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전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015093453
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 기술에 관한 것으로, 전자파적합성(EMC) 분야에서 표준 전자파 발생장치로 사용되는 TEM 셀의 테이퍼 영역이나 GTEM 셀의 단면 구조에서 셀 내부에서의 TEM 모드 분포를 부수된 르장드르 함수(Associated Legendre Function)와 모드 정합 기법을 이용하여 해석하고 이를 기반으로 TEM 셀 및 GTEM 셀의 구조를 해석 및 설계하는 알고리즘을 생성하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, TEM 및 GTEM 셀 구조를 설계할 수 있는 알고리즘을 생성할 수 있으며, 이 알고리즘에 의한 해석 결과는 엄밀한 해석적인 해로서 수렴이 빠르고 수치 계산을 효율적으로 수행할 수 있으므로, TEM 셀의 테이퍼 영역이나 GTEM 셀 설계 및 성능 분석에 유용하게 사용할 수 있다.
Int. CL G06F 19/00 (2011.01) G06F 9/44 (2006.01)
CPC H05K 9/0069(2013.01) H05K 9/0069(2013.01) H05K 9/0069(2013.01)
출원번호/일자 1020110064682 (2011.06.30)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0003369 (2013.01.09) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권종화 대한민국 대전광역시 유성구
2 엄효준 미국 대전광역시 유성구
3 이성욱 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 제일특허법인(유) 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.06.30 수리 (Accepted) 1-1-2011-0501904-94
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2011.07.04 수리 (Accepted) 1-1-2011-0508096-15
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2012.03.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0229093-91
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.02.01 수리 (Accepted) 4-1-2013-5019983-17
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157968-69
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5158129-58
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.12.24 수리 (Accepted) 4-1-2014-5157993-01
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
9 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2016.05.12 수리 (Accepted) 1-1-2016-0452262-24
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
TEM 셀 또는 GTEM 셀의 정보를 입력 받는 수치 입력부와,상기 수치 입력부로부터 전달 받은 정보를 토대로 부수된 르장드르 함수(Associated Legendre Function)와 모드 정합 기법을 이용하여 TEM 모드를 해석하는 알고리즘을 생성하는 알고리즘 생성부를 포함하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 알고리즘 생성부는,TEM 셀의 테이퍼 영역이나 GTEM 셀의 단면구조 내 도체와 외벽 사이를 상하좌우 4개 영역으로 나누어 해석하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 알고리즘 생성부는,상기 4개 영역을 라플라스 방정식을 이용하여 정전기 포텐셜을 산출하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
4 4
제 3항에 있어서, 상기 알고리즘 생성부는,상기 4개 영역의 정전기 포텐셜을 6개의 이산 모드 계수로 나타내고, 상기 이산 모드 계수들은 상기 도체의 상하 경계 면에서 디리클레(Dirichlet) 경계조건과 노이만(Neumann) 경계조건을 적용하여 6개의 연립 방정식을 도출하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
5 5
제 4항에 있어서,상기 알고리즘 생성부는,상기 4개 영역 중 상 영역과 좌우 영역 사이에 상기 디리클레 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
6 6
제 4항에 있어서,상기 알고리즘 생성부는,상기 4개 영역 중 하 영역과 좌우 영역 사이에 상기 디리클레 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
7 7
제 4항에 있어서,상기 알고리즘 생성부는,상기 4개 영역 중 상 영역과 좌 영역 사이와, 상기 상 영역과 우 영역 사이에 상기 노이먼 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
8 8
제 4항에 있어서,상기 알고리즘 생성부는,상기 4개 영역 중 하 영역과 좌 영역 사이와, 상기 하 영역과 우 영역 사이에 상기 노이먼 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
9 9
제 3항에 있어서, 상기 알고리즘 생성부는,상기 6개의 연립 방정식을 행렬 방정식으로 산출하고,상기 행렬 방정식으로 6개의 이산 모드 계수를 구하여 상기 정전기 포텐셜을 산출하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
10 10
제 1항에 있어서, 상기 해석 알고리즘 생성 장치는,기 설정된 수치 또는 정의된 조건이 포함된 정보를 상기 알고리즘 생성부로 전달하는 수치 설정부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 장치
11 11
TEM 셀 또는 GTEM 셀의 정보를 전달 받는 과정과, 상기 전달 받은 정보를 토대로 부수된 르장드르 함수(Associated Legendre Function)와 모드 정합 기법을 이용하여 TEM 모드를 해석하는 알고리즘을 생성하는 과정을 포함하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
12 12
제 11항에 있어서,상기 알고리즘을 생성하는 과정은,TEM 셀의 테이퍼 영역이나 GTEM 셀의 단면구조 내 도체와 외벽 사이를 상하좌우 4개 영역으로 나누어 해석하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
13 13
제 12항에 있어서,상기 알고리즘을 생성하는 과정은,상기 4개 영역을 라플라스 방정식을 이용하여 정전기 포텐셜을 산출하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
14 14
제 13항에 있어서, 상기 알고리즘을 생성하는 과정은,상기 4개 영역의 정전기 포텐셜을 6개의 이산 모드 계수로 나타내고, 상기 이산 모드 계수들은 상기 도체의 상하 경계 면에서 디리클레(Dirichlet) 경계조건과 노이만(Neumann) 경계조건을 적용하여 6개의 연립 방정식을 도출하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
15 15
제 14항에 있어서,상기 알고리즘을 생성하는 과정은,상기 4개 영역 중 상 영역과 좌우 영역 사이에 상기 디리클레 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
16 16
제 14항에 있어서,상기 알고리즘을 생성하는 과정은,상기 4개 영역 중 하 영역과 좌우 영역 사이에 상기 디리클레 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
17 17
제 14항에 있어서,상기 알고리즘을 생성하는 과정은,상기 4개 영역 중 상 영역과 좌 영역 사이와, 상기 상 영역과 우 영역 사이에 상기 노이먼 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
18 18
제 14항에 있어서,상기 상기 알고리즘을 생성하는 과정은,상기 4개 영역 중 하 영역과 좌 영역 사이와, 상기 하 영역과 우 영역 사이에 상기 노이먼 경계 조건을 적용하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
19 19
제 13항에 있어서, 상기 알고리즘을 생성하는 과정은,상기 6개의 연립 방정식을 행렬 방정식으로 산출하고,상기 행렬 방정식으로 6개의 이산 모드 계수를 구하여 상기 정전기 포텐셜을 산출하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
20 20
제 11항에 있어서, 상기 해석 알고리즘 생성 방법은,기 설정된 수치 또는 정의된 조건이 포함된 정보를 전달 받는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 표준 발생장치의 해석 알고리즘 생성 방법
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1 US20130006553 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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1 US2013006553 US 미국 DOCDBFAMILY
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 방송통신위원회 한국전자통신연구원 정보통신산업원천기술개발사업 U-사회 전파환경 보호를 위한 전자파양립성 연구