요약 | 비휘발성 저항 변화 메모리 소자를 제공한다. 상기 소자는 제1 전극과 제2 전극을 구비한다. 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 산화물막이 위치한다. 상기 산화물막과 상기 제2 전극 사이에 반응성 금속막이 위치하되, 상기 반응성 금속막은 300K를 기준으로 산화물 형성 반응시 표준자유에너지 변화량이 -100 kJ 이하인 금속을 함유하며 2 내지 15㎚의 두께를 갖는다. |
---|---|
Int. CL | H01L 27/115 (2006.01) H01L 21/8247 (2006.01) |
CPC | H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01) H01L 45/04(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020100001681 (2010.01.08) |
출원인 | 광주과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-1136886-0000 (2012.04.09) |
공개번호/일자 | 10-2011-0081490 (2011.07.14) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20120420) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2010.01.08) |
심사청구항수 | 8 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
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1 | 광주과학기술원 | 대한민국 | 광주광역시 북구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 황현상 | 대한민국 | 광주광역시 북구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 특허법인이상 | 대한민국 | 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 광주과학기술원 | 광주광역시 북구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2010.01.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0012344-54 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2011.02.11 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2011.03.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0021725-45 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2011.03.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0169130-19 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2011.05.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0404499-95 |
6 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2011.05.30 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0404538-88 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2011.09.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5187089-85 |
8 | 최후의견제출통지서 Notification of reason for final refusal |
2011.10.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0621963-05 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2011.12.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-1022787-14 |
10 | 등록결정서 Decision to grant |
2012.03.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0180929-19 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 삭제 |
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11 하부 전극을 형성하는 단계;상기 하부 전극 상에 300K를 기준으로 산화물 형성 반응시 표준자유에너지 변화량이 -100 kJ 이하인 금속을 함유하는 반응성 금속막을 형성하는 단계;상기 반응성 금속막 상에 반응성 금속 산화물막을 형성하는 단계;상기 반응성 금속 산화물막 상에 산소 이온 전도성 산화물막을 형성하는 단계; 및상기 산소 이온 전도성 산화물막 상에 상부 전극을 형성하는 단계를 포함하는 비휘발성 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 |
12 |
12 제11항에 있어서,상기 산소 이온 전도성 산화물막은 상기 반응성 금속 산화물막에 접하는 면에 산소 결핍 영역을 포함하는 비휘발성 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 |
13 |
13 제11항에 있어서,상기 반응성 금속막은 300K를 기준으로 산화물 형성 반응시 표준자유에너지 변화량이 -100 kJ 내지 -1100 kJ 이상인 금속을 함유하는 비휘발성 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 |
14 |
14 제11항에 있어서, 상기 반응성 금속막은 Mo막, Ta막, Ti막 또는 Al막인 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 |
15 |
15 제11항에 있어서,상기 반응성 금속막은 3 내지 7㎚의 두께를 갖는 비휘발성 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 |
16 |
16 제11항에 있어서, 상기 산소 이온 전도성 산화물막은 페로브스카이트막인 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 |
17 |
17 제16항에 있어서, 상기 산소 이온 전도성 산화물막은 Pr3-YCaYMnO3-X(PCMO) 또는 La3-YCaYMnO3-X(LCMO)를 함유하는 층이며, 상기 X 및 Y는 각각 0≤X≤1 및 0 |
18 |
18 제16항에 있어서, 상기 산소 이온 전도성 산화물막은 SrTiO3-X, Nb가 도핑된 SrTiO3-X(Nb:STO), Cr이 도핑된 SrTiO3-X(Cr:STO), BaTiO3-X, LaMnO3-X, SrMnO3-X, PrTiO3-X, 또는 PbZrO3-X를 함유하는 층이며, 상기 X는 0≤X≤1인 비휘발성 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 |
지정국 정보가 없습니다 |
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패밀리정보가 없습니다 |
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순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 지식경제부 | 광주과학기술원 | 산업기술개발사업 | 고신뢰성 ReRAM 소자개발 |
특허 등록번호 | 10-1136886-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
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1 |
출원 연월일 : 20100108 출원 번호 : 1020100001681 공고 연월일 : 20120420 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20120327 청구범위의 항수 : 8 유별 : H01L 27/115 발명의 명칭 : 비휘발성 저항 변화 메모리 소자의 제조방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 광주과학기술원 광주광역시 북구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 178,500 원 | 2012년 04월 09일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 151,200 원 | 2015년 03월 30일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 151,200 원 | 2016년 04월 04일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 151,200 원 | 2017년 03월 31일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 202,000 원 | 2018년 04월 06일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 202,000 원 | 2019년 04월 01일 | 납입 |
제 9 년분 | 금 액 | 202,000 원 | 2020년 04월 02일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2010.01.08 | 수리 (Accepted) | 1-1-2010-0012344-54 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2011.02.11 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2011.03.15 | 수리 (Accepted) | 9-1-2011-0021725-45 |
4 | 의견제출통지서 | 2011.03.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0169130-19 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2011.05.30 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-0404499-95 |
6 | [명세서등 보정]보정서 | 2011.05.30 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2011-0404538-88 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2011.09.15 | 수리 (Accepted) | 4-1-2011-5187089-85 |
8 | 최후의견제출통지서 | 2011.10.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2011-0621963-05 |
9 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2011.12.22 | 수리 (Accepted) | 1-1-2011-1022787-14 |
10 | 등록결정서 | 2012.03.27 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2012-0180929-19 |
기술번호 | KST2014043378 |
---|---|
자료제공기관 | NTB |
기술공급기관 | 광주과학기술원 |
기술명 | 비휘발성 저항 변화 메모리 소자의 제조 방법 |
기술개요 |
비휘발성 저항 변화 메모리 소자를 제공한다. 상기 소자는 제1 전극과 제2 전극을 구비한다. 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이에 산화물막이 위치한다. 상기 산화물막과 상기 제2 전극 사이에 반응성 금속막이 위치하되, 상기 반응성 금속막은 300K를 기준으로 산화물 형성 반응시 표준자유에너지 변화량이 -100 kJ 이하인 금속을 함유하며 2 내지 15㎚의 두께를 갖는다. |
개발상태 | 특허만신청(등록) |
기술의 우수성 | |
응용분야 | 소재 |
시장규모 및 동향 | |
희망거래유형 | 기술매매, |
사업화적용실적 | |
도입시고려사항 |
과제고유번호 | 1345169233 |
---|---|
세부과제번호 | 2008-0060067 |
연구과제명 | 차세대 비휘발성 저항 변화 메모리 (ReRAM) 원천 기술 개발 |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 포항공과대학교 |
성과제출연도 | 2012 |
연구기간 | 200806~201305 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345114511 |
---|---|
세부과제번호 | 2008-0060067 |
연구과제명 | 차세대 비휘발성 저항 변화 메모리 (ReRAM) 원천 기술 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 한국연구재단 |
연구주관기관명 | 광주과학기술원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200806~201305 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1345136265 |
---|---|
세부과제번호 | gist-03-02 |
연구과제명 | 대규모 분산센서 네트워크 연구개발사업 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 교육과학기술부 |
연구관리전문기관명 | 교육과학기술부 |
연구주관기관명 | 광주과학기술원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200401~201212 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
과제고유번호 | 1415106941 |
---|---|
세부과제번호 | 10029943 |
연구과제명 | 고집적 ReRAM 소자 개발 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 광주과학기술원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200708~201107 |
기여율 | 0.33333334 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | NT(나노기술) |
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