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액정 패널의 화상 왜곡 분석 방법

  • 기술번호 : KST2015157323
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 LCD 패널 특성을 컴퓨터 모의 실험 방법 및 이를 이용한 시뮬레이터에 관한 것이다. 본 발명은 다양한 모드의 액정 셀 및 액정 셀, 편광판, 액정, 유리, 보상 필름 등 물질 정보를 바탕으로 인가 전압에 따른 액정 패널의 특성을 분석하고 인가된 전압 파형에 대해 시간 지연, 화상 왜곡 등을 분석할 수 있게 한다. 그 결과, LCD 패널의 전기 광학적 특성을 최적화시켜 제품의 설계 및 개발 시간 개발비용의 단축 및 절감을 제공함에 있다.편관, 액정, 디스플레이.
Int. CL G02F 1/13 (2006.01) G09G 3/36 (2006.01)
CPC G06F 17/5009(2013.01) G06F 17/5009(2013.01) G06F 17/5009(2013.01)
출원번호/일자 1020060057768 (2006.06.27)
출원인 인하대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0000180 (2008.01.02) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 인하대학교 산학협력단 대한민국 인천광역시 미추홀구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 원태영 대한민국 경기 화성시
2 김중식 대한민국 경기 고양시 일산서구

대리인

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2006.06.27 수리 (Accepted) 1-1-2006-0455340-67
2 출원인변경신고서
Applicant change Notification		 2006.07.26 수리 (Accepted) 1-1-2006-5059311-04
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.03.07 수리 (Accepted) 4-1-2008-0003929-31
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2008-5093865-89
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.11.17 수리 (Accepted) 4-1-2009-5220324-82
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5098802-16
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.09.05 수리 (Accepted) 4-1-2016-5127132-49
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.03.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5036549-31
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266647-91
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번호 청구항
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액정 패널의 화상 왜곡을 분석하는 방법에 있어서,액정의 디렉토 분포를 계산하는 단계;인가된 전압에 대한 전압 신호 지연을 계산하는 단계;화상 왜곡을 산출하는 단계;를 포함하는 패널 해석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.