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광섬유의 잔류응력 측정장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015174039
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광섬유를 제작하는 과정에서 발생하는 잔류응력(Residual Stress)을 측정하기 위한 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 위상 변조기를 포함하는 간섭계와 광원의 전면부에 편광조절부를 배열하여, 광원의 편광에 따른 광섬유 축 방향의 위상 분포(Axial Phase, δz)와 광섬유 단면 방향의 위상 분포(Transverse Phase, δ⊥)를 함께 측정 가능하게 하여, 측정된 광섬유 축 방향의 위상 분포와 단면 방향의 위상 분포로부터 광섬유 내에 존재하는 잔류응력 측정하는 광섬유의 잔류응력 측정장치 및 그 방법에 관한 것이다.이에 따른 본 발명의 광섬유의 잔류응력 측정장치는 광을 발생시키는 광 발생 부; 상기 광발생부에서 발생된 광을 평행광으로 전환하는 제1광조절부; 상기 제1광조절부에서 전환된 평행광의 편광을 광섬유 축 방향에 평행한 편광 및 광섬유 축 방향에 수직한 편광으로 변환하여 간섭계 부분에 입사시키는 편광조절부; 상기 편광조절부에 의해 편광된 평행광을 임의의 간섭패턴을 얻을 수 있도록 지연시키는 간섭계 부분; 상기 간섭계 부분을 통과한 광의 상태를 평행광으로 유지시켜 주는 제2광조절부; 및 상기 제2광조절부를 통과한 광에 의해 생기는 간섭무늬 이미지를 검출하여 측정함으로써 광섬유의 잔류응력을 측정하는 광검출 부분;를 포함하여 이루어지는 것을 특징적 구성으로 한다.잔류응력, 광섬유, 스트레스, 수직, 수평, 단면, 축
Int. CL G01L 11/00 (2006.01) G01L 1/00 (2006.01) G01L 1/24 (2006.01)
CPC G01N 21/01(2013.01) G01N 21/01(2013.01)
출원번호/일자 1020070004272 (2007.01.15)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자 10-0810867-0000 (2008.02.28)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080306) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.01.15)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김덕영 대한민국 광주 광산구
2 신인희 대한민국 광주 북구
3 이지용 대한민국 광주 북구
4 이동주 대한민국 광주 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김상철 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)(특허법인이상)
2 이재관 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)(특허법인이상)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2007.01.15 수리 (Accepted) 1-1-2007-0039408-61
2 대리인변경신고서
Agent change Notification		 2007.05.29 수리 (Accepted) 1-1-2007-0392028-50
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2007.11.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2007.12.05 수리 (Accepted) 9-1-2007-0071972-94
5 등록결정서
Decision to grant		 2008.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0049630-51
6 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)		 2009.05.13 수리 (Accepted) 1-1-2009-0286977-13
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.09.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5187089-85
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
광섬유의 잔류응력을 측정하기 위한 장치에 있어서,광을 발생시키는 광 발생 부;상기 광발생부에서 발생된 광을 평행광으로 전환하는 제1광조절부;상기 제1광조절부에서 전환된 평행광의 편광을 광섬유 축 방향에 평행한 편광 및 광섬유 축 방향에 수직한 편광으로 변환하여 간섭계 부분에 입사시키는 편광조절부;상기 편광조절부에 의해 편광된 평행광을 임의의 간섭패턴을 얻을 수 있도록 지연시키는 간섭계 부분;상기 간섭계 부분을 통과한 광의 상태를 평행광으로 유지시켜 주는 제2광조절부; 및상기 제2광조절부를 통과한 광에 의해 생기는 간섭무늬 이미지를 검출하여 측정함으로써 광섬유의 잔류응력을 측정하는 광검출 부분;를 포함하되, 상기 편광조절부를 회전시키며 광섬유 축 방향에 평행한 편광 및 광섬유 축 방향에 수직한 편광을 만드는 것을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 편광조절부에 의해 광섬유 축 방향에 평행한 편광을 가진 광이 간섭계를 통과한 후, 위상 변조기에 의해 만들어낸 간섭무늬 이미지로부터 광섬유 축 방향의 위상 분포(Axial Phase, δz)를 측정함을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 편광조절부에 의해 광섬유 축 방향에 수직한 편광을 가진 광이 간섭계를 통과한 후, 위상 변조기에 의해 만들어낸 간섭무늬 이미지로부터 광섬유 단면 방향의 위상 분포(Transverse Phase, δ⊥)를 측정함을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 장치
4 4
제2항 또는 제3항에 있어서, 측정된 광섬유 축 방향의 위상분포 분포(Axial Phase, δz)와 광섬유 단면 방향의 위상 분포(Transverse Phase, δ⊥)의 차(△δ=δz-δ⊥)를 이용하여 수학식1을 통해서 광섬유 내에 존재하는 잔류응력을 측정함을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 장치
5 5
광섬유의 잔류응력을 측정하기 위한 방법에 있어서,a) 광 발생 부를 이용하여 광을 발생시키는 단계;b) 상기 광발생부에서 발생된 광을 제1광조절부를 이용하여 평행광으로 전환하는 단계;c) 상기 제1광조절부에서 전환된 평행광의 편광을 편광조절부를 이용하여 광섬유 축 방향에 평행한 편광 및 광섬유 축 방향에 수직한 편광으로 변환하여 간섭계 부분에 입사시키는 단계;d) 상기 편광조절부에 의해 편광된 평행광을 간섭계 부분을 이용하여 임의의 간섭패턴을 얻을 수 있도록 지연시키는 단계;e) 상기 간섭계 부분을 통과한 광의 상태를 제2광조절부를 이용하여 평행광으로 유지시켜 주는 단계; 및f) 상기 제2광조절부를 통과한 광을 광검출 부분를 이용하여 간섭무늬 이미지를 검출하여 측정함으로써 광섬유의 잔류응력을 측정하는 단계를 포함하되,상기 c)에서 상기 편광조절부를 이용하여 광섬유 축 방향에 평행한 편광 및 광섬유 축 방향에 수직한 편광으로 변환하기 위해서 편광조절부를 회전시키는 단계를 더 포함한 것을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 방법
6 6
제5항에 있어서, 상기 편광조절부에 의해 광섬유 축 방향에 평행한 편광을 가진 광이 간섭계를 통과한 후, 위상 변조기에 의해 만들어낸 간섭무늬 이미지로부터 광섬유 축 방향의 위상 분포(Axial Phase, δz)를 측정함을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 방법
7 7
제5항에 있어서, 상기 편광조절부에 의해 광섬유 축 방향에 수직한 편광을 가진 광이 간섭계를 통과한 후, 위상 변조기에 의해 만들어낸 간섭무늬 이미지로부터 광섬유 단면 방향의 위상 분포(Transverse Phase, δ⊥)를 측정함을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 방법
8 8
제6항 또는 제7항에 있어서, 측정된 광섬유 축 방향의 위상분포 분포(Axial Phase, δz)와 광섬유 단면 방향의 위상 분포(Transverse Phase, δ⊥)의 차(△δ=δz-δ⊥)를 이용하여 수학식1을 통해서 광섬유 내에 존재하는 잔류응력을 측정함을 특징으로 하는 광섬유 잔류응력 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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