브래이션 저항부는 상기 캘리브래이션 제어전압에 응답하여 점진적으로 턴온 또는 턴오프되는 트랜지스터를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
22 |
22 제18항에 있어서, 상기 샘플앤홀드수단은 상기 샘플링 신호에 응답하여 상기 캘리브래이션 제어전압의 전달을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어에 의해 상기 캘리브래이션 전압이 입력되는 동안에는 상기 캘리브래이션 제어전압을 저장하며, 상기 제어부의 제어에 의해 상기 캘리브래이션 전압이 입력되지 않는 동안에는 저장된 상기 캘리브래이션 제어전압을 유지하는 전압유지부 를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
23 |
23 제22항에 있어서, 상기 샘플앤홀드수단은 상기 비교부에 의해 생성된 상기 캘리브래이션 제어전압을 상기 제어부로 전달하는 제1전압전달부; 및 상기 전압유지부에 의해 유지되는 상기 캘리브래이션 제어전압을 상기 출력드라이버수단으로 전달하는 제2전압전달부 를 더 포함하는 반도체 메모리 장치 |
24 |
24 제17항에 있어서, 상기 출력드라이버수단은 상기 샘플앤홀드수단으로부터 출력되는 전압에 응답하여 점진적으로 턴온 또는 턴오프되는 트랜지스터를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
패밀리정보가 없습니다 |
---|
국가 R&D 정보가 없습니다. |
---|
특허 등록번호 | 10-0976414-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20080710 출원 번호 : 1020080067200 공고 연월일 : 20100817 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20100722 청구범위의 항수 : 24 유별 : G11C 7/10 발명의 명칭 : 캘리브래이션 회로, 온 다이 터미네이션 장치 및 반도체 메모리 장치 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구... |
1 |
(권리자) 에스케이하이닉스 주식회사 경기도 이천시... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 981,000 원 | 2010년 08월 12일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 568,000 원 | 2013년 07월 23일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 568,000 원 | 2014년 07월 23일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 568,000 원 | 2015년 07월 21일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 1,012,000 원 | 2016년 07월 21일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 1,012,000 원 | 2017년 07월 24일 | 납입 |
제 9 년분 | 금 액 | 1,012,000 원 | 2018년 07월 25일 | 납입 |
제 10 년분 | 금 액 | 1,560,000 원 | 2019년 07월 24일 | 납입 |
제 11 년분 | 금 액 | 1,560,000 원 | 2020년 07월 28일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2008.07.10 | 수리 (Accepted) | 1-1-2008-0498497-36 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2009.01.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0042477-41 |
3 | [출원인변경]권리관계변경신고서 | 2009.02.09 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0077581-01 |
4 | 선행기술조사의뢰서 | 2009.03.06 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
5 | 선행기술조사보고서 | 2009.04.16 | 수리 (Accepted) | 9-1-2009-0025215-17 |
6 | 의견제출통지서 | 2009.07.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0314361-58 |
7 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2009.08.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0501402-27 |
8 | [명세서등 보정]보정서 | 2009.08.17 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2009-0501400-36 |
9 | 의견제출통지서 | 2010.01.25 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0030459-64 |
10 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2010.03.25 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0189778-50 |
11 | [명세서등 보정]보정서 | 2010.03.25 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2010-0189776-69 |
12 | 등록결정서 | 2010.07.22 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2010-0313599-52 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2012.04.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5073964-60 |
14 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2012.12.24 | 수리 (Accepted) | 4-1-2012-5270171-92 |
15 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2014.06.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2014-5068294-39 |
16 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.16 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5022074-70 |
17 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.04.27 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-5055330-26 |
18 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.05 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5155816-75 |
19 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2019.08.06 | 수리 (Accepted) | 4-1-2019-5156285-09 |
기술정보가 없습니다 |
---|
과제고유번호 | 1345071018 |
---|---|
세부과제번호 | 과C6A1612 |
연구과제명 | 수요지향적정보기술전문인력양성사업단 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국학술진흥재단 |
연구주관기관명 | 한양대학교 |
성과제출연도 | 2008 |
연구기간 | 200603~201302 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 응용연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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