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편광 위상 현미경

  • 기술번호 : KST2014009774
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 표본을 정밀하게 관찰하기 위한 편광 위상 현미경에 관한 것이다. 보다 상세하게는 생체 세포의 구성요소들을 통과하는 빛의 위상 차이를 이용하여 생체 세포의 구조 및 변화를 관찰하는 것이 가능한 편광 위상 현미경에 관한 것이다. 본 발명은 관찰하고자 하는 표본에 대한 상을 획득하는 광학이미지 발생부와,상기 광학 이미지 발생부에서 획득한 상의 광선이 유입되는 물체 평면; 상기 물체 평면을 통과한 광선에 대한 1차 퓨리에 변환이 발생하는 제1 변환렌즈; 상기 제1 변환렌즈로부터 상기 제1 변환렌즈의 초점거리만큼 이격되어 위치한 λ/4 파장판;상기 λ/4 파장판을 통과한 광선에 대한 2차 퓨리에 변환이 발생하는 제2 변환렌즈; 및 상기 2차 퓨리에 변환이 이루어진 광선의 상이 맺히는 광검출기를 포함하는 위상 이미지 발생부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면 생체 세포와 같은 생물 표본에 대한 정량적인(quantitative) 위상 정보를 획득하여 상기 생체 세포의 구조 및 움직임을 관찰하는 것이 가능한 효과를 가진다.
Int. CL G02B 21/00 (2006.01) G02B 21/02 (2006.01) G02B 21/04 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020080005810 (2008.01.18)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자 10-0924574-0000 (2009.10.26)
공개번호/일자 10-2009-0079670 (2009.07.22) 문서열기
공고번호/일자 (20091030) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.01.18)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이지용 대한민국 광주광역시 북구
2 김덕영 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인우인 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 중평빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2008-0045040-94
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.11.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.12.05 수리 (Accepted) 9-1-2008-0078344-84
4 등록결정서
Decision to grant		 2009.10.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0424872-79
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.09.15 수리 (Accepted) 4-1-2011-5187089-85
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번호 청구항
1 1
관찰하고자 하는 표본에 대한 상을 획득하는 광학이미지 발생부와, 상기 광학 이미지 발생부에서 획득한 상의 광선이 유입되는 물체 평면; 상기 물체 평면을 통과한 광선에 대한 1차 퓨리에 변환이 발생하는 제1 변환렌즈; 상기 제1 변환렌즈로부터 상기 제1 변환렌즈의 초점거리만큼 이격되어 위치한 λ/4 파장판; 상기 λ/4 파장판을 통과한 광선에 대한 2차 퓨리에 변환이 발생하는 제2 변환렌즈; 및 상기 2차 퓨리에 변환이 이루어진 광선의 상이 맺히는 광검출기를 포함하는 위상 이미지 발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 편광 위상 현미경
2 2
제 1항에 있어서, 상기 λ/4 파장판은, 중앙부에 홀이 형성되는 것을 특징으로 하는 편광 위상 현미경
3 3
제1 항에 있어서, 상기 광학이미지 발생부는, 일정한 세기의 빛을 조사하는 광원, 표본을 거치하는 제물대, 상기 제물대를 통과한 광선을 집광시키는 대물렌즈, 상기 대물렌즈를 통과한 광선의 경로를 변환시키는 반사경, 및 상기 반사경에서 반사된 광선을 모아 중간상을 형성하는 튜브렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 편광 위상 현미경
4 4
제 1항에 있어서, 상기 위상 이미지 발생부는, 상기 물체 평면을 통과한 광선을 선택적으로 통과시키기 위하여 상기 제1 변환렌즈의 전단에 구비되는 편광자를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 편광 위상 현미경
5 5
제 4항에 있어서, 상기 편광자는, 상기 편광자를 회전시키기 위한 회전 부재가 결합되는 것을 특징으로 하는 편광 위상 현미경
6 6
제 4항에 있어서, 상기 편광자는, 회당 π/4 씩 회전하는 것을 특징으로 하는 편광 위상 현미경
7 7
제 1항에 있어서, 상기 광검출기는, 전하 결합 소자(Charge-coupled device)또는 CMOS인 것을 특징으로 하는 편광 위상 현미경
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